Research
Education
Sign In
EN
EN - English
CN - 中文
DE - Deutsch
ES - Español
KR - 한국어
IT - Italiano
FR - Français
PT - Português
Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.
DOI :
10.3791/62015-v
•
7:24 min
May 10th, 2021
Chapters
0:04
Introduction
0:59
Transmission Electron Microscopy (TEM) Alignment for Beam-Rocking
2:36
Incident Beam Collimation and Pivot Point Setup
3:47
Electron-Channeling Pattern (ECP) Acquisition
4:30
Energy-Dispersive X-Ray Analysis
5:10
Results: Representative ECP and ICP Emission Imaging
6:46
Conclusion
소수 종, 광원, 산소 공실 및 기타 포인트/라인/평면도 결함으로부터 정보를 안정적으로 추출하는 사고 전자 빔 흔들림 조건하에서 전자 채널링 현상을 활용하여 불순물 및 화학 상태의 사이트 점유율을 추정하기 위한 정량적 미세 분석 방법의 일반적인 개요를 제공합니다.
Tags
-- Views
Related Videos
Privacy
Terms of Use
Policies
Contact Us
Recommend to library
JoVE NEWSLETTERS
JoVE Journal
Methods Collections
JoVE Encyclopedia of Experiments
Archive
JoVE Core
JoVE Business
JoVE Science Education
JoVE Lab Manual
Faculty Resource Center
Authors
Overview
Publishing Process
Editorial Board
Scope and Policies
Peer Review
FAQ
Submit
Librarians
Testimonials
Subscriptions
Access
Resources
Library Advisory Board
ABOUT JoVE
Leadership
Copyright © 2024 MyJoVE Corporation. All rights reserved