Name: in situ surface temperature measurement in a conveyor belt furnace via inline infrared thermography
Uploaded: 2020-05-30T13:00:00
Description: Watch this Scientific Journal Video about In Situ Surface Temperature Measurement in a Conveyor Belt Furnace via Inline Infrared Thermography at JoVE.com

Bu çalışma, "Feuerdrache" (0324205B) projesi kapsamında Almanya Federal Ekonomik İşler Bakanlığı tarafından desteklenmiştir. Yazarlar bu çalışmada emeği geçen iş arkadaşlarına ve proje ortaklarına (InfraTec, Rehm Thermal Systems, Heraeus Noblelight, Trumpf Photonic Components) ortak finansman ve olağanüstü destek sağladıklarından dolayı teşekkür eder.

1. Ir kameranın konveyör bant fırınına montajı
<ol><li>Fırının hangi bölümünün IR kamera ile ölçüleceğine karar verin. NOT: Burada, ateşleme işleminin en yüksek bölgesi seçilir (Bkz. Şekil 1A'nınateşleme alanındaki turuncu vurgulu bölge).</li>
	<li>IR kamerasının tespit etmesi gereken sıcaklık aralığını tanımlayın (örneğin, 700−900 °C, ateşleme işleminin tipik en yüksek sıcaklık aralığı).</li>
	<li>İlgi sıcaklığı (b...

<ol>
	<li>Xu, J., Zhang, J., Kuang, K. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=.">.</a> Conveyor Belt Furnace Thermal Processing. , (2018).</li><li>Breitenstein, O., Warta, M. W. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=.">.</a> Langenkamp Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials. , (2010).</li><li>Ravindra, N. M., Ravindra, K., Mahendra, S., Sopori, B., Fiory, A. T. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=Modeling+and+Simulation+of+Emissivity+of+Silicon-Related+Materials+and+Structures.">Modeling and Simulation of Emissivity of Silicon-Related Materials and Structures.</a> Journal of Electronic Materials. 32 (10), 1052-1058 (2003).</li><li>Ourinson, D., et al. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=In+Situ+Solar+Wafer+Temperature+Measurement+during+Firing+Process+via+Inline+IR+Thermography.">In Situ Solar Wafer Temperature Measurement during Firing Process via Inline IR Thermography.</a> Physica Status Solidi (RRL) - Rapid Research Letters. 13 (10), 1900270 (2019).</li><li>Ourinson, D., et al. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=In-situ+wafer+temperature+measurement+during+firing+process+via+inline+infrared+thermography.">In-situ wafer temperature measurement during firing process via inline infrared thermography.</a> AIP Conference Proceedings. 2156, 020013 (2019).</li><li>Cooper, I. B., et al. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=Understanding+and+Use+of+IR+Belt+Furnace+for+Rapid+Thermal+Firing+of+Screen-Printed+Contacts+to+Si+Solar+Cells.">Understanding and Use of IR Belt Furnace for Rapid Thermal Firing of Screen-Printed Contacts to Si Solar Cells.</a> IEEE Electron Device Letters. 31 (5), 461-463 (2010).</li><li>Schubert, G., Huster, F., Fath, P. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=Physical+understanding+of+printed+thick-film+front+contacts+of+crystalline+Si+solar+cells-Review+of+existing+models+and+recent+developments.">Physical understanding of printed thick-film front contacts of crystalline Si solar cells-Review of existing models and recent developments.</a> Solar Energy Materials and Solar Cells. 90 (18-19), 3399-3406 (2006).</li><li>Rauer, M., et al. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=Aluminum+Alloying+in+Local+Contact+Areas+on+Dielectrically+Passivated+Rear+Surfaces+of+Silicon+Solar+Cells.">Aluminum Alloying in Local Contact Areas on Dielectrically Passivated Rear Surfaces of Silicon Solar Cells.</a> IEEE Electron Device Letters. 32 (7), 916-918 (2011).</li><li>Pawlik, M., Vilcot, J. -. P., Halbwax, M., Gauthier, M., Le Quang, N. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=Impact+of+the+firing+step+on+Al+2+O+3+passivation+on+p-type+Czochralski+Si+wafers:+Electrical+and+chemical+approaches.">Impact of the firing step on Al 2 O 3 passivation on p-type Czochralski Si wafers: Electrical and chemical approaches.</a> Japanese Journal of Applied Physics. 54 (8), 21 (2015).</li><li>Lee, B. J., Zhang, Z. M. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=RAD-PRO:+Effective+Software+for+Modeling+Radiative+Properties+in+Rapid+Thermal+Processing.">RAD-PRO: Effective Software for Modeling Radiative Properties in Rapid Thermal Processing.</a> 2005 13th International Conference on Advanced Thermal Processing of Semiconductors. , (2005).</li><li>. Temperature Measurements Available from: <a target="_blank" href="https://meettechniek.info/measuring/temperature.html">https://meettechniek.info/measuring/temperature.html</a> (2020)</li><li>Blakers, A. W., Wang, A., Milne, A. M., Zhao, J., Green, M. A. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=22.8%+efficient+silicon+solar+cell.">22.8% efficient silicon solar cell.</a> Applied Physics Letters. 55 (13), 1363-1365 (1989).</li><li>Dullweber, T., et al. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=PERC+:+industrial+PERC+solar+cells+with+rear+Al+grid+enabling+bifaciality+and+reduced+Al+paste+consumption.">PERC+: industrial PERC solar cells with rear Al grid enabling bifaciality and reduced Al paste consumption.</a> Progress in Photovoltaics: Research and Applications. 24 (12), 1487-1498 (2016).</li><li>Ourinson, D., Emanuel, G., Lorenz, A., Clement, F., Glunz, S. W. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=Evaluation+of+the+burnout+phase+of+the+contact+firing+process+for+industrial+PERC.">Evaluation of the burnout phase of the contact firing process for industrial PERC.</a> AIP Conference Proceedings. 2147 (1), 040015 (2019).</li></ol>

Genellikle, termografi sıcaklığı ölçme ve nesnenin optik parametreleri adapte, transmissive pencere ve yol ve nesnenin çevre sıcaklığı ve transmissive pencere2düzeltilir. Alternatif bir yöntem olarak, termokupl ölçümlerine dayalı bir sıcaklık düzeltme tekniği bu protokolde tanımlanmıştır. İkinci yöntem için, yukarıda belirtilen parametrelerin bilgisi gerekli değildir. Burada gösterilen uygulama için bu yöntem yeterlidir. Ancak, termokupl yönteminin konveyör bant ...

Konveyör bant fırın1'de işlenen nesnelerin proses1 kontrolü ve kalite güvencesi, nesnenin yüzey sıcaklığının ölçülmesi ile önemlidir ve gerçekleştirilir. Şu anda, sıcaklık genellikle bir termokupl1ile ölçülür. Termokupl ölçümleri nesneyle temas gerektirdiğinden, termokupllar kaçınılmaz olarak nesneye zarar verir. Bu nedenle, sıcaklık ölçümleri için bir toplu iş temsili örnekleri seçmek yaygındır, onlar zarar beri daha fazla işlenmez. Bu hasarlı nesnelerin ölçülen sıcaklıkları daha sonra daha fazla işlenir toplu kalan örnekleriçin genelleştirilmiştir. Buna göre termokupl ölçümleri için üretimin kesilmesi gerekmektedir. Ayrıca, temas yerel, her ölçümden sonra düzeltilmesi gerekir ve yerel sıcaklığı etkiler.
Kızılötesi (IR) termografi2 klasik termokupl ölçümlerine göre bir takım avantajlara sahiptir ve temassız, yerinde, gerçek zamanlı, zaman kazandıran ve mekansal olarak çözülmüş sıcaklık ölçüm yöntemini temsil eder. Bu yöntem kullanılarak, daha fazla işlenmiş olanlar da dahil olmak üzere toplu işlemin her örneği üretimi kesintiye uğratmadan ölçülebilir. Buna ek olarak, yüzey sıcaklık dağılımı ölçülebilir, bu da işlem sırasında sıcaklık homojenliğine ışık sağlar. Gerçek zamanlı özellik, sıcaklık ayarlarının anında düzeltilmesine olanak tanır. Şimdiye kadar, konveyör bant fırınlarında IR termografisi kullanılmaması için olası nedenler 1) sıcak nesnelerin bilinmeyen optik parametreleri (özellikle ametaller için3)ve 2) fırında parazitik çevresel radyasyon (yani, nesneden yayılan radyasyona ek olarak IR kamera tarafından tespit yansıyan radyasyon), hangi yanlış sıcaklıkçıkışı2 yol açar .
Burada, bir konveyör bant fırınında IR termografisinin temsili bir kanıtı olarak, endüstriyel Si güneş pillerinin temas ateşleme işlemi sırasında kullanılan IR lambası ile çalışan güneş fırınına(Şekil 1)bir sıralı termografi sistemi kurduk (Şekil 2A,B)4,5. Ateşleme süreci endüstriyel güneş piliüretimi6 sonunda önemli bir adımdır. Bu adımda hücrenin kontakları7,8oluşur ve yüzey pasifasyonu9'daaktive edilir. İkincisini başarılı bir şekilde başarmak için, ateşleme işlemi sırasındaki zaman sıcaklığı profilinin(Şekil 2C)doğru bir şekilde gerçekleştirilmesi gerekir. Bu nedenle yeterli ve verimli sıcaklık kontrolü gereklidir. Bu protokol, bir konveyör bant fırınına ir kamera nın nasıl yerleştirilmeyeceği, fabrikada kalibre edilmiş bir IR kameranın müşteri düzeltmesinin nasıl yapılacağını ve hedef nesnenin mekansal yüzey sıcaklık dağılımının nasıl değerlendirilebildiğini açıklar.

<table border="0" cellpadding="0" cellspacing="0" style="width:665px;" width="665">
	<colgroup>
		<col />
		<col />
		<col />
		<col />
	</colgroup>
	<tbody>
		<tr height="42">
			<td height="42" style="height:42px;width:216px;">Datalogger incl. Thermal barrier</td>
			<td style="width:121px;">Datapaq Ltd.</td>
			<td style="width:161px;"></td>
			<td style="width:167px;"></td>
		</tr>
		<tr height="42">
			<td height="42" style="height:42px;width:216px;">IR thermography camera &#34;Image IR 8300&#34;</td>
			<td style="width:121px;">InfraTec GmbH</td>
			<td style="width:161px;"></td>
			<td></td>
		</tr>
		<tr height="42">
			<td height="42" style="height:42px;width:216px;">IR thermography software &#34;IRBIS Professional 3.1&#34;</td>
			<td style="width:121px;">InfraTec GmbH</td>
			<td style="width:161px;"></td>
			<td></td>
		</tr>
		<tr height="21">
			<td height="21" style="height:21px;width:216px;">Solar cells</td>
			<td style="width:121px;">Fraunhofer ISE</td>
			<td style="width:161px;"></td>
			<td></td>
		</tr>
		<tr height="42">
			<td height="42" style="height:42px;width:216px;">Solar firing furnace &#34;RFS 250 Plus&#34;</td>
			<td style="width:121px;">Rehm Thermal Systems GmbH</td>
			<td style="width:161px;"></td>
			<td></td>
		</tr>
		<tr height="21">
			<td height="21" style="height:21px;width:216px;">Sheath thermocouples type K</td>
			<td style="width:121px;">TMH GmbH</td>
			<td style="width:161px;"></td>
			<td></td>
		</tr>
		<tr height="42">
			<td height="42" style="height:42px;width:216px;">Thermocouple quartzframe</td>
			<td style="width:121px;">Heraeus Noblelight GmbH</td>
			<td style="width:161px;"></td>
			<td></td>
		</tr>
	</tbody>
</table>

in situ surface temperature measurement in a conveyor belt furnace via inline infrared thermography

Konveyör bant fırınlarında işlenen nesnelerin yüzey sıcaklığının ölçülmesi, proses kontrolü ve kalite güvencesinde önemli bir araçtır. Şu anda konveyör bant fırınlarında işlenen nesnelerin yüzey sıcaklığı genellikle termokupllar ile ölçülür. Ancak, kızılötesi (IR) termometre, temassız, gerçek zamanlı ve uzamsal olarak çözümlenmiş bir yöntem olduğu için termokupl ölçümlerine göre birden fazla avantaj sunar. Burada, temsili bir kanıt-of-kavram örnek olarak, bir satırlı termografi sistemi başarıyla endüstriyel Si güneş hücrelerinin temas ateş süreci için kullanılan bir IR lamba sıyrık güneş ateş fırını, yüklenir. Bu protokol, bir konveyör bant fırınına ir kamera nın nasıl yerleştirilmeyeceği, fabrikada kalibre edilmiş bir IR kameranın müşteri düzeltmesinin nasıl yapılacağını ve hedef bir nesne üzerindeki mekansal yüzey sıcaklığı dağılımının değerlendirmesini nasıl gerçekleştireceklerini açıklar.

Şekil 3B−D'degösterildiği gibi, örnek nesne (burada, silikon bir güneş pili; kesinlikle konuşursak, pasif bir yayımlayıcı ve arka hücre [PERC]12; Şekil 2A,B) farklı konfigürasyonlarda IR kamera tarafından açıkça tespit edilebilir4. Farklı konfigürasyonlar monofacially metallized (Şekil 3B), bifacially metallized...

Watch this Scientific Journal Video about In Situ Surface Temperature Measurement in a Conveyor Belt Furnace via Inline Infrared Thermography at JoVE.com

In Situ Surface Temperature Measurement in a Conveyor Belt Furnace via Inline Infrared Thermography

Bu protokol, bir konveyör bant fırınına kızılötesi kamera nın nasıl yerleştirilmeyeceği, fabrikada kalibre edilmiş bir IR kameranın müşteri düzeltmesinin nasıl yürütüldürün ve ilgi çekici bir nesnenin mekansal yüzey sıcaklığı dağılımının nasıl değerlendirilecece açıklanmaktadır. Örnek nesneler endüstriyel silikon güneş pilleri vardır.

Sıralı Kızılötesi Termografi ile Konveyör Bant Fırınında Situ Yüzey Sıcaklığı Ölçümü

Measuring the surface temperature of objects that are processed in conveyor belt furnaces is an important tool in process control and quality assurance. ...

Sıralı fırınlarda işlenen nesnelerin sıcaklığını ölçmek çok önemli olduğundan, burada termokupllar tarafından klasik sıcaklık ölçümlerine umut verici bir alternatif olarak sıralı termografi sıyoruz. Termokupllar nesneye zarar verir, sıcaklığı yerel olarak ölçer ve üretim kesintisi gerektirir. Ancak inline termografi kameramız nesne sıcaklığını temassız, gerçek zamanlı, uzamsal olarak çözülmüş bir şekilde ölçer.Biz silikon güneş hücrelerinin temas ateş için sıralı fırınlar kullanın. Bu nedenle, bu avantajları araştırmak için fırınımıza sıralı bir termografi kamera yerleştirdik. İlgi sıcaklığı aralığındaki ilgi alanının en yüksek emisyonunun dalga boyu aralığıyla eşleşen algılama dalga boyu aralığına sahip bir kamera seçin.Kamerayı fırın odasının dışına yerleştirmek için, optik yolun bulunması gereken konuma fırın duvarını ve izolasyonu çıkarın ve optik yolda kızılötesi lambalar gibi rahatsız edici nesnelerden kaçının. Kameranın algılama dalga boyu aralığı için mümkün olduğunca şeffaf olurken fırın odasını termal olarak izole eden bir pencereyle deliği kapatın. Ardından, kamerayı pencerelerin üzerine yerleştirin, böylece kamera hareketli kemerüzerinde bir görseldir.Kameranın algılama dalga boyu aralığında radyasyon yayan veya yansıtan yakındaki nesnelerden kaçınarak kamera tarafından mümkün olduğunca çok parazitradyasyon algılamasını önleyebilirsiniz. Daha sonra, kameranın ortaya çıkan görüş alanını kontrol etmek için kızılötesi kamera yazılımı aracılığıyla termografi görüntüsünü inceleyin. Silikon güneş pilleri için bir müşteri sıcaklık düzeltme için, ilk yerel optik eserler için güneş pili kontrol edin.Sıcaklık düzeltmesi termokupllara dayandığı için, termokuplgeçerliliğini kontrol edin, termokuplu gofretin arka alüminyum tarafına monte edin ve standart bir ateşleme işlemi için zaman sıcaklığı profilini ölçün. Zaman sıcaklığı profili 577 santigrat derece alüminyum silikon eutectic sıcaklıkta düz bir eğri şeklinde bir bozulma gösterirse, termokupl büyük olasılıkla doğru kalibre edilir. Termokupl ölçümlerini güneş pilinin arka tarafına monte edilmiş doğrulanmış termokupl ile gerçekleştirin ve gofret'i kızılötesi kamerayla kaydedin.İstatistiksel olarak anlamlı zaman sıcaklığı profilleri elde etmek için aynı nesne noktasında ve mekansal olarak çeşitli rasgele nesne noktalarında sıcaklık aralığında birden fazla termokupl ölçüm gerçekleştirin. Termokupl altında yerel düzeltilmemiş termografi güneş pili sıcaklığını belirlemek için, termokupl konumunda yerel sıcaklık ayıklayın. Düzeltilmemiş kızılötesi termografi ile ölçülen sıcaklıkları termopllar aracılığıyla belirlenen sıcaklıklara karşı kaydedin ve düzeltilmemiş termografi görüntüsü için genel bir tekdüze küresel düzeltme formülü ne sığdırışbir eğri elde edin.Daha sonra düzeltilmemiş termografi görüntüsünü küresel olarak düzeltmek için bu eğri sığdırveri verisini kullanın. İki boyutlu bir pik sıcaklık dağılım haritası oluşturmak için, aynı anda gofret noktalarının tümüne yerleştirilen sanal bir termokupl gibi davranmak için tüm kamera görüş alanı boyunca her nesnenin yüzey noktasının yüzey sıcaklığını izlemek için uygun bir programlama dilinde bir komut dosyası yazın. Ardından, her nokta için en yüksek sıcaklık değerini ayıklayın ve bu sıcaklıkları karşılık gelen 2B dağıtım haritasında çizin.Üretim yönünde ortalama sıcaklık dağılımı gerçekleştirmek için, üretim yönüne dik boyuttaki 2B sıcaklık dağılımını ortalaman. Üretim yönüne dik ortalama bir sıcaklık dağılımı gerçekleştirmek için, üretim yönünde boyuttaki 2B sıcaklık dağılımının ortalamasını alın. Bu şekilde gösterildiği gibi, bu Silikon güneş pilinin düzeltilmiş sıcaklığı farklı konfigürasyonlarda kızılötesi kamera tarafından açıkça tespit edilebilir.Monofacially metalize, bifacially metalize ve metalize olmayan perk örnekleri. Bu analizlerde, sıcaklık aralığı atış işleminin tipik pik sıcaklık aralığına benziyordu. Bu resimde de görüldüğü gibi, güneş pilinin arka tarafındaki temas termokupl, büyük olasılıkla ısı dağılımı ve gölgeleme nedeniyle kendi etrafında bir sıcaklık düşüşüne neden olur.İkinci damla, termokupl olmadan ateşleme sırasında hücre sıcaklığıtahmin etmek için önemlidir, termokupl tarafından ölçülen sıcaklık ile karşılaştırıldığında, bir termokupl ile temas ettiğinde bir çerçeve üzerine konumlandırılmış bu hücre için olduğu gibi. Doğrudan kayışüzerine yerleştirilirse, kızılötesi kamera konveyör bant tarafından hücrelerin yerel ısı dağılımı gözlem sağlar. Bu görüntü temsili bir iki boyutlu uzamsal güneş pili pik sıcaklık dağılımı gösterir, ve çıkarılan ortalama dağılımı ve taşıma yönüne dik.Silikon güneş pillerinin temas halinde ateşlemeiçin sıralı fırınları kullanırken, yenilikçi bir termografi uygulaması oluşturmak için fırınımıza bir kızılötesi kamera yerleştirdik. Ateşleme işlemi sırasında mekansal olarak çözülmüş pik sıcaklık dağılımlarının elde edilmesi, ateşlenmenin önemli ölçüde etkilediği uzamsal olarak çözülmüş güneş pili parametrelerine sıcaklık dağılımı korelasyonlarının araştırılmasına olanak sağlar.

Research

JoVE Journal

Engineering

In-situ Tapering of Chalcogenide Fiber for Mid-infrared Supercontinuum Generation

In-situ Tapering of Chalcogenide Fiber for Mid-infrared Supercontinuum Generation

In-situ Orta kızılötesi Supercontinuum Üretimi için Chalcogenide Fiber kademeli olarak azaltılması

Supercontinuum  generation (SCG) in a tapered chalcogenide fiber is desirable for broadening mid-infrared  (or mid-IR, roughly the 2-20 &mu;m wavelength ...

Fabrication and Operation of a Nano-Optical Conveyor Belt

Bir Nano-Optik Konveyör Bant imalatı ve İşletilmesi

The technique of using focused laser beams to trap and exert forces on small particles has enabled many pivotal discoveries in the nanoscale biological ...

Advanced Experimental Methods for Low-temperature Magnetotransport Measurement of Novel Materials

Yeni Malzemelerin Düşük sıcaklık Magnetotransport Ölçüm İleri Deneysel Yöntemler

Novel electronic materials are often produced for the first time by synthesis processes that yield bulk crystals (in contrast to single crystal thin film ...

The Measurement of Unsteady Surface Pressure Using a Remote Microphone Probe

Uzak Mikrofon Probe kullanarak Kararsız Yüzey Basınç Ölçümü

Microphones are widely applied to measure pressure fluctuations at the walls of solid bodies immersed in turbulent flows. Turbulent motions with various ...

Optical Trap Loading of Dielectric Microparticles In Air

Havada Dielektrik mikropartiküllerin Optik Tuzak Yükleme

We demonstrate a method to trap a selected dielectric microparticle in air using radiation pressure from a single-beam gradient optical trap. Randomly ...

Recombination Dynamics in Thin-film Photovoltaic Materials via Time-resolved Microwave Conductivity

Zaman çözülmesi Mikrodalga İletkenlik aracılığıyla İnce film Fotovoltaik Malzemeler rekombinasyon Dinamikleri

A method for investigating recombination dynamics of photo-induced charge carriers in thin film semiconductors, specifically in photovoltaic materials ...

High Temperature Fabrication of Nanostructured Yttria-Stabilized-Zirconia (YSZ) Scaffolds by In Situ Carbon Templating Xerogels

High Temperature Fabrication of Nanostructured Yttria-Stabilized-Zirconia YSZ Scaffolds by In Situ Carbon Templating Xerogels

tarafından Nano yapılı yitriya stabilize-Zirkonyum (YSZ) iskelelerinin Yüksek Sıcaklık Fabrikasyon<em&gt; Situ</em&gt; Karbon şablonu Kserojeller

We demonstrate a method for the high temperature fabrication of porous, nanostructured yttria-stabilized-zirconia (YSZ, 8 mol% yttria - 92 mol% zirconia) ...

Preparation and High-temperature Anti-adhesion Behavior of a Slippery Surface on Stainless Steel

Paslanmaz çelik kaygan bir yüzeye hazırlık ve yüksek sıcaklık Anti-Yapışma davranışını

Anti-adhesion surfaces with high-temperature resistance have a wide application potential in electrosurgical instruments, engines, and pipelines. A ...

Generation of Size-controlled Poly (ethylene Glycol) Diacrylate Droplets via Semi-3-Dimensional Flow Focusing Microfluidic Devices

Generation of Size-controlled Poly ethylene Glycol Diacrylate Droplets via Semi-3-Dimensional Flow Focusing Microfluidic Devices

Poli (etilen glikol) Diacrylate damlacıklar yoluyla yarı-3 boyutlu akış odaklanarak mikrosıvısal cihazlar boyutu kontrol nesil

Uniform and size-controllable poly (ethylene glycol) diacrylate (PEGDA) droplets could be produced via the flow focusing process in a microfluidic device. ...

Near-Infrared Temperature Measurement Technique for Water Surrounding an Induction-heated Small Magnetic Sphere

Yakın kızılötesi sıcaklık ölçüm tekniği bir indüksiyon ısıtmalı manyetik küre küçük çevreleyen su için

A technique to measure the temperature of water and non-turbid aqueous media surrounding an induction-heated small magnetic sphere is presented. This ...