Name: co-localizing kelvin probe force microscopy with other microscopies and spectroscopies: selected applications in corrosion characterization of alloys
Uploaded: 2022-06-27T14:00:00
Duration: 12 min 18 s
Description: Watch this Scientific Journal Video about Co-localizing Kelvin Probe Force Microscopy with Other Microscopies and Spectroscopies: Selected Applications in Corrosion Characterization of Alloys at JoVE.

За исключением случаев, специально указанных ниже, все изображения AFM и KPFM выполнялись в Лаборатории поверхностных наук Университета штата Бойсе (SSL), как и совместно локализованная сканирующая конфокальная рамановская микроскопия с совместно локализованной визуализацией SEM / EDS, выполненной в Государственном центре характеристик материалов Бойсе (BSCMC). Система AFM перчаточного ящика, используемая в большей части этой работы, была приобретена в рамках гранта Национального научного фонда Major Research Instrumentation (NSF MRI) 1727026, который также обеспечивал частичную поддержку PHD и OOM, в то время как рамановский микроскоп был приобретен за счет финансирования Micron Technology Foundation. Авторы благодарят Micron Technology за использование их системы AFM перчаточного ящика для получения предварительных данных для гранта МРТ, включая получение изображений инертной атмосферы KPFM бинарного сплава MgLa, показанных на рисунке 3 этой рукописи. Частичная поддержка OOM и MFH была также оказана грантом NSF CAREER Под номером 1945650, в то время как CME и MFH признают дополнительное финансирование из консорциума космических грантов NASA Idaho Space Grant Consortium EPSCoR Seed Grant. FWD был поддержан Центром интегрированных нанотехнологий, пользовательским центром Управления фундаментальных энергетических наук Департамента энергетики. Sandia National Laboratories - это многоцелевая лаборатория, управляемая и управляемая National Technology and Engineering Solutions of Sandia LLC, дочерней компанией Honeywell International Inc., для Национального управления ядерной безопасности Министерства энергетики США по контракту DE-NA0003525.
Авторы благодарят Jasen B. Nielsen за подготовку образцов припоя для визуализации KPFM. Бинарный сплав MgLa (рисунок 3) был предоставлен Ником Бирбилисом, бывшим сотрудником Университета Монаша, Австралия, при поддержке Исследовательской лаборатории армии США (номер соглашения W911NF-14-2-0005). Кари (Ливингстон) Хиггинботэм с благодарностью благодарна за ее вклад в визуализацию и анализ KPFM в образец пайки Cu-Ag-Ti. Ник Храбе и Джейк Бензинг из Национального института стандартов и технологий (NIST) отмечены за полезные обсуждения, а также за их обширный вклад в подготовку (включая печать, полировку и создание фидуциалов наноиндентации) и проведение анализа SEM / EBSD в NIST на образце AM Ti-6Al-4V, в то время как Джейк Бензинг занимал постдокторскую исследовательскую должность Национального исследовательского совета.
В данной работе описываются объективные технические результаты и анализ. Любые субъективные взгляды или мнения, которые могут быть выражены в статье, принадлежат автору (авторам) и не обязательно отражают взгляды Министерства энергетики США, Национального управления по аэронавтике и исследованию космического пространства, Национального института стандартов и технологий, Национального научного фонда или правительства Соединенных Штатов.

У авторов нет конфликта интересов для раскрытия.

Микроскопическая характеристика материалов принципиально важна для понимания и разработки новых материалов. Многочисленные методы микроскопии дают карты поверхностей материалов и их свойств, включая топографию, упругость, деформацию, электрическую и теплопроводность, потенциал поверхности, элементный состав и ориентацию кристаллов. Однако информация, предоставляемая одной модальностью микроскопии, часто недостаточна для полного понимания совокупности свойств, которые могут способствовать материальному поведению, представляющему интерес. В некоторых случаях усовершенствованные микроскопы были построены с комбинированными возможностями характеризации, такими как перевернутая платформа оптического микроскопа, которая включает в себя атомно-силовой микроскоп (AFM) или использует несколько модальностей сканирующего зонда (например, зондовая силовая микроскопия Кельвина [KPFM] или интермодуляционная электростатическая силовая микроскопия [ImEFM1], измерения поверхностного потенциала и магнитно-силовая микроскопия [MFM])2,3,4, 5 для характеристики образца на той же АСМ. В более общем плане, хотелось бы объединить информацию с двух отдельных микроскопов для получения корреляций структура-свойство 6,7. Совместная локализация сканирующей зондовой силовой микроскопии Кельвина со сканирующими электронными и рамановскими микроскопиями и спектроскопиями представлена здесь, чтобы проиллюстрировать процесс корреляции информации, полученной из двух или более отдельных микроскопов, посредством конкретного примера применения, а именно мультимодальной характеристики металлических сплавов для понимания коррозионного поведения.
Коррозия - это процесс, посредством которого материалы реагируют химически и электрохимически с окружающей средой8. Электрохимическая коррозия представляет собой спонтанный (т.е. термодинамически благоприятный, обусловленный чистым уменьшением свободной энергии) процесс, включающий перенос электронов и зарядов, который происходит между анодом и катодом в присутствии электролита. Когда коррозия происходит на поверхности металла или сплава, анодные и катодные области развиваются на основе изменений в составе микроструктурных особенностей в процессе, известном как микрогальваническая коррозия9. Благодаря использованию совместно локализованных наноразмерных методов характеризации, методы, описанные здесь, обеспечивают экспериментальный путь для выявления вероятных микрогальванических пар между широким спектром микроструктурных характеристик сплава, обеспечивая потенциально полезную информацию для смягчения коррозии и разработки новых материалов. Результаты этих экспериментов могут определить, какие микроструктурные особенности на поверхности сплава могут служить локальными анодными участками (т.е. участками окисления) или катодами (т.е. участками восстановления) во время активной коррозии, а также дать новое представление о наноразмерных особенностях инициации коррозии и реакций.
KPFM - это метод определения характеристик сканирующей зондовой микроскопии (SPM) на основе AFM, который может генерировать одновременную (или построчную последовательную) топографию и карты разности вольтовых потенциалов (VPD) поверхности образца с разрешениями порядка 10 нанометров и милливольт соответственно10. Для этого KPFM использует проводящий датчик AFM с наноразмерным наконечником. Как правило, зонд сначала отслеживает топографические изменения в поверхности образца, затем поднимается на определенную пользователем высоту над поверхностью образца, прежде чем проследить линию топографии для измерения VPD между зондом и образцом (т. Е. Относительный вольтовый потенциал поверхности образца). Хотя существует несколько способов практической реализации измерений KPFM, в принципе, определение VPD осуществляется путем одновременного применения как смещения переменного тока (в представленной реализации к зонду), так и переменного смещения постоянного тока (в представленной реализации к образцу), чтобы обнулить разность потенциалов наконечник-образец, как указано путем обнуления колебаний зонда на приложенной частоте смещения переменного тока (или его гетеродинно-усиленной сумме и разностных частотах на по обе стороны от частоты естественного механического резонанса зонда) 11. Независимо от метода реализации, KPFM создает коррелированную топографию с высоким боковым пространственным разрешением и карты VPD на металлической поверхности12.
VPD, измеренный с помощью KPFM, напрямую коррелирует с разницей в рабочей функции между образцом и зондом, и, кроме того, VPD (как правило) имеет тенденции с электродным потенциалом в растворе 13,14,15. Эта зависимость может быть использована для определения ожидаемого (локального) электродного поведения микроструктурных признаков на основе VPD и была исследована для ряда систем коррозии металлических сплавов 15,16,17,18,19,20,21,22 . Кроме того, измеренный VPD чувствителен к локальному составу, поверхностным слоям и структуре зерна / кристалла / дефекта и, следовательно, обеспечивает наноразмерное выяснение признаков, которые, как ожидается, инициируют и управляют коррозионными реакциями на поверхности металла. Следует отметить, что VPD (Ψ) связан с (неизмеримым) поверхностным потенциалом (χ), но отличается от него, как описано более подробно в литературе13,14, включая полезные диаграммы и точные определения правильной электрохимической терминологии23. Последние достижения в области применения KPFM к исследованиям коррозии значительно повысили качество и повторяемость полученных данных благодаря тщательному рассмотрению влияния пробоподготовки, параметров измерений, типа зонда и внешней среды 24,25,26,27.
Одним из недостатков KPFM является то, что, хотя он генерирует наноразмерную карту разрешения поверхности VPD, он не предоставляет прямой информации о составе, и, таким образом, корреляция вариаций в VPD с различиями в элементном составе должна быть обеспечена совместной локализацией с дополнительными методами характеризации. Путем совместной локализации KPFM с SEM, энергодисперсионной спектроскопией (EDS), электронной обратно рассеянной дифрацией (EBSD) и/или рамановской спектроскопией можно определить такую композиционную и/или структурную информацию. Однако совместная локализация наноразмерных методов может быть затруднена из-за экстремального увеличения изображения, различий в поле зрения и разрешении, а также взаимодействий образцов во времяхарактеристики 28. Получение нано- и микромасштабных изображений одной и той же области образца на разных приборах требует высокой точности и тщательного планирования для совместной локализации методов и минимизации артефактов из-за возможного перекрестного загрязнения во время последовательной характеристики18,28.
Целью данной статьи является определение систематического метода совместной локализации KPFM и SEM визуализации, последний из которых может быть заменен другими методами характеризации, такими как EDS, EBSD или рамановская спектроскопия. Необходимо понимать правильное упорядочение этапов характеризации, влияние окружающей среды на разрешение KPFM и измеренные VPD, калибровку зонда KPFM и различные стратегии, которые могут быть использованы для успешной совместной локализации SEM или других передовых методов микроскопии и спектроскопии с KPFM. Соответственно, предоставляется пошаговая обобщенная процедура совместной локализации SEM с KPFM, за которой следуют примерные работы такой совместной локализации вместе с полезными советами и рекомендациями для получения значимых результатов. В более общем плане, процедура, описанная здесь, должна служить для описания широко применимого процесса совместной локализации изображений/карт свойств, полученных из других модальностей микроскопии с помощью KPFM и других режимов AFM, для получения полезных отношений структура-свойство в различных материальных системах 6,7,29,30,31,32.

<table border="1" fo:keep-together.within-page="1" fo:keep-with-next.within-page="always">
	<tbody>
		<tr>
			<td>Atomic force microscope</td>
			<td>Bruker</td>
			<td>Dimension Icon</td>
			<td>Uses Nanoscope control software, PF-KPFM module/key enabled</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>Colloidal silica polish</td>
			<td>Leco</td>
			<td>812-121-300</td>
			<td>Abrasive: 0.08 &#956;m (80 nm). Used as a finishing polish for metals. Great when preparing samples for performing high resolution EBSD.</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>Conductive silver paint, Pelco</td>
			<td>Ted Pella</td>
			<td>16062</td>
			<td>Other products with similar conductivity can be used (e.g., Pelco #16031 or 16034), but this product combines fast ambient drying, low VOC, high mechanical strength, easy cleanup/removal, and relatively low sheet resistance: https://www.tedpella.com/adhesive_html/Adhesive-Comparison.aspx</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>Diamond slurry</td>
			<td>Buehler</td>
			<td>MetaDi Supreme, Polycrystalline Diamon Suspension&#160;</td>
			<td>Final steps in polishing the sample. Start with 1 &#956;m, then move to 0.05 &#956;m (50 nm).</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>Digital Multimeter</td>
			<td>Fluke</td>
			<td>Fluke 21 Multimeter</td>
			<td>For checking continuity from the AFM stage/chuck to the sample surface, confirming proper grounding and biasing, etc.</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>Epoxy</td>
			<td>Buehler</td>
			<td>EpoThin 2</td>
			<td>4:1 ratio of resin to hardener. Mixed together and used for mounting samples to help with polishing and experiments.&#160;</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>Ethanol</td>
			<td>Sigma Aldrich</td>
			<td>459828</td>
			<td>200 proof, spectrophotometric grade. Used to clean samples after polishing and/or prior to imaging.&#160;</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>Glovebox, inert atmosphere</td>
			<td>MBraun</td>
			<td>LabMaster Pro MB200B + MB20G gas purification unit</td>
			<td>Custom design (leaktight electrical feedthroughs, vibration isolation, acoustical noise and air current minimization, etc.) and depth for use with Bruker Dimension Icon AFM, 3 gloves, argon atmosphere</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>Image overlap software</td>
			<td>Microsoft</td>
			<td>PowerPoint</td>
			<td>Other software products can be used as desired depending upon user knowledge. The essential software capabilities needed are translation, rotation, and scaling of images, as well as ideally adjustment of image transparency during overlay of KPFM/other microscopy images.</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>KPFM probe</td>
			<td>Bruker</td>
			<td>PFQNE-AL</td>
			<td>Have also tried Bruker SCM-PIT and SCM-PIC probes, as well as solid Pt probes from Rocky Mountain Nanotechnology, but have found PFQNE-AL probes to provide superior performance</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>KPFM standard</td>
			<td>Bruker</td>
			<td>PFKPFM-SMPL</td>
			<td>8 mm x 8 mm silicon wafer patterned with a 3 x 9 array of rectangular islands of aluminum (50 nm thick) surrounded by gold (50 nm thick). Mounted on a 15 mm steel disk with top surface gold layer electrically connected to disk.</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>Nanoindenter</td>
			<td>Hysitron</td>
			<td>TS 75</td>
			<td>Nanoindented additively manufactured Ti-6Al-4V samples in a right triangle pattern to create an origin and XY axes for co-localized imaging.</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>Nanscope Analysis</td>
			<td>Bruker</td>
			<td>Version 2.0</td>
			<td>Free AFM image processing and analysis software package, but proprietary, designed for, and limited to Bruker AFMs; similar functionality is available from free, platform-independent AFM image processing and analysis software packages such as Gwyddion, WSxM, and others</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>Polisher</td>
			<td>Allied</td>
			<td>MetPrep 3</td>
			<td>Used during slurry polishing</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>Probe holder</td>
			<td>Bruker</td>
			<td>DAFMCH</td>
			<td>Specific to the particular AFM used, but must provide a direct electrical path from the probe to the instrument; DAFMCH is the standard contact and tapping mode probe holder for the Dimension Icon AFM, suitable for KPFM</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>Raman microscope, scanning confocal</td>
			<td>Horiba</td>
			<td>LabRAM HR Evolution</td>
			<td>Scanning confocal Raman microscope with 442 nm, 532 nm, and 633 nm excitation wavelengths/lasers (used 532 nm doubled Nd:YAG); 10x, 20x, 50x, and 100x Olympus objectives; 50-250 mm adjustable confocal pinhole, 0.8 m imaging spectrometer with 600 and 1800 line/mm gratings; TE cooled 256 x 1024 CCD array detector; and 80 mm x 100 mm Marzhauser motorized XYZ stage plus DuoScan mirror capabilities for scanning</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>Sample Puck</td>
			<td>Ted Pella</td>
			<td>16218</td>
			<td>Product number is for 15 mm diameter stainless steel sample puck. Also available in 6 mm, 10 mm, 12 mm, and 20 mm diameters at https://www.tedpella.com/AFM_html/AFM.aspx#anchor842459</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>Scanning electron microscope</td>
			<td>Hitachi</td>
			<td>S-3400N-II</td>
			<td>Located at Boise State. Used to perform co-localized SEM/EDS on all samples except additively manufactured (AM) Ti-6Al-4V.</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>Scanning electron microscope</td>
			<td>Zeiss</td>
			<td>Leo</td>
			<td>Field Emission SEM. Located at NIST&#39;s Boulder, CO, campus. Used to provide co-localized SEM/EBSD on the AM Ti-6Al-4V samples.</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>Silicon carbide grit paper (abrasive discs)</td>
			<td>Allied</td>
			<td>120 grit: 50-10005, 400 grit: 50-10025, 800 grit: 50-10035, 1200 grit: 50-10040</td>
			<td>Polished samples progressively from ANSI standard 120 grit to 1200 grit prior to employing any slurries. Note that ANSI standard 120 grit corresponds to P120 (European), while ANSI standard 1200 grit corresponds to P4000 (European) - i.e., the ANSI (US Industrial Grit) and European FEPA (P-Grading) abrasives characterization standards agree at coarse grits, but diverge numerically for finer abrasives.</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>Sonicator</td>
			<td>VWR (part of Avantor)</td>
			<td>97043-992</td>
			<td>Used to clean samples via sonication after polishing.</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>Ultrahigh purity nitrogen (UHP N2), 99.999%</td>
			<td>Norco</td>
			<td>SPG TUHPNI - T</td>
			<td>T size compressed gas cylinder of ultrahigh purity (99.999%) nitrogen for drying samples</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>Variable Speed Grinder</td>
			<td>Buehler</td>
			<td>EcoMet 3000</td>
			<td>Used with silicon carbide grit papers during hand polishing.</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>Vibratory polisher</td>
			<td>Buehler</td>
			<td>AutoMet 250 Grinder Polisher</td>
			<td>Used to polish samples for longer periods of time. Automatic polishing.</td>
		</tr>
	</tbody>
</table>

co-localizing kelvin probe force microscopy with other microscopies and spectroscopies: selected applications in corrosion characterization of alloys

Зондовая силовая микроскопия Кельвина (KPFM), иногда называемая поверхностно-потенциальной микроскопией, является наноразмерной версией почтенного сканирующего зонда Кельвина, оба из которых измеряют разность потенциалов Вольта (VPD) между колеблющимся наконечником зонда и поверхностью образца, применяя нулевое напряжение, равное по величине, но противоположное по знаку разности потенциалов наконечника-образца. Путем сканирования проводящего зонда KPFM над поверхностью образца можно нанести на карту наноразмерные изменения топографии и потенциала поверхности, идентифицируя вероятные анодные и катодные области, а также количественно оценивая присущую материалу движущую силу гальванической коррозии.
Последующая совместная локализация карт потенциалов KPFM Volta с помощью передовых методов сканирующей электронной микроскопии (SEM), включая изображения обратно рассеянных электронов (BSE), карты элементного состава энергодисперсионной спектроскопии (EDS) и обратные полюсные фигуры обратно рассеянной электронной дифракции (EBSD), могут обеспечить дальнейшее понимание соотношений структура-свойство-производительность. Здесь представлены результаты нескольких исследований, совместно локализующих KPFM с SEM на широком спектре сплавов, представляющих технологический интерес, демонстрируя полезность объединения этих методов на наноуровне для выяснения инициации и распространения коррозии.
Также подчеркиваются важные моменты, которые следует учитывать, и потенциальные подводные камни, которых следует избегать в таких исследованиях: в частности, калибровка зонда и потенциальное смешанное воздействие на измеренные VPD испытательной среды и поверхности образца, включая влажность окружающей среды (т.е. адсорбированную воду), поверхностные реакции /окисление и полировку мусора или других загрязняющих веществ. Кроме того, приведен пример совместной локализации третьего метода, сканирующей конфокальной рамановской микроскопии, чтобы продемонстрировать общую применимость и полезность метода колокализации для обеспечения дальнейшего структурного понимания, выходящего за рамки того, что предоставляется методами на основе электронной микроскопии.

Watch this Scientific Journal Video about Co-localizing Kelvin Probe Force Microscopy with Other Microscopies and Spectroscopies: Selected Applications in Corrosion Characterization of Alloys at JoVE.

Co-localizing Kelvin Probe Force Microscopy with Other Microscopies and Spectroscopies: Selected Applications in Corrosion Characterization of Alloys

Зондовая силовая микроскопия Кельвина (KPFM) измеряет топографию поверхности и различия в потенциале поверхности, в то время как сканирующая электронная микроскопия (SEM) и связанные с ней спектроскопии могут прояснить морфологию поверхности, состав, кристалличность и кристаллографическую ориентацию. Соответственно, совместная локализация SEM с KPFM может дать представление о влиянии наноразмерного состава и структуры поверхности на коррозию.

Совместная локализация зондовой силовой микроскопии Кельвина с другими микроскопиями и спектроскопиями: избранные применения в коррозионной характеристике сплавов

Kelvin probe force microscopy (KPFM), sometimes referred to as surface potential microscopy, is the nanoscale version of the venerable scanning Kelvin ...

Research

JoVE Journal

Engineering

Characterization of Surface Modifications by White Light Interferometry: Applications in Ion Sputtering, Laser Ablation, and Tribology Experiments

Характеристика модификации поверхности белым светом интерферометрии, применения в ионного распыления, лазерной абляции, и трибологии Эксперименты

In materials science and engineering it is often necessary to obtain quantitative measurements of surface topography with micrometer lateral resolution. ...

Preparation and Friction Force Microscopy Measurements of Immiscible, Opposing Polymer Brushes

Подготовка и трение силовой микроскопии Измерения НЕСМЕШИВАЮЩЕЙСЯ, противопоставляя полимерные щетки

Solvated polymer brushes are well known to lubricate high-pressure contacts, because they can sustain a positive normal load while maintaining low ...

Probing C84-embedded Si Substrate Using Scanning Probe Microscopy and Molecular Dynamics

Probing C84-embedded Si Substrate Using Scanning Probe Microscopy and Molecular Dynamics

Зондирование C<sub&gt; 84</sub&gt; -вложено Si подложки с помощью сканирующей зондовой микроскопии и молекулярной динамики

This paper reports an array-designed C84-embedded Si substrate fabricated using a controlled self-assembly method in an ultra-high vacuum chamber. The ...

Sub-nanometer Resolution Imaging with Amplitude-modulation Atomic Force Microscopy in Liquid

Субнанометровым Resolution Imaging с амплитудной модуляцией атомно-силовой микроскопии в жидком

Atomic force microscopy (AFM) has become a well-established technique for nanoscale imaging of samples in air and in liquid. Recent studies have shown ...

Characterization of Ultra-fine Grained and Nanocrystalline Materials Using Transmission Kikuchi Diffraction

Характеристика Ультра мелкозернистый и нанокристаллических материалов с помощью просвечивающей Кикучи дифракции

One of the challenges in microstructure analysis nowadays resides in the reliable and accurate characterization of ultra-fine grained (UFG) and ...

Microfluidic Imaging Flow Cytometry by Asymmetric-detection Time-stretch Optical Microscopy (ATOM)

Microfluidic Imaging Flow Cytometry by Asymmetric-detection Time-stretch Optical Microscopy ATOM

Микрофлюидная имитационная проточная цитометрия с помощью асимметричного детектирования оптической микроскопии с временным растяжением (ATOM)

Scaling the number of measurable parameters, which allows for multidimensional data analysis and thus higher-confidence statistical results, has been the ...

Fabrication of Polymer Microspheres for Optical Resonator and Laser Applications

Изготовление полимерных микросфер для оптического резонатора и лазерных приложений

This paper describes three methods of preparing fluorescent microspheres comprising &#960;-conjugated or non-conjugated polymers: vapor diffusion, ...

Determining Tribocorrosion Rate and Wear-Corrosion Synergy of Bulk and Thin Film Aluminum Alloys

Определение трибокоррозию скорость и износ коррозии синергии насыпных и тонкой пленки алюминиевых сплавов

The increasing complexity and severity of service conditions in areas, such as aerospace and marine industries, nuclear systems, microelectronics, ...

In Situ Transmission Electron Microscopy with Biasing and Fabrication of Asymmetric Crossbars Based on Mixed-Phased a-VOx

In Situ Transmission Electron Microscopy with Biasing and Fabrication of Asymmetric Crossbars Based on Mixed-Phased a-VOx

В Situ передачи электронной микроскопии с смещения и изготовление асимметричных перекладин на основе смешанных фаз -VOх

Resistive switching crossbar architecture is highly desired in the field of digital memories due to low cost and high-density benefits. Different ...

Parallel Active Cantilever Arrays in AFMS to Enable High-Throughput Inspections

Active Probe Atomic Force Microscopy with Quattro-Parallel Cantilever Arrays for High-Throughput Large-Scale Sample Inspection

Author Spotlight: Introduction to Active Probe Atomic Force Microscopy with Quattro-Parallel Cantilever Arrays

An Atomic Force Microscope&#160;(AFM) is&#160;a powerful and versatile tool for nanoscale surface studies to capture 3D topography images of samples. ...