JoVE Logo
Faculty Resource Center

Sign In

Элементаль чувствительных обнаружение химии в батареи через мягкие рентгеновской спектроскопии поглощения и резонансных неупругого рентгеновского рассеяния

DOI :

10.3791/57415-v

April 17th, 2018

April 17th, 2018

12,330 Views

1Geballe Laboratory for Advanced Materials, Stanford University, 2Advanced Light Source, Lawrence Berkeley National Laboratory, 3Department of Materials Science and Engineering, Binghamton University, 4School of Physics, National Key Laboratory of Crystal Materials, Shandong University, 5School of Advanced Materials, Peking University Shenzhen Graduate School, 6School of Metallurgy, Northeastern University, 7Department of Chemical Engineering, University of California-Santa Barbara

Здесь мы представляем протокол для типичных экспериментов мягкого рентгеновского абсорбционной спектроскопии (sXAS) и резонансных неупругого рассеяния рентгеновского (RIXS) с приложениями в батареи материала исследования.

Tags

134

-- Views

Related Videos

JoVE Logo

Privacy

Terms of Use

Policies

Research

Education

ABOUT JoVE

Copyright © 2024 MyJoVE Corporation. All rights reserved