Name: optimizing magnetic force microscopy resolution and sensitivity to visualize nanoscale magnetic domains
Uploaded: 2022-07-20T14:40:00
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सभी एएफएम / एमएफएम इमेजिंग बोइस स्टेट यूनिवर्सिटी सरफेस साइंस लेबोरेटरी (एसएसएल) में किया गया था। इस काम में उपयोग किए जाने वाले ग्लवबॉक्स एएफएम सिस्टम को नेशनल साइंस फाउंडेशन मेजर रिसर्च इंस्ट्रूमेंटेशन (एनएसएफ एमआरआई) ग्रांट नंबर 1727026 के तहत खरीदा गया था, जिसने पीएचडी, एसीपी और ओओएम के लिए आंशिक सहायता भी प्रदान की थी। ओओएम के लिए आंशिक समर्थन एनएसएफ कैरियर अनुदान संख्या 1945650 द्वारा प्रदान किया गया था। डेलावेयर विश्वविद्यालय में अनुसंधान, कृत्रिम स्पिन-बर्फ संरचनाओं के निर्माण और इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोपी लक्षण वर्णन सहित, अमेरिकी ऊर्जा विभाग, बुनियादी ऊर्जा विज्ञान कार्यालय, सामग्री विज्ञान और इंजीनियरिंग विभाग द्वारा पुरस्कार डीई-एससी0020308 के तहत समर्थित था। लेखक ों ने सहायक चर्चाओं और नी-एमएन-गा नमूनों की तैयारी के लिए डॉ मेधा वेलिगाटला और पीटर मुलनर को धन्यवाद दिया, साथ ही डॉ कोरी एफाव और लांस पैटन को पूरक फ़ाइल 1 सहित एमएफएम मानक संचालन प्रक्रिया में उनके योगदान के लिए धन्यवाद दिया।

नोट: नीचे दिए गए प्रोटोकॉल के अलावा, यहां उपयोग किए जाने वाले उपकरण के लिए विशिष्ट और सामान्य एमएफएम इमेजिंग के लिए तैयार एक विस्तृत चरण-दर-चरण एमएफएम मानक संचालन प्रक्रिया (एसओपी) पूरक फ़ाइल 1 के ?...

उच्च-रिज़ॉल्यूशन एमएफएम इमेजिंग के लिए आवश्यक है कि प्रत्येक पंक्ति के लिए पहले एक संबंधित उच्च-रिज़ॉल्यूशन, उच्च-निष्ठा स्थलाकृति स्कैन प्राप्त किया जाए। यह स्थलाकृति स्कैन आमतौर पर आंतरायिक संपर?...

<table border="1" fo:keep-together.within-page="1" fo:keep-with-next.within-page="always">
	<tbody>
		<tr>
			<td>Atomic force microscope</td>
			<td>Bruker</td>
			<td>Dimension Icon</td>
			<td>Uses Nanoscope control software</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>Glovebox, inert atmosphere</td>
			<td>MBraun</td>
			<td>LabMaster Pro MB200B + MB20G gas purification unit</td>
			<td>Custom design (leaktight electrical feedthroughs, vibration isolation, acoustical noise and air current minimization, etc.) and depth for use with Bruker Dimension Icon AFM, 3 gloves, argon atmosphere</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>MFM probe</td>
			<td>Bruker</td>
			<td>MESP</td>
			<td>k = 3 N/m, f0 = 75 kHz, r = 35 nm, 400 Oe coercivity, 1 x 10-13 EMU moment. An improved version with tighter specifications, the MESP-V2, is now available. We have also used Bruker&#39;s MESP-RC (2x higher resonance frequency than the standard MESP, f0 = 150 kHz, with a marginally stiffer nominal spring constant of 5 N/m) and other MESP variants designed for low (0.3 x 10-13 EMU) or high (3 x 10-13 EMU) moment (i.e., MESP-LM or MESP-HM, respectively) or coercivity. A variety pack of 10 probes containing 4x regular MESP, 3x MESP-LM, and 3x MESP-HM variants is available from Bruker as MESPSP. Other vendors also manufacture MFM probes with specifications similar to the MESP (e.g., PPP-MFMR from Nanosensors, also available in a variety of variants, including -LC for low coercivity, -LM for low moment, and SSS for &#34;super sharp&#34; decreased tip radius; MAGT from AppNano, available in low moment [-LM] and high moment [-HM] variants). Similarly, Team Nanotec offers a line of high resolution MFM probes (HR-MFM) with several options in terms of cantilever spring constant and magnetic coating thickness.</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>MFM test sample</td>
			<td>Bruker</td>
			<td>MFMSAMPLE</td>
			<td>Section of magnetic recording tape mounted on a 12 mm diameter steel puck; useful for troubleshooting and ensuring the MFM probe is magnetized and functioning properly</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>Nanscope Analysis</td>
			<td>Bruker</td>
			<td>Version 2.0</td>
			<td>Free AFM image processing and analysis software package, but proprietary, designed for, and limited to Bruker AFMs; similar functionality is available from free, platform-independent AFM image processing and analysis software packages such as Gwyddion, WSxM, and others</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>Probe holder</td>
			<td>Bruker</td>
			<td>DAFMCH or DCHNM</td>
			<td>Specific to the particular AFM used; DAFMCH is the standard contact and tapping mode probe holder, suitable for most MFM applications, while DCHNM is a special nonmagnet version for particularly sensitive MFM imaging</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>Probe magnetizer</td>
			<td>Bruker</td>
			<td>DMFM-START</td>
			<td>MFM &#34;starter kit&#34; designed specifically for the Dimension Icon AFM; includes 1 box of 10 MESP probes (see above), a probe magnetizer (vertically aligned, ~2,000 Oe magnet in a mount designed to accommodate the DAFMCH or DCHNM probe holder, above), and a magnetic tape sample (MFMSAMPLE, above)</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>Sample Puck</td>
			<td>Ted Pella</td>
			<td>16218</td>
			<td>Product number is for 15 mm diameter stainless steel sample puck. Also available in 6 mm, 10 mm, 12 mm, and 20 mm diameters at https://www.tedpella.com/AFM_html/AFM.aspx#anchor842459</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>Scanning electron microscope (SEM)</td>
			<td>Zeiss Merlin</td>
			<td>Gemini II</td>
			<td>SEM parameters: 5 keV accelaration voltage, 30 pA electron current, 5 mm working distance. Due to nm scale ASI lattice features, the aperture and stigmation alignment were adjusted before acquisition to produce high quality images.</td>
		</tr>
	</tbody>
</table>

optimizing magnetic force microscopy resolution and sensitivity to visualize nanoscale magnetic domains

चुंबकीय बल माइक्रोस्कोपी (एमएफएम) नैनोस्केल रिज़ॉल्यूशन के साथ एक नमूना सतह पर स्थानीय चुंबकीय क्षेत्रों का मानचित्रण करने में सक्षम बनाता है। एमएफएम करने के लिए, एक परमाणु बल माइक्रोस्कोपी (एएफएम) जांच जिसकी नोक को लंबवत रूप से चुंबकित किया गया है (यानी, प्रोब कैंटिलीवर के लंबवत) नमूना सतह के ऊपर एक निश्चित ऊंचाई पर दोलन किया जाता है। दोलन चरण या आवृत्ति में परिणामी बदलाव, जो प्रत्येक पिक्सेल स्थान पर ऊर्ध्वाधर चुंबकीय बल ढाल के परिमाण और संकेत के आनुपातिक होते हैं, फिर ट्रैक और मैप किए जाते हैं। यद्यपि तकनीक का स्थानिक रिज़ॉल्यूशन और संवेदनशीलता सतह के ऊपर लिफ्ट ऊंचाई कम होने के साथ बढ़ती है, बेहतर एमएफएम छवियों के लिए यह सीधा रास्ता कम दूरी के वैन डेर वाल्स बलों के कारण स्थलाकृतिक कलाकृतियों को कम करने, संवेदनशीलता में सुधार के लिए दोलन आयाम में वृद्धि और सतह संदूषकों की उपस्थिति (विशेष रूप से परिवेश की परिस्थितियों में आर्द्रता के कारण पानी) जैसे विचारों से जटिल है। इसके अलावा, जांच के चुंबकीय द्विध्रुवीय क्षण के अभिविन्यास के कारण, एमएफएम आंतरिक रूप से आउट-ऑफ-प्लेन मैग्नेटाइजेशन वेक्टर वाले नमूनों के प्रति अधिक संवेदनशील है। यहां, <0.1 पीपीएम ओ2 और एच2ओ के साथ एक निष्क्रिय (आर्गन) वायुमंडल दस्तानेबॉक्स में प्राप्त एकल और द्विघटक नैनोमैग्नेट कृत्रिम स्पिन-आइस (एएसआई) सरणियों की उच्च-रिज़ॉल्यूशन स्थलाकृतिक और चुंबकीय चरण छवियों की सूचना दी गई है। स्थलाकृतिक कलाकृतियों की शुरूआत से बचने के साथ-साथ उच्च रिज़ॉल्यूशन और संवेदनशीलता के लिए लिफ्ट ऊंचाई और ड्राइव आयाम के अनुकूलन पर चर्चा की जाती है, और एएसआई नमूना सतह के विमान में संरेखित नैनोस्केल बार मैग्नेट (~ 250 एनएम लंबा और <100 एनएम चौड़ा) के दोनों छोर से निकलने वाले आवारा चुंबकीय क्षेत्रों का पता लगाया जाता है। इसी तरह, नी-एमएन-गा चुंबकीय आकार मेमोरी मिश्र धातु (एमएसएमए) के उदाहरण का उपयोग करते हुए, एमएफएम को चुंबकीय चरण संवेदनशीलता के साथ एक निष्क्रिय वातावरण में प्रदर्शित किया जाता है जो प्रत्येक ~ 200 एनएम चौड़ा आसन्न चुंबकीय डोमेन की एक श्रृंखला को हल करने में सक्षम है।

कृत्रिम स्पिन-आइस (एएसआई) लैटिस कृत्रिम स्पिन आइस को लिथोग्राफिक रूप से परिभाषित दो आयामी नेटवर्क के रूप में परिभाषित किया जाता है। वे डिजाइन द्वारा निराशा प्रदर्शित करते हैं (यानी, ऊर्जा परिद?...

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Optimizing Magnetic Force Microscopy Resolution and Sensitivity to Visualize Nanoscale Magnetic Domains

चुंबकीय बल माइक्रोस्कोपी (एमएफएम) नैनोस्केल रिज़ॉल्यूशन के साथ नमूना स्थलाकृति और स्थानीय चुंबकीय क्षेत्र की ताकत को मापने के लिए एक लंबवत चुंबकित परमाणु बल माइक्रोस्कोपी जांच का उपयोग करता है। एमएफएम स्थानिक संकल्प और संवेदनशीलता को अनुकूलित करने के लिए बढ़ते ड्राइव (दोलन) आयाम के खिलाफ घटती लिफ्ट ऊंचाई को संतुलित करने की आवश्यकता होती है, और एक निष्क्रिय वातावरण ग्लवबॉक्स में संचालन से लाभ होता है।

नैनोस्केल चुंबकीय डोमेन की कल्पना करने के लिए चुंबकीय बल माइक्रोस्कोपी संकल्प और संवेदनशीलता का अनुकूलन

Magnetic force microscopy (MFM) enables mapping local magnetic fields across a sample surface with nanoscale resolution. To perform MFM, an atomic force ...

चुंबकीय बल माइक्रोस्कोपी, या एमएफएम, नैनोस्केल रिज़ॉल्यूशन के साथ नमूना स्थलाकृति और स्थानीय चुंबकीय क्षेत्र की ताकत को मापने के लिए एक लंबवत-चुंबकित परमाणु बल माइक्रोस्कोपी जांच को नियोजित करता है। बढ़ते ड्राइव या दोलन आयाम के खिलाफ लिफ्ट ऊंचाई को कम करके, एमएफएम स्थानिक संकल्प और संवेदनशीलता को अनुकूलित किया जा सकता है। कृत्रिम स्पिन आइस के स्पिन-वेव कंप्यूटिंग अनुप्रयोग नैनोएलीमेंट मैग्नेटाइजेशन बनावट के ज्ञान पर भरोसा करते हैं क्योंकि वे मैग्नोनिक प्रतिक्रिया निर्धारित करते हैं।उच्च-रिज़ॉल्यूशन एमएफएम बर्फीले वैश्विक चुंबकीकरण राज्यों की पहचान को सक्षम बनाता है। प्रक्रिया का प्रदर्शन ओलिविया मैरीन होगा, जो बोइस स्टेट यूनिवर्सिटी में सामग्री विज्ञान और इंजीनियरिंग में एक वर्तमान डॉक्टरेट छात्र है, जो मेरी प्रयोगशाला के लिए एक पूर्व स्नातक एएफएम शोधकर्ता है। शुरू करने के लिए, एएफएम नियंत्रण सॉफ़्टवेयर खोलें और इलेक्ट्रिकल चुंबकीय लिफ्ट मोड प्रयोग श्रेणी और समूह के तहत एमएफएम वर्कस्पेस का चयन करें।जांच धारक को एक माउंटिंग ब्लॉक पर सावधानीपूर्वक रखकर, फिर जांच धारक पर जांच को लोड करके, जांच को संरेखित करके और इसे स्प्रिंग-लोडेड क्लिप के साथ सुरक्षित करके एक उपयुक्त जांच धारक पर चुंबकीय कोटिंग के साथ एक एएफएम जांच माउंट करें। सुनिश्चित करें कि जांच सभी किनारों के समानांतर है और ऑप्टिकल माइक्रोस्कोप के तहत निरीक्षण करके धारक के चैनल के पीछे को नहीं छूती है। धीरे से चिमटी की एक जोड़ी के साथ आवश्यक जांच में हेरफेर करें।2 से 5 सेकंड के लिए एक मजबूत, स्थायी चुंबक का उपयोग करके जांच को लंबवत रूप से चुंबकित करें ताकि जांच टिप का चुंबकीय द्विध्रुवीय अभिविन्यास नमूने के लंबवत होगा। एएफएम बाड़े को छूकर किसी भी इलेक्ट्रोस्टैटिक बिल्डअप का निर्वहन करने का ध्यान रखते हुए एएफएम सिर को सावधानीपूर्वक हटा दें। जांच धारक पर छेद को सिर पर संपर्क पिन के साथ संरेखित करके जांच और जांच धारक स्थापित करें।एएफएम पर सिर को पुनर्स्थापित करें और इसे जगह पर सुरक्षित करें। लेजर को एमएफएम जांच कैंटिलीवर के केंद्र पर और स्थिति-संवेदनशील डिटेक्टर में संरेखित करें। इष्टतम संवेदनशीलता के लिए, कैंटिलीवर के पीछे लेजर को कैंटिलीवर के बाहर के छोर से टिप झटके के अनुरूप स्थान पर संरेखित करें।डिटेक्टर पर परावर्तित लेजर बीम को केंद्र में रखने के लिए बाएं-दाएं और ऊपर-नीचे विक्षेपण को कम करते हुए पीएसडी पर योग संकेत को अधिकतम करें। नमूना एएफएम चक वैक्यूम पोर्ट पर रखें। चुंबकीय नमूना धारक का उपयोग करने से बचें क्योंकि यह नमूना को प्रभावित कर सकता है और / या एमएफएम माप में हस्तक्षेप कर सकता है।नमूना को एएफएम चरण में सुरक्षित करने के लिए चक वैक्यूम चालू करें। एएफएम नियंत्रण सॉफ़्टवेयर पर लौटें, सेटअप पर जाएं और चुने हुए जांच प्रकार का चयन करें। कैंटिलीवर को फोकस में लाएं और ऑप्टिकल माइक्रोस्कोप व्यू के भीतर क्रॉसहेयर को संरेखित करें ताकि एमएफएम जांच कैंटिलीवर के पीछे तैनात किया जा सके जहां चयनित जांच के आधार पर ज्ञात टिप झटके का उपयोग करके टिप स्थित है।नेविगेट विंडो खोलें और एएफएम चरण और नमूना रखें ताकि रुचि का क्षेत्र सीधे एएफएम टिप के नीचे हो। एएफएम सिर को तब तक कम करें जब तक कि नमूना सतह ऑप्टिकल दृश्य में फोकस में न आ जाए। सेटअप पर वापस जाएं, मैनुअल ट्यून का चयन करें, और स्टार्ट और एंड आवृत्तियों को चुनकर एक कैंटिलीवर ट्यून करें जो चयनित जांच की अपेक्षित अनुनाद आवृत्ति को फैलाने के लिए चुने गए क्षेत्र में डिथर पीजो ड्राइव आवृत्ति को साफ करेगा।ड्राइव आवृत्ति ऑफसेट और लक्ष्य आयाम चुनें। फिर कैंटिलीवर को ट्यून करें और वांछित आयाम सेट बिंदु सेट करें। नमूना सतह पर संलग्न करें और नमूना और रुचि की विशेषताओं के आधार पर वांछित स्कैन आकार सेट करें।आयाम सेटपॉइंट को एक से दो नैनोमीटर की वृद्धि में बढ़ाएं जब तक कि टिप नमूना सतह के साथ संपर्क खो न दे, जैसा कि ट्रेस द्वारा देखा जाता है और ऊंचाई सेंसर चैनल में एक-दूसरे को ट्रैक करने में विफल रहने वाली लाइनों को पुन: ट्रैक करता है। फिर आयाम सेटपॉइंट को दो से चार नैनोमीटर तक कम करें ताकि टिप सिर्फ नमूना सतह के संपर्क में हो। उन्हें समायोजित करके आनुपातिक और अभिन्न लाभ को अनुकूलित करें ताकि वे शोर को कम करते हुए नमूना सतह स्थलाकृति को ट्रैक करने के लिए प्रतिक्रिया प्रणाली को मजबूर करने के लिए पर्याप्त हों।एक बार एएफएम स्थलाकृति इमेजिंग पैरामीटर अनुकूलित हो जाने के बाद, सतह से थोड़ी दूरी वापस लें और जांच ट्यूनिंग मेनू पर लौट आएं। इंटरलेव्ड लिफ्ट मोड एमएफएम लाइन प्राप्त करने के लिए उपयोग की जाने वाली दूसरी कैंटिलीवर ट्यून करें, जिससे पिछले मेनलाइन मापदंडों से इस धुन के परिणामों को अनलिंक करना सुनिश्चित हो सके। इंटरलेव्ड लिफ्ट मोड ट्यून में, पीक ऑफसेट को 0% पर सेट करें, स्टार्ट और एंड आवृत्तियों का चयन करें जो जांच की अनुनाद आवृत्ति को फैलाने वाले क्षेत्र में शुष्क आवृत्ति को साफ करेंगे।मेनलाइन लक्ष्य आयाम से थोड़ा कम होने के लिए इंटरलेव्ड लिफ्ट मोड लक्ष्य आयाम समायोजित करें। यह इष्टतम पार्श्व रिज़ॉल्यूशन के लिए कम लिफ्ट ऊंचाइयों का उपयोग करते समय सतह पर प्रहार किए बिना उच्च संवेदनशीलता एमएफएम इमेजिंग को सक्षम करेगा। सतह पर फिर से जुड़ने के लिए कैंटिलीवर ट्यून विंडो छोड़ दें।इमेजिंग मापदंडों को अनुकूलित करने के लिए, प्रारंभिक लिफ्ट स्कैन ऊंचाई को 25 नैनोमीटर पर सेट करें, फिर धीरे-धीरे दो से पांच नैनोमीटर की वृद्धि में कमी करें। एक बार जब जांच सिर्फ सतह पर हमला करना शुरू कर देती है, तो जांच टिप को संरक्षित करने और स्थलाकृतिक कलाकृतियों की शुरूआत को रोकने के लिए तुरंत स्कैन ऊंचाई बढ़ाएं। दोलन आयाम में दो से पांच नैनोमीटर के अनुरूप छोटी वृद्धि में ड्राइव आयाम बढ़ाएं जब तक कि इंटरलेव ड्राइव आयाम मेनलाइन ड्राइव आयाम से अधिक न हो जाए या जांच सतह से संपर्क करना शुरू न कर दे।फिर ड्राइव आयाम को थोड़ा कम करें ताकि एमएफएम चरण चैनल में कोई स्पाइक्स न दिखाई दे। स्थलाकृतिक कलाकृतियों से मुक्त उच्च रिज़ॉल्यूशन एमएफएम छवि प्राप्त होने तक उत्तरोत्तर छोटी वृद्धि में समायोजित करके लिफ्ट स्कैन ऊंचाई और ड्राइव आयाम को पुनरावर्ती रूप से अनुकूलित करना जारी रखें। चुंबकीय बल माइक्रोस्कोपी का उपयोग जुड़वां सीमाओं को चित्रित करने और एक लागू चुंबकीय क्षेत्र या बल के जवाब में उनके आंदोलन को ट्रैक करने के लिए किया जाता है।पॉलिश किए गए, एकल क्रिस्टल निकल-मैंगनीज-गैलियम नमूने की चुंबकीय चरण छवियां जुड़वां सीमाओं के पार विशिष्ट सीढ़ी चुंबकीय अभिविन्यास दिखाती हैं। नमूने की 3 डी स्थलाकृति के शीर्ष पर एक रंगीन त्वचा के रूप में चित्रित चुंबकीय चरण छवि स्थलाकृतिक विशेषताओं पर स्विच करने वाले चुंबकीय डोमेन की लंबी दिशा दिखाती है। एमएफएम स्थानिक रिज़ॉल्यूशन और संवेदनशीलता को अनुकूलित करने से अक्रिय वायुमंडलीय दस्ताने बॉक्स में काम करने से लाभ होता है और बढ़ते ड्राइव या दोलन आयाम के खिलाफ लिफ्ट ऊंचाई को कम करने की आवश्यकता होती है।कृत्रिम स्पिन बर्फ की स्थिति में अंतर्निहित चुंबकीकरण विन्यास का अध्ययन करने के लिए उच्च रिज़ॉल्यूशन, उच्च संवेदनशीलता एमएफएम महत्वपूर्ण है और स्पिन-वेव कंप्यूटिंग के तेजी से विकासशील क्षेत्र को भी आगे बढ़ा सकता है।

Research

JoVE Journal

Engineering

High-Sensitivity Nuclear Magnetic Resonance at Giga-Pascal Pressures: A New Tool for Probing Electronic and Chemical Properties of Condensed Matter under Extreme Conditions

चरम स्थितियों के तहत संघनित मामले की इलेक्ट्रॉनिक और रासायनिक गुणों की जांच के लिए एक नया उपकरण: Giga-पास्कल दबाव पर उच्च संवेदनशीलता परमाणु चुंबकीय अनुनाद

Nuclear Magnetic Resonance (NMR) is one of the most important techniques for the study of condensed matter systems, their chemical structure, and their ...

Preparation and Friction Force Microscopy Measurements of Immiscible, Opposing Polymer Brushes

पॉलिमर ब्रश का विरोध अमिश्रणीय की तैयारी और घर्षण बल माइक्रोस्कोपी माप,

Solvated polymer brushes are well known to lubricate high-pressure contacts, because they can sustain a positive normal load while maintaining low ...

Phase Diagram Characterization Using Magnetic Beads as Liquid Carriers

चरण आरेख विशेषता तरल वाहक के रूप में चुंबकीय मोतियों का उपयोग

Magnetic beads with ~1.9 &#181;m average diameter were used to transport microliter volumes of liquids between contiguous liquid segments with a tube for ...

Frequency Mixing Magnetic Detection Scanner for Imaging Magnetic Particles in Planar Samples

फ्रीक्वेंसी Planar नमूने में चुंबकीय कण इमेजिंग के लिए चुंबकीय जांच स्कैनर मिश्रण

The setup of a planar Frequency Mixing Magnetic Detection (p-FMMD) scanner for performing Magnetic Particles Imaging (MPI) of flat samples is presented. ...

High-resolution Thermal Micro-imaging Using Europium Chelate Luminescent Coatings

उच्च संकल्प थर्मल माइक्रो इमेजिंग युरोपियम Chelate Luminescent कोटिंग्स का उपयोग करना

Micro-electronic devices often undergo significant self-heating when biased to their typical operating conditions. This paper describes a convenient ...

Sub-nanometer Resolution Imaging with Amplitude-modulation Atomic Force Microscopy in Liquid

तरल में आयाम मॉडुलन परमाणु शक्ति माइक्रोस्कोपी के साथ उप नैनोमीटर संकल्प इमेजिंग

Atomic force microscopy (AFM) has become a well-established technique for nanoscale imaging of samples in air and in liquid. Recent studies have shown ...

Fabrication of Magnetic Nanostructures on Silicon Nitride Membranes for Magnetic Vortex Studies Using Transmission Microscopy Techniques

चुंबकीय Nanostructures संचरण माइक्रोस्कोप तकनीक का उपयोग कर अध्ययन के लिए सिलिकॉन नाइट्राइड झिल्ली पर चुंबकीय का निर्माण

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A Random-displacement Measurement by Combining a Magnetic Scale and Two Fiber Bragg Gratings

एक चुंबकीय स्केल और दो फाइबर ब्रैग ग्रेटिंग के संयोजन से एक यादृच्छिक विस्थापन माप

Long-distance displacement measurements using optical fibers have always been a challenge in both basic research and industrial production. We developed ...

Enrich and Expand Rare Antigen-specific T Cells with Magnetic Nanoparticles

समृद्ध और चुंबकीय नैनोकणों के साथ दुर्लभ प्रतिजन-विशिष्ट टी कोशिकाओं का विस्तार

We have developed a tool to both enrich and expand antigen-specific T cells. This can be helpful in cases such as to A) detect the existence of ...

Application of a Coupling Agent to Improve the Dielectric Properties of Polymer-Based Nanocomposites

पॉलिमर-आधारित नैनोकम्पोसिट्स के डाइइलेक्ट्रिक गुणों में सुधार करने के लिए एक कपलिंग एजेंट का आवेदन

In this work, an easy, low-cost, and widely applicable method was developed to improve the compatibility between the ceramic fillers and the polymer ...