Name: x-ray beam induced current measurements for multi-modal x-ray microscopy of solar cells
Uploaded: 2019-08-20T15:00:00
Duration: 10 s
Description: Watch this Scientific Journal Video about X-ray Beam Induced Current Measurements for Multi-Modal X-ray Microscopy of Solar Cells at JoVE.com

Мы высоко ценим Д. Гарревоэ, М. Сейриха, А. Шроппа, Д. Брюкнера, Д. Хагемана, К. Спайерса и Т. Бозе из Deutsches Elektronen-Synchrotron (DESY) и А. Колдица, Д. Сибельса, Д. Флюгге, К. Стрелоу, Т. Киппа поддерживающие измерения на лучевой линии P06 на PETRA III, DESY; М. Холт, К. Цай, М. Черукара и В. Роуз из Аргоннской национальной лаборатории (АНЛ) для поддержки измерений на линии луча 26-ID-C в Расширенном фотоном источнике (APS) в ANL; Д. Саломон и Р. Тукулу из Европейского синхротронного радиационного центра (ESRF) для вспомогательных измерений на лучевой линии ID16B в ESRF; Р. Фарщи, Д. Поплавский и Д. Бейли из корпорации MiaSolе Hi-Tech Corp. и Е. Аванчини, Я. Романюк, С. Бюхелер и А. Тивари из Швейцарской федеральной лаборатории материаловедения и техники (EMPA) за предоставление солнечных батарей. Мы признаем DESY (Гамбург, Германия), член Ассоциации Гельмгольца HGF, за предоставление экспериментальных объектов. Мы признаваем Европейский синхротронный радиационный центр (Гренобль, Франция) для обеспечения синхротронных радиационных установок. В этом исследовании использовались ресурсы Advanced Photon Source, Управления министерства энергетики США (DOE) Для Научного Фонда Пользователей, управляемого Для Управления науки Министерства энергетики По аргоннской национальной лаборатории по контракту No. ДЕ-AC02-06CH11357.

Авторам нечего раскрывать.

В мире, где спрос на электрическую энергию постоянно растет, чистый и устойчивый источник энергии становится все более необходимым. Одной из возможностей для решения этих требованийявляются фотоэлектрические (PV) системы 1,2,3. Для направленного и эффективного способа разработки солнечных элементов следующего поколения необходимо понять,как состав и структура солнечных элементов влияют на их работоспособность 4. Типичные вопросы в развитии солнечных батарей включают: Какие типы дефектов являются наиболее пагубными, и где они расположены5,6? Есть ли неоднородности в элементарном распределении, и каково их влияние7,8,9? Как изменяются солнечные элементы при сборке модуля и старении10,11?
Как солнечный элемент только так хорошо, как его слабая часть, это особенно важно, чтобы понять влияние композиционных и структурных изменений на производительность в поликристаллических солнечных элементов, которые страдают по своей сути от неоднородности7, 8. Это особенно верно для тонкопленочных (TF) солнечных элементов, которые содержат слои амортизатора с кристаллитными размерами в диапазоне микрометров. Здесь влияние границ зерна на производительность представляет наибольший интерес, но их небольшой размер и тот факт, что они похоронены во всем слое стека создают уникальные проблемы характеристики. Кроме того, сложная химия многокомпонентных абсорбаторных слоев с сосуществующими фазами и внутренними градиентами требует сложных методов характеристик12.
Синхротрон на основе жестких рентгеновских микроскопов способны решать проблемы характеристики TF солнечных элементов: они обеспечивают рентгеновские размеры пятна до нанометровой шкалы13,14,15,16 и Глубина проникновения жестких рентгеновских лучей позволяет зондировать различные слои устройства17,в том числе зарытые слои поглотителя. С богатством различных методов измерения при сканировании рентгеновского микроскопа, становится возможным одновременно изучать не только один, но и множество различных аспектов солнечных элементов в рамках мультимодальных измерений и соотнести наблюдаемые характеристики. Например, рентгеновский луч индуцированных тока (XBIC) измерения успешно сочетаются с рентгеновской флуоресценции (XRF)7,18,19, рентгеновский возбужденный оптический люминесценции (XEOL)20, 21, и рентгеновская дифракция (XRD)22 для корреляции электрической производительности с составом, оптической производительности и структуры, соответственно23.
Во время XBIC измерений солнечных элементов или других устройств в стадии тестирования (DUT)24,25, инцидент рентгеновских фотонов отправился частицы душ, состоящий из электронов и фотонов, в результате чего множество возбужденных электрон-отверстие пар на рентгеновский фотон инцидента в полупроводниковом амортизаторе. Наконец, пары электрон-дыры термически к краям полосы поглотителя солнечных элементов. Таким образом, эти рентгеновские возбужденных носителей заряда можно рассматривать как заряд носителей, которые генерируются поглощения фотонов с энергиями чуть выше bandgap во время нормальной работы солнечных батарей, и в результате тока или напряжения могут быть измерены как рентгеновский снимок пучок индуцированный ток23,26,27 или напряжения (XBIV)28,29 похожи на более распространенные измерения, как электронный луч индуцированного тока (EBIC) или лазерного луча индуцированного тока (LBIC). Следовательно, сигнал XBIC/XBIV зависит не только от толщины слоя амортизатора, но и от электрической производительности DUT, как на микроскопическом, так и на макроскопическом уровне, включая локальный диапазон, расщепление уровня Ферми и рекомбинацию. Таким образом, мы можем составить карту локальных вариаций эффективности сбора заряда,носителя, которая определяется как вероятность того, что внешне возбужденная пара электрон-дыры в слое амортизатора собирается при электрических контактах DUT.
Обратите внимание, что только электронные отверстия пары, которые генерируются в амортизатор слой DUT способствовать XBIC / XBIV сигнала. Зарядные носители, генерируемые в других слоях, таких как металлические контакты или субстрат, немедленно рекомбинируются, так как они не имеют возможности быть разделенными соединением. Таким образом, другие слои влияют только на измерения XBIC/XBIV с помощью вторичных эффектов, таких как паразитическое поглощение рентгеновских лучей или выброс вторичных фотонов и электронов, которые могут быть повторно поглощены в слое абсорбатора. В отличие от этого, все слои потенциально способствуют сигналу XRF.
Учитывая, что сигналы XBIC и XBIV могут быть небольшими (часто, вариации в суб-picoampere и нановольт диапазоне представляют интерес), сигналы легко похоронили в шуме. Поэтому мы предложили использовать усилитель блокировки для извлечения сигналов XBIC и XBIV30. Для этой цели входящий рентгеновский луч модулируется оптическим измельчительом, как указано на рисунке 1. Эта модуляция переносится на сигнал, производимый DUT. Перед покажем сигналом в усилитель блокировки (LIA) предварительно усилитель (PA) обычно используется для сопоставления интенсивности необработанного сигнала с диапазоном аналогового цифрового конвертера при входе цифровой LIA. LIA смешивает модулированный измерительный сигнал с эталонным сигналом. При использовании фильтра с низким проходом, только частоты, близкие к сигналу отсчета, проходят и усиливаются31. Это позволяет эффективно извисать сигнал XBIC или XBIV из шумного фона.
В протоколе мы вводим предпосылки и движения, необходимые для успешного измерения XBIC, включая необработанный сигнал (прямой ток, DC) и модулированный сигнал (переменный ток, переменная ток). Помимо описания технических деталей, мы обсуждаем установку XBIC в контексте мультимодальных измерений на балочной линии P06 на PETRA III13. Пожалуйста, обратите внимание, что, по сравнению с большинством лабораторных экспериментов, окружающая среда хижин на жестких рентгеновских нанозондов требует особого планирования и рассмотрения. В частности, мультимодальные измерения с разрешением нанометрового масштаба бросают вызов экспериментаторам с различными специфическими ограничениями. Например, электронный шум часто присутствует с большими амплитудами от пьезо-управляемых двигателей и другого оборудования, таких как источники питания детекторов. Кроме того, множество устройств и детекторов необходимо устроить по оптимизированной геометрии, не мешая друг другу и не вызывая вибраций. Рисунок 1 изображает типичную настройку для измерений XBIC в сочетании с XRF и измерениями рентгеновского рассеяния малого/широкого угла (SAXS/WAXS).

<table border="0" cellpadding="0" cellspacing="0" style="width:728px;" width="728">
	<tbody>
		<tr height="21">
			<td height="21" style="height:21px;width:300px;">BNC cabling and connectors</td>
			<td style="width:134px;"></td>
			<td style="width:123px;"></td>
			<td style="width:172px;">From generall cable suppliers</td>
		</tr>
		<tr height="21">
			<td height="21" style="height:21px;width:300px;">Chopper blade</td>
			<td style="width:134px;">Thorlabs</td>
			<td style="width:123px;">MC1F10HP</td>
			<td>Apart from technical compatibility of the chopper wheel with the chopper system, it should be checked that the chopper blade sufficiently blocks the X-ray beam.</td>
		</tr>
		<tr height="21">
			<td height="21" style="height:21px;width:300px;">Conductive silver paint</td>
			<td style="width:134px;">Conrad</td>
			<td style="width:123px;">530042</td>
			<td>Alternative products can be obtained from Pelco and others</td>
		</tr>
		<tr height="21">
			<td height="21" style="height:21px;width:300px;">Copper wires</td>
			<td style="width:134px;"></td>
			<td style="width:123px;"></td>
			<td>From cable suppliers for contacting of the solar cell</td>
		</tr>
		<tr height="21">
			<td height="21" style="height:21px;width:300px;">Current Preamplifier</td>
			<td style="width:134px;">Standford</td>
			<td style="width:123px;">SR570</td>
			<td>Alternatives include the Keithley 487 or 6487 Picoammeter.&#160;</td>
		</tr>
		<tr height="21">
			<td height="21" style="height:21px;width:300px;">Device under test (DUT)</td>
			<td style="width:134px;"></td>
			<td></td>
			<td>Suitable device for XBIC measurements.</td>
		</tr>
		<tr height="21">
			<td height="21" style="height:21px;width:300px;">Holder with printed circuit board</td>
			<td style="width:134px;"></td>
			<td style="width:123px;"></td>
			<td>Custom design</td>
		</tr>
		<tr height="21">
			<td height="21" style="height:21px;width:300px;">Kinematic sample mount</td>
			<td style="width:134px;">Thorlabs</td>
			<td style="width:123px;">KB25/M</td>
			<td>Optional, allows easy positioning and changing of sample. Alternatives include the M-BK-1A from Newport</td>
		</tr>
		<tr height="42">
			<td height="42" style="height:42px;width:300px;">Lock-in Amplifier</td>
			<td style="width:134px;">Zurich Instruments</td>
			<td style="width:123px;">UHFLI or MFLI</td>
			<td>Whereas the MFLI has current preamplifiers included, the UHFLI requires an external current preamplifier but offers more options. Therefore, the UHFLI was used for the presented experiment.</td>
		</tr>
		<tr height="42">
			<td height="42" style="height:42px;width:300px;">Measurement control/data acquisition unit</td>
			<td style="width:134px;"></td>
			<td style="width:123px;"></td>
			<td>Available at different synchrotrons.</td>
		</tr>
		<tr height="21">
			<td height="21" style="height:21px;width:300px;">Optical Chopper</td>
			<td style="width:134px;">Thorlabs</td>
			<td>MC2000B(-EC)</td>
			<td>Alternatives include the choppers SR540 from Stanford Research Systems, or model 3502 from Newport.</td>
		</tr>
		<tr height="21">
			<td height="21" style="height:21px;width:300px;">Polyimide tape</td>
			<td style="width:134px;"></td>
			<td style="width:123px;"></td>
			<td>Rolls with different widths and thicknesses are available</td>
		</tr>
		<tr height="21">
			<td height="21" style="height:21px;width:300px;">X-ray source</td>
			<td style="width:134px;"></td>
			<td style="width:123px;"></td>
			<td>Available at different synchrotrons</td>
		</tr>
	</tbody>
</table>

x-ray beam induced current measurements for multi-modal x-ray microscopy of solar cells

Рентгеновский луч индуцированных тока (XBIC) измерения позволяют отображение наноразмерных производительности электронных устройств, таких как солнечные батареи. В идеале XBIC используется одновременно с другими методами в рамках мультимодального подхода к рентгеновской микроскопии. Приведен пример, приведенный в настоящем месте, сочетающий XBIC с рентгеновской флуоресценцией, чтобы обеспечить точечную корреляцию электрической производительности с химическим составом. Для самого высокого соотношения сигнала к шуму в измерениях XBIC усиление блокировки играет решающую роль. При таком подходе рентгеновский луч модулируется оптическим вертолетом вверх по течению образца. Модулированный рентгеновский луч индуцированного электрического сигнала усиливается и модифицируется на частоту вертолета с помощью усилителя блокировки. Оптимизируя низкопроходимые настройки фильтра, частоту модуляции и амплимации, шум можно эффективно подавлять для извлечения четкого сигнала XBIC. Аналогичная установка может быть использована для измерения рентгеновского луча индуцированного напряжения (XBIV). Помимо стандартных измерений XBIC/XBIV, XBIC может быть измерен с прикладным светом или наклонным напряжением таким образом, чтобы условия работы солнечных батарей на открытом воздухе могли быть воспроизведены во время измерений на месте и операндо. В конечном счете, мультимодальная и многомерная оценка электронных устройств на наноуровне позволяет по-новому взглянуть на сложные зависимости между составом, структурой и производительностью, что является важным шагом на пути к решению материалов». Парадигмы.

Watch this Scientific Journal Video about X-ray Beam Induced Current Measurements for Multi-Modal X-ray Microscopy of Solar Cells at JoVE.com

X-ray Beam Induced Current Measurements for Multi-Modal X-ray Microscopy of Solar Cells

Описана установка рентгеновских лучей, индуцированных текущих измерений на синхротронных лучах. Он раскрывает наноразмерную производительность солнечных элементов и расширяет набор методов для мультимодальной рентгеновской микроскопии. От электропроводки до оптимизации сигнала и шума показано, как выполнять современные измерения XBIC на жестком рентгеновском микрозонде.

Рентгеновский луч индуцированных текущих измерений для мульти-модальной рентгеновской микроскопии солнечных клеток

X-ray beam induced current (XBIC) measurements allow mapping of&#160;the nanoscale performance of electronic devices such as solar cells. Ideally, XBIC is ...

Рентгеновские снимки вызывают ток во многих электронных устройствах. Очень похоже на видимые фотоны в фотоэлектрических солнечных батареях. Сигнал называется рентгеновским лучом индуцированного тока.Другими словами, испытательные устройства эксплуатируются как рентгеновские детекторы, и XBIC дает производительность локального устройства. XBIC сочетает в себе высокое специальное разрешение электронного луча индуцированного тока с высокой глубиной проникновения лазерного луча индуцированного тока. Эта комбинация дает локаленную производительность даже в различных структурах, как в инкапсулированных солнечных элементов с высоким разрешением.С помощью сигнала XBIC мы можем определить пространственно разрешенную эффективность сбора заряда, которая имеет решающее значение для электрической производительности полупроводниковых устройств. Таким образом, в принципе, измерения XBIC могут быть выполнены на всех системах, которые показывают электрическую реакцию на его пространстве, таких как солнечные батареи, рентгеновские детекторы, на нано проводах от полупроводников. Принимая XBIC измерений на самом деле удивительно просто, если вы будете следовать пути сигнала от устройства до усилителей и сбора данных.Начните с проектирования держателя образца, чтобы обеспечить максимальную свободу размещения различных детекторов в непосредственной близости. Установите держатель образца на кинематической основе, чтобы позволить легкое перепозиционирование образцов с микрометровым положением. Используйте печатную печатную плату, которая была разработана таким образом, чтобы она можно была использовать в качестве крепления для электронного устройства для измерений XBIC.Затем клей электронное устройство для тестирования на печатной платы. Обратите внимание, чтобы избежать короткого замыкания с помощью полиимидной ленты. Зафиксировать контактные провода также лентой.Подключите восходящий контакт, который сталкивается с инцидентом рентгеновского луча со щитом коаксиального кабеля. Затем соедините нисходящий контакт с ядром коаксиального кабеля. Затем смонтировать печатную печатную доску в держатель образца.Затем смонтировать держатель образца на стадии образца. Соедините образец через разъем BNC на выборочных креплениях. Распоить проводку так, чтобы ни одна монтажная часть или проводка не заблокировали рентгеновский луч инцидента или любой детектор.Убедитесь, что проводка образца снимается с напряжения, чтобы она не ограничивала движения образца. Убедитесь, что образец хорошо обоснован. Теперь поверните сцену так, что плоскость интереса перпендикулярно лучу инцидента.Это позволит свести к минимуму след луча и максимизировать пространственное разрешение. Если вы будете проводить мультимодальные измерения, поместите детекторы вокруг образца, например, для рентгеновских измерений флуоресценции. Затем измерьте амплитуду сигнала испытательного устройства для проверки диапазона сигнала в различных условиях.Поместите предварительный усилитель в непосредственной близости от образца и подключите его к блоку управления за пределами загона. Это позволит удаленным изменениям настройки без необходимости повторно входить в загон и автоматически сохранит настройки усиления. Подключите преду усилитель к чистой схеме питания и включите его.Убедитесь, что амплитуда сигнала испытательного устройства соответствует диапазону входных данных предварительного усилителя. Это хорошая практика, чтобы сохранить усиление предварительного усилителя при минимальной чувствительности, когда нет измерения происходит, чтобы избежать случайного перенасыщения. Теперь подключите тест-устройство к предварительному усилителю.Учитывая небольшую амплитуду сигнала, очень важно держать проводку короткой и на расстоянии от источников шума. Затем разделите предварительно усиленный сигнал на три параллельные ветви сигнала. Они используются для отдельной записи положительных и отрицательных значений постоянного тока, а также модулированных компонентов переменного тока.Подключите усилитель блокировки к блоку управления за пределами загона. Мощность его от чистой цепи питания. Убедитесь, что выход предварительного усилителя соответствует входу усилителя блокировки при всех условиях.Здесь максимальный выход предупротейматора составляет 10 вольт, но максимальный входной диапазон усилителя блокировки составляет 1,5 вольт. Поэтому проверьте амплитуду сигнала после предварительного усилителя и убедитесь, что диапазон ввода усилителя блокировки находится на максимуме. Затем подключите выход предварительного усилителя к входу усилителя блокировки.Наведать рентгеновский вертолет на моторизованную сцену с возможностью перемещения в и из рентгеновского луча и питания его с помощью контроллера вертолета. Подключите вертолет к блоку управления, в данном случае через усилитель блокировки. Затем привод оптического вертолета с частотой демодиляции усилителя блокировки.Затем подключите выход усилителя блокировки к преобразователь напряжения к частоте. Затем вывести корень-средний квадрат амплитуды R блокировки в усиленный сигнал в качестве аналогового сигнала переменного тока устройства. Убедитесь, что тестируемое устройство защищено от всех огней в загоне.Обыщите хижину. Пожалуйста, покинуть этот район. Внимание, пожалуйста, обратите внимание на включение.И включите рентгеновский луч. Если все настроено правильно, и рентгеновский луч попадает в образец, будет виден модулированный сигнал XBIC. Адаптация усиления предварительного усилителя и диапазона входных данных усилителя блокировки таким образом, чтобы они соответствовали.Убедитесь, что реакция предварительного усилителя достаточно быстра для выбранной частоты вертолета. Следует наблюдать прямоугольный сигнал XBIC. Если видна сильная задержка, необходимо уменьшить частоту вертолета или отрегулировать время повышения фильтра предварительного усилителя.Установите низкую частоту фильтра прохода усилителя блокировки до минимума, совместимого со скоростью сканирования. Затем максимизуйте усиленный сигнал по отношению к лучу соотношения и лучу, а также по отношению к соотношению сигнала к шуму. Установка теперь готова для измерений XBIC.Перейти к нетронутой месте на образец и начать измерение. Ключевым преимуществом использования усиления блокировки для измерений XBIC является резкое увеличение соотношения сигнала к шуму по сравнению с измерениями со стандартным усилением. Здесь предварительно усиленное устройство, на которое был обнаружен тестовый ответ, измеряется областью без включенного и с выключенным светом смещения.Несмотря на наличие сильного шума или обмана компонентов, вызванных смещения света или напряжения, можно извлечь модулированный рентгеновский луч индуцированного тока сигнала от фонового сигнала, даже если он на порядок меньше. Сравнивая эти два изображения, обратите внимание на офсетный сигнал порядка восьми милливольт, который смещается до минус 65 милливольт, включив смещенный свет от флуоресцентных труб. Кроме того, изменение сигнала в коротких временных масштабах значительно усиливается светом смещения.При соответствующих настройках можно смягчить как смещения, так и модуляцию высокой частоты. Тем не менее, все источники непреднамеренного смещения, такие как окружающее освещение и электромагнитный шум, должны быть устранены для наивысшего соотношения сигнала к шуму. Эти графики подчеркивают влияние смещения света и различные настройки низкого прохода фильтра на блокировку в усиливается Амплитуда RMS.Для высокой частоты сканирования фильтр низкого прохода должен быть как можно выше, но наивысшим сигналом к шумам, полученным с низкими частотами. В этом случае фильтр с низким проходом с отрезанной частотой, равной 10.27 Hertz, предложил лучший компромисс для сканирования при умеренных двух Герц. Здесь вы можете увидеть влияние усиления блокировки на соотношение сигнала к шуму в рентгеновских лучах, индуцированных текущими измерениями.Неточность прямого сигнала очевидна, и усиленный сигнал блокировки показывает прекрасные функции в хороших деталях. Для количественного анализа форма модулированный сигнал XBIC должна представлять форму модулированных рентгеновских интенсивности. Поэтому важно оптимизировать частоту вертолета и фильтры низкого прохода в связи с этим.Усиление блокировки позволяет измерять устройства в различных условиях. Например, мы можем применить смещения напряжения или смещения света. В конечном счете, это позволяет нам измерить всю IV кривую с высоким пространственным разрешением на нано ландшафта.XBIC особенно полезен, когда мы сочетаем его с другими методами. Например, с рентгеновской дифракцией флуоресценции, тахографией или рентгеновской оптической люминесценцией. Если мы объединим все это, мы сможем решить и деконволюция структуры композиции и производительности.Помимо общих мер предосторожности, которые должны быть приняты при работе с электрической энергией и интенсивными рентгеновскими лучами нет никакого конкретного риска при выполнении измерений XBIC для работы по крайней мере образец, однако, может умереть из-за радиационного повреждения. С ограниченными источниками дифракции, такими как petra four, рентгеновский поток нанофокуса увеличится на порядок. Это позволит повысить скорость измерения сигнала к соотношению шума и позволит совершенно новые эксперименты на месте и operando.

Research

Education

JoVE Core

JoVE Journal

Electrical Engineering

Engineering

Unit 1

DC Circuit Analysis

SCIENTISTS IN ACTION

Reservoir Condition Pore-scale Imaging of Multiple Fluid Phases Using X-ray Microtomography

Водохранилище Состояние пор масштаб Визуализация нескольких жидких фаз, используя рентгеновский микротомография

X-ray microtomography was used to image, at a resolution of 6.6 &#181;m, the pore-scale arrangement of residual carbon dioxide ganglia in the pore-space ...

Energy Dispersive X-ray Tomography for 3D Elemental Mapping of Individual Nanoparticles

Энергия рентгеновской томографии для 3D Elemental карт индивидуальных наночастицами

Energy dispersive X-ray spectroscopy within the scanning transmission electron microscope (STEM) provides accurate elemental analysis with high spatial ...

Failure Analysis of Batteries Using Synchrotron-based Hard X-ray Microtomography

Анализ отказов батарей с использованием синхротронного основе жесткого рентгеновского микротомография

Imaging morphological changes that occur during the lifetime of rechargeable batteries is necessary to understand how these devices fail. Since the advent ...

Measurement of X-ray Beam Coherence along Multiple Directions Using 2-D Checkerboard Phase Grating

Измерение рентгеновского луча когерентность вдоль нескольких направлениях с помощью 2-D Клетчатый фазовой дифракционной решетки

A procedure for a technique to measure the transverse coherence of synchrotron radiation X-ray sources using a single phase grating interferometer is ...

Speciation and Bioavailability Measurements of Environmental Plutonium Using Diffusion in Thin Films

Видообразования и биодоступности Измерения окружающей среды плутонием диффузия в тонких пленках

The biological uptake of plutonium (Pu) in aquatic ecosystems is of particular concern since it is an alpha-particle emitter with long half-life which can ...

Protocol of Electrochemical Test and Characterization of Aprotic Li-O2 Battery

Protocol of Electrochemical Test and Characterization of Aprotic Li-O2 Battery

Протокол испытаний Электрохимический и характеристика апротонных Li-O<sub&gt; 2</sub&gt; Аккумулятор

We demonstrate a method for electrochemical testing of an aprotic Li-O2 battery. An aprotic Li-O2 battery is made of a Li-metal anode, an aprotic ...

Dynamic Pore-scale Reservoir-condition Imaging of Reaction in Carbonates Using Synchrotron Fast Tomography

Динамический Поры масштабе пластового состояние визуализации реакции в карбонатных коллекторах с использованием синхротронного Fast томографии

Underground storage permanence is a major concern for carbon capture and storage. Pumping CO2 into carbonate reservoirs has the potential to dissolve ...

In Depth Analyses of LEDs by a Combination of X-ray Computed Tomography (CT) and Light Microscopy (LM) Correlated with Scanning Electron Microscopy (SEM)

In Depth Analyses of LEDs by a Combination of X-ray Computed Tomography CT and Light Microscopy LM Correlated with Scanning Electron Microscopy SEM

В Depth Анализы светодиодов с помощью комбинации рентгеновской компьютерной томографии (КТ) и световой микроскопии (LM) коррелируют с сканирующей электронной микроскопии (SEM)

In failure analysis, device characterization and reverse engineering of light emitting diodes (LEDs), and similar electronic components of ...

Digital Printing of Titanium Dioxide for Dye Sensitized Solar Cells

Цифровая печать диоксида титана для ячейка гретцеля

Silicon solar cell manufacturing is an expensive and high energy consuming process. In contrast, dye sensitized solar cell production is less ...

Applying X-ray Imaging Crystal Spectroscopy for Use as a High Temperature Plasma Diagnostic

Применение рентгеновской визуализации спектроскопии кристаллов для использования в качестве высокотемпературной плазмы диагностики

X-ray spectra provide a wealth of information on high temperature plasmas; for example electron temperature and density can be inferred from line ...