Name: in situ surface temperature measurement in a conveyor belt furnace via inline infrared thermography
Uploaded: 2020-05-30T13:00:00
Description: Watch this Scientific Journal Video about In Situ Surface Temperature Measurement in a Conveyor Belt Furnace via Inline Infrared Thermography at JoVE.com

Dit werk wordt ondersteund door het Duitse federale ministerie van Economische Zaken binnen het project "Feuerdrache" (0324205B). De auteurs bedanken de medewerkers die hebben bijgedragen aan dit werk en de projectpartners (InfraTec, Rehm Thermal Systems, Heraeus Noblelight, Trumpf Photonic Components) voor medefinanciering en uitstekende ondersteuning.

1. Installatie van IR-camera in een transportbandoven
<ol><li>Bepaal welk deel van de oven moet worden gemeten door de IR-camera. LET OP: Hier wordt gekozen voor de piekzone van het vuurproces (zie de oranje gemarkeerde zone in het vuurgebied van figuur 1A).</li>
	<li>Definieer het temperatuurbereik dat de IR-camera moet detecteren (bijvoorbeeld 700−900 °C, het typische piektemperatuurbereik van het vuurproces).</li>
	<li>Bepaal of schat op zijn minst (door middel va...

<ol>
	<li>Xu, J., Zhang, J., Kuang, K. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=.">.</a> Conveyor Belt Furnace Thermal Processing. , (2018).</li><li>Breitenstein, O., Warta, M. W. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=.">.</a> Langenkamp Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials. , (2010).</li><li>Ravindra, N. M., Ravindra, K., Mahendra, S., Sopori, B., Fiory, A. T. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=Modeling+and+Simulation+of+Emissivity+of+Silicon-Related+Materials+and+Structures.">Modeling and Simulation of Emissivity of Silicon-Related Materials and Structures.</a> Journal of Electronic Materials. 32 (10), 1052-1058 (2003).</li><li>Ourinson, D., et al. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=In+Situ+Solar+Wafer+Temperature+Measurement+during+Firing+Process+via+Inline+IR+Thermography.">In Situ Solar Wafer Temperature Measurement during Firing Process via Inline IR Thermography.</a> Physica Status Solidi (RRL) - Rapid Research Letters. 13 (10), 1900270 (2019).</li><li>Ourinson, D., et al. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=In-situ+wafer+temperature+measurement+during+firing+process+via+inline+infrared+thermography.">In-situ wafer temperature measurement during firing process via inline infrared thermography.</a> AIP Conference Proceedings. 2156, 020013 (2019).</li><li>Cooper, I. B., et al. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=Understanding+and+Use+of+IR+Belt+Furnace+for+Rapid+Thermal+Firing+of+Screen-Printed+Contacts+to+Si+Solar+Cells.">Understanding and Use of IR Belt Furnace for Rapid Thermal Firing of Screen-Printed Contacts to Si Solar Cells.</a> IEEE Electron Device Letters. 31 (5), 461-463 (2010).</li><li>Schubert, G., Huster, F., Fath, P. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=Physical+understanding+of+printed+thick-film+front+contacts+of+crystalline+Si+solar+cells-Review+of+existing+models+and+recent+developments.">Physical understanding of printed thick-film front contacts of crystalline Si solar cells-Review of existing models and recent developments.</a> Solar Energy Materials and Solar Cells. 90 (18-19), 3399-3406 (2006).</li><li>Rauer, M., et al. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=Aluminum+Alloying+in+Local+Contact+Areas+on+Dielectrically+Passivated+Rear+Surfaces+of+Silicon+Solar+Cells.">Aluminum Alloying in Local Contact Areas on Dielectrically Passivated Rear Surfaces of Silicon Solar Cells.</a> IEEE Electron Device Letters. 32 (7), 916-918 (2011).</li><li>Pawlik, M., Vilcot, J. -. P., Halbwax, M., Gauthier, M., Le Quang, N. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=Impact+of+the+firing+step+on+Al+2+O+3+passivation+on+p-type+Czochralski+Si+wafers:+Electrical+and+chemical+approaches.">Impact of the firing step on Al 2 O 3 passivation on p-type Czochralski Si wafers: Electrical and chemical approaches.</a> Japanese Journal of Applied Physics. 54 (8), 21 (2015).</li><li>Lee, B. J., Zhang, Z. M. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=RAD-PRO:+Effective+Software+for+Modeling+Radiative+Properties+in+Rapid+Thermal+Processing.">RAD-PRO: Effective Software for Modeling Radiative Properties in Rapid Thermal Processing.</a> 2005 13th International Conference on Advanced Thermal Processing of Semiconductors. , (2005).</li><li>. Temperature Measurements Available from: <a target="_blank" href="https://meettechniek.info/measuring/temperature.html">https://meettechniek.info/measuring/temperature.html</a> (2020)</li><li>Blakers, A. W., Wang, A., Milne, A. M., Zhao, J., Green, M. A. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=22.8%+efficient+silicon+solar+cell.">22.8% efficient silicon solar cell.</a> Applied Physics Letters. 55 (13), 1363-1365 (1989).</li><li>Dullweber, T., et al. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=PERC+:+industrial+PERC+solar+cells+with+rear+Al+grid+enabling+bifaciality+and+reduced+Al+paste+consumption.">PERC+: industrial PERC solar cells with rear Al grid enabling bifaciality and reduced Al paste consumption.</a> Progress in Photovoltaics: Research and Applications. 24 (12), 1487-1498 (2016).</li><li>Ourinson, D., Emanuel, G., Lorenz, A., Clement, F., Glunz, S. W. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=Evaluation+of+the+burnout+phase+of+the+contact+firing+process+for+industrial+PERC.">Evaluation of the burnout phase of the contact firing process for industrial PERC.</a> AIP Conference Proceedings. 2147 (1), 040015 (2019).</li></ol>

Gewoonlijk wordt de thermografietemperatuur gecorrigeerd via het meten en aanpassen van de optische parameters van het object, het overdraagbare venster en het pad en de omgevingstemperatuur van het object en het transmissive venster2. Als alternatieve methode wordt in dit protocol een temperatuurcorrectietechniek op basis van thermokoppelmetingen beschreven. Voor deze laatste methode is kennis van de hierboven genoemde parameters niet vereist. Voor de toepassing die hier wordt getoond, is deze me...

Procescontrole en kwaliteitsborging van objecten verwerkt in transportbanden1 is belangrijk en bereikt door het meten van de oppervlaktetemperatuur van het object. Momenteel wordt de temperatuur meestal gemeten door een thermokoppel1. Omdat thermokoppelmetingen contact met het object vereisen, beschadigen thermokoppels onvermijdelijk het object. Daarom is het gebruikelijk om representatieve monsters van een partij te kiezen voor temperatuurmetingen, die niet verder worden verwerkt omdat ze beschadigd raken. De gemeten temperaturen van deze beschadigde voorwerpen worden vervolgens gegeneraliseerd tot de resterende monsters van de partij, die verder worden verwerkt. Bijgevolg moet de productie worden onderbroken voor thermocouple metingen. Bovendien is het contact lokaal, moet het na elke meting worden aangepast en beïnvloedt het de lokale temperatuur.
Infrarood (IR) thermografie2 heeft een aantal voordelen ten opzichte van klassieke thermokoppelmetingen en vertegenwoordigt een contactloze, in-situ, real-time, tijdbesparende en ruimtelijk opgeloste temperatuurmeetmethode. Met deze methode kan elk monster van de partij, inclusief de monsters die verder worden verwerkt, worden gemeten zonder de productie te onderbreken. Daarnaast kan de oppervlaktetemperatuurverdeling worden gemeten, wat inzicht geeft in de temperatuurhomogeniteit tijdens het proces. De real-time functie maakt het mogelijk om de temperatuurinstellingen on-the-fly te corrigeren. Tot nu toe zijn de mogelijke redenen voor het niet gebruiken van IR-thermografie in transportbanden 1) onbekende optische parameters van hete objecten (met name voor niet-metalen3) en 2) parasitaire omgevingsstraling in de oven (d.w.z. gereflecteerde straling gedetecteerd door de IR-camera naast de uitgezonden straling van het object), wat leidt tot valse temperatuuroutput2.
Hier, als een representatief proof-of-concept voorbeeld van IR thermografie in een transportband oven, hebben we met succes geïnstalleerd een inline thermografie systeem in een IR-lamp aangedreven zonne-vuren oven (Figuur 1), die wordt gebruikt tijdens het contact bakken proces van industriële Si zonnecellen (Figuur 2A, B)4,5. Het vuurproces is een cruciale stap aan het einde van de industriële zonnecelproductie6. Tijdens deze stap worden de contacten van de celgevormd 7,8en oppervlaktepassivatie wordt geactiveerd9. Om dit laatste succesvol te bereiken, moet het tijdstemperatuurprofiel tijdens het afvuren(figuur 2C)nauwkeurig worden gerealiseerd. Daarom is voldoende en efficiënte temperatuurregeling vereist. Dit protocol beschrijft hoe u een IR-camera in een transportbandoven installeert, een klantcorrectie van een in de fabriek gekalibreerde IR-camera uitvoert en de ruimtelijke oppervlaktetemperatuurverdeling van een doelobject evalueert.

<table border="0" cellpadding="0" cellspacing="0" style="width:665px;" width="665">
	<colgroup>
		<col />
		<col />
		<col />
		<col />
	</colgroup>
	<tbody>
		<tr height="42">
			<td height="42" style="height:42px;width:216px;">Datalogger incl. Thermal barrier</td>
			<td style="width:121px;">Datapaq Ltd.</td>
			<td style="width:161px;"></td>
			<td style="width:167px;"></td>
		</tr>
		<tr height="42">
			<td height="42" style="height:42px;width:216px;">IR thermography camera &#34;Image IR 8300&#34;</td>
			<td style="width:121px;">InfraTec GmbH</td>
			<td style="width:161px;"></td>
			<td></td>
		</tr>
		<tr height="42">
			<td height="42" style="height:42px;width:216px;">IR thermography software &#34;IRBIS Professional 3.1&#34;</td>
			<td style="width:121px;">InfraTec GmbH</td>
			<td style="width:161px;"></td>
			<td></td>
		</tr>
		<tr height="21">
			<td height="21" style="height:21px;width:216px;">Solar cells</td>
			<td style="width:121px;">Fraunhofer ISE</td>
			<td style="width:161px;"></td>
			<td></td>
		</tr>
		<tr height="42">
			<td height="42" style="height:42px;width:216px;">Solar firing furnace &#34;RFS 250 Plus&#34;</td>
			<td style="width:121px;">Rehm Thermal Systems GmbH</td>
			<td style="width:161px;"></td>
			<td></td>
		</tr>
		<tr height="21">
			<td height="21" style="height:21px;width:216px;">Sheath thermocouples type K</td>
			<td style="width:121px;">TMH GmbH</td>
			<td style="width:161px;"></td>
			<td></td>
		</tr>
		<tr height="42">
			<td height="42" style="height:42px;width:216px;">Thermocouple quartzframe</td>
			<td style="width:121px;">Heraeus Noblelight GmbH</td>
			<td style="width:161px;"></td>
			<td></td>
		</tr>
	</tbody>
</table>

in situ surface temperature measurement in a conveyor belt furnace via inline infrared thermography

Het meten van de oppervlaktetemperatuur van objecten die worden verwerkt in transportbanden is een belangrijk hulpmiddel bij procescontrole en kwaliteitsborging. Momenteel wordt de oppervlaktetemperatuur van objecten verwerkt in transportbanden meestal gemeten via thermokoppels. Infrarood (IR) thermografie biedt echter meerdere voordelen in vergelijking met thermokoppelmetingen, omdat het een contactloze, real-time en ruimtelijk opgeloste methode is. Hier, als een representatief proof-of-concept voorbeeld, een inline thermografie systeem is met succes geïnstalleerd in een IR-lamp aangedreven zonne-vuren oven, die wordt gebruikt voor het contact bakken proces van industriële Si zonnecellen. Dit protocol beschrijft hoe u een IR-camera in een transportbandoven installeert, een klantcorrectie van een in de fabriek gekalibreerde IR-camera uitvoert en de evaluatie van de verdeling van de ruimtelijke oppervlaktetemperatuur op een doelobject uitvoert.

Zoals blijkt uit figuur 3B−D, het voorbeeldobject (hier, een silicium zonnecel; strikt genomen, een passivated emitter en achtercel [PERC]12; Figuur 2A,B) kan duidelijk worden gedetecteerd door de IR-camera in verschillende configuraties4. De verschillende configuraties zijn monofacially gemetalliseerd (figuur 3B), bifacially gemetalliseerd<sup class...

Watch this Scientific Journal Video about In Situ Surface Temperature Measurement in a Conveyor Belt Furnace via Inline Infrared Thermography at JoVE.com

In Situ Surface Temperature Measurement in a Conveyor Belt Furnace via Inline Infrared Thermography

Dit protocol beschrijft hoe u een infraroodcamera in een transportbandoven installeert, een klantcorrectie van een in de fabriek gekalibreerde IR-camera uitvoert en de ruimtelijke oppervlaktetemperatuurverdeling van een interessant object evalueert. De voorbeeldobjecten zijn industriële silicium zonnecellen.

In Situ Oppervlaktetemperatuurmeting in een transportbandoven via inline infrarood thermografie

Measuring the surface temperature of objects that are processed in conveyor belt furnaces is an important tool in process control and quality assurance. ...

Omdat het cruciaal is om de temperatuur van de objecten verwerkt in inline ovens te meten, presenteren we hier inline thermografie als een veelbelovend alternatief voor klassieke temperatuurmetingen door thermokoppels. Thermokoppels beschadigen het object, meten de temperatuur lokaal en vereisen een productieonderbreking. Onze inline thermografiecamera meet echter de objecttemperatuur op een contactloze, real-time, ruimtelijk opgeloste manier.We gebruiken inline ovens voor contact bakken van silicium zonnecellen. Daarom hebben we een thermografie camera inline geïnstalleerd in onze oven om deze voordelen te onderzoeken. Selecteer een camera met een detectiegolflengtebereik dat zoveel mogelijk overeenkomt met het golflengtebereik van de hoogste emissie van het object dat van belang is voor het temperatuurbereik.Als u de camera buiten de ovenkamer wilt installeren, verwijdert u de ovenwand en isolatie op de plaats waar het optische pad zich moet bevinden, waardoor storende voorwerpen, zoals infraroodlampen, in het optische pad worden vermeden. Sluit het gat met een venster dat de ovenkamer thermisch isoleert terwijl het zo transparant mogelijk is voor het detectiegolflengtebereik van de camera. Plaats vervolgens de camera boven de ramen, zodat de camera een beeld heeft van de bewegende riem.Vermijd zoveel mogelijk parasitaire stralingsdetectie door de camera door objecten in de buurt te vermijden die straling uitzenden of reflecteren in het detectiegolflengtebereik van de camera. Bestudeer vervolgens het thermografiebeeld via de infraroodcamerasoftware om het resulterende gezichtsveld van de camera te controleren. Voor een klant temperatuurcorrectie voor Silicium zonnecellen, controleer eerst de zonnecel voor lokale optische artefacten.Aangezien de temperatuurcorrectie is gebaseerd op thermokoppels, om de geldigheid van het thermokoppel te controleren, monteer het thermokoppel aan de achterste aluminiumzijde van de wafer en meet u het tijdstemperatuurprofiel voor een standaard vuurproces. Als het tijdstemperatuurprofiel een verstoring in de vorm van een vlakkere curve vertoont bij de aluminium silicium eutectische temperatuur van 577 graden Celsius, is het thermokoppel waarschijnlijk correct gekalibreerd. Voer thermocouple metingen uit met het gevalideerde thermokoppel dat aan de achterzijde van de zonnecel is gemonteerd en neem de wafer op met de infraroodcamera.Voer meerdere thermocouple metingen uit in het temperatuurbereik van belang op dezelfde objectspot en op ruimtelijk verschillende willekeurige objectplekken om statistisch significante tijdtemperatuurprofielen te verkrijgen. Om de lokale ongecorrigeerde thermografie zonneceltemperatuur onder het thermokoppel te bepalen, moet u de lokale temperatuur op de positie van het thermokoppel extraheren. Log de gemeten temperaturen via thermokoppels tegen de vastgestelde temperaturen via ongecorrigeerde infrarood thermografie, en het verkrijgen van een curve passen als een algemene uniforme globale correctie formule voor de ongecorrigeerde thermografie beeld.Gebruik vervolgens deze curve fit-gegevens om de ongecorrigeerde thermografieafbeelding wereldwijd te corrigeren. Als u een tweedimensionale piektemperatuurverdelingskaart wilt maken, schrijft u een script in een geschikte programmeertaal om de oppervlaktetemperatuur voor de oppervlaktespot van elk object langs het gehele cameraveld te volgen om op te treden als een virtueel thermokoppel dat tegelijkertijd op alle waferplekken wordt geplaatst. Haal vervolgens de piektemperatuurwaarde voor elke plek eruit en plot deze temperaturen in een overeenkomstige 2D-distributiekaart.Als u een gemiddelde temperatuurverdeling in de doorvoerrichting wilt uitvoeren, bedraagt de gemiddelde verdeling van de 2D-temperatuur in de dimensie loodrecht op de doorvoerrichting. Als u een gemiddelde temperatuurverdeling wilt uitvoeren die loodrecht staat op de doorvoerrichting, gemiddelde u de 2D-temperatuurverdeling in de dimensie in de doorvoerrichting. Zoals aangetoond in deze figuur, kan de gecorrigeerde temperatuur van deze Silicon zonnecel duidelijk worden gedetecteerd door de infrarood camera in verschillende configuraties.Monofacially gemetaliseerd, bifacially gemetaliseerd, en niet-gemetalliseerde perk monsters. In deze analyses leek het temperatuurbereik op het typische piektemperatuurbereik van het afvurenproces. Zoals waargenomen in dit beeld, het contact thermokoppel aan de achterzijde van de zonnecel veroorzaakt een temperatuurdaling om zich heen, waarschijnlijk als gevolg van warmteafvoer en schaduw.Deze laatste druppel is belangrijk voor het schatten van de celtemperatuur tijdens het afvuren zonder thermokoppels, in vergelijking met de temperatuur gemeten door het thermokoppel, zoals voor deze cel die op een frame wordt geplaatst wanneer het wordt gecontacteerd door een thermokoppel. Indien direct op de band geplaatst, maakt de infraroodcamera observatie van de lokale warmteafvoer van de cellen door de transportband mogelijk. Dit beeld toont een representatieve tweedimensionale ruimtelijke zonnecel piektemperatuurverdeling, en de afgeleide gemiddelde verdeling in en loodrecht op de transportrichting.Als we gebruik maken van inline ovens voor contact afvuren van silicium zonnecellen, installeerden we een infrarood camera in onze oven om een innovatieve thermografie applicatie te creëren. Het verkrijgen van ruimtelijk opgeloste piektemperatuurverdelingen tijdens het afvuren proces maakt het onderzoek van de temperatuur verdeling correlaties aan de ruimte opgeloste zonnecel parameters die aanzienlijk worden uitgevoerd door het afvuren.

Research

JoVE Journal

Engineering

In-situ Tapering of Chalcogenide Fiber for Mid-infrared Supercontinuum Generation

In-situ Tapering of Chalcogenide Fiber for Mid-infrared Supercontinuum Generation

In-situ Tapering van Chalcogenide Fiber for Mid-infrarood supercontinuum Generation

Supercontinuum  generation (SCG) in a tapered chalcogenide fiber is desirable for broadening mid-infrared  (or mid-IR, roughly the 2-20 &mu;m wavelength ...

Fabrication and Operation of a Nano-Optical Conveyor Belt

Fabricage en exploitatie van een Nano-Optical transportband

The technique of using focused laser beams to trap and exert forces on small particles has enabled many pivotal discoveries in the nanoscale biological ...

Advanced Experimental Methods for Low-temperature Magnetotransport Measurement of Novel Materials

Geavanceerde experimentele methoden voor lage-temperatuur magnetotransport Meting van nieuwe materialen

Novel electronic materials are often produced for the first time by synthesis processes that yield bulk crystals (in contrast to single crystal thin film ...

The Measurement of Unsteady Surface Pressure Using a Remote Microphone Probe

De meting van Unsteady Surface Pressure Met behulp van een Remote Microphone Probe

Microphones are widely applied to measure pressure fluctuations at the walls of solid bodies immersed in turbulent flows. Turbulent motions with various ...

Optical Trap Loading of Dielectric Microparticles In Air

Optische val Laden van diëlektrische micropartikels in Air

We demonstrate a method to trap a selected dielectric microparticle in air using radiation pressure from a single-beam gradient optical trap. Randomly ...

Recombination Dynamics in Thin-film Photovoltaic Materials via Time-resolved Microwave Conductivity

Recombinatie Dynamiek in dunne-film Photovoltaic Materials via Tijdopgeloste Magnetron geleidbaarheid

A method for investigating recombination dynamics of photo-induced charge carriers in thin film semiconductors, specifically in photovoltaic materials ...

High Temperature Fabrication of Nanostructured Yttria-Stabilized-Zirconia (YSZ) Scaffolds by In Situ Carbon Templating Xerogels

High Temperature Fabrication of Nanostructured Yttria-Stabilized-Zirconia YSZ Scaffolds by In Situ Carbon Templating Xerogels

High Temperature Fabricage van nanostructuur yttriumoxide-gestabiliseerde Zirconia (YSZ) Steigers door<em&gt; In Situ</em&gt; Carbon Templating xerogels

We demonstrate a method for the high temperature fabrication of porous, nanostructured yttria-stabilized-zirconia (YSZ, 8 mol% yttria - 92 mol% zirconia) ...

Preparation and High-temperature Anti-adhesion Behavior of a Slippery Surface on Stainless Steel

Voorbereiding en hoge-temperatuur-Anti-adhesie gedrag van een glad oppervlak op roestvast staal

Anti-adhesion surfaces with high-temperature resistance have a wide application potential in electrosurgical instruments, engines, and pipelines. A ...

Generation of Size-controlled Poly (ethylene Glycol) Diacrylate Droplets via Semi-3-Dimensional Flow Focusing Microfluidic Devices

Generation of Size-controlled Poly ethylene Glycol Diacrylate Droplets via Semi-3-Dimensional Flow Focusing Microfluidic Devices

Generatie van grootte bestuurde Poly (ethyleen Glycol) Diacrylate druppels via Semi-3-dimensionale Flow gericht Microfluidic apparaten

Uniform and size-controllable poly (ethylene glycol) diacrylate (PEGDA) droplets could be produced via the flow focusing process in a microfluidic device. ...

Near-Infrared Temperature Measurement Technique for Water Surrounding an Induction-heated Small Magnetic Sphere

Nabij-infrarood temperatuur meting techniek voor het Water rondom een inductie-verwarmd kleine magnetische bol

A technique to measure the temperature of water and non-turbid aqueous media surrounding an induction-heated small magnetic sphere is presented. This ...