JoVE Logo

Sign In

توصيف التعديلات السطحية من التداخل الضوء الأبيض: تطبيقات في التتفيل ايون، التذرية الليزر، والتجارب علم احتكاك المفاصل

15.6K Views

11:47 min

February 27th, 2013

DOI :

10.3791/50260-v

February 27th, 2013


Transcript

Explore More Videos

72 Profilometry AFM SEM

Chapters in this video

0:05

Title

2:42

Measurement of Wear Scar Volume using Optical Interferometry

7:07

Volume Analysis: Line Wear Scar

8:53

Volume Analysis: Ion Sputter Crater

10:45

Conclusion

Related Videos

article

10:22

في الموقع سيمز والأشعة تحت الحمراء الطيفي من السطوح محددة جيدا من إعداد لينة الهبوط من الأيونات اختيارها قداس-

18.1K Views

article

09:48

التحقيق احدة جزيء التصاق بواسطة القوة الذرية الطيفي

10.3K Views

article

08:48

انتقائية المساحة تعديل السيليكون بلل السطح بواسطة الليزر النبضي للأشعة فوق البنفسجية تشعيع في البيئة السائلة

8.2K Views

article

09:21

تجارب على الموجات فوق الصوتية التزييت باستخدام Tribometer Piezoelectrically بمساعدة وProfilometer البصرية

12.5K Views

article

10:27

تطور السيليكا طلاءات الجسيمات النانوية البوليستر على السطوح المعرضة لأشعة الشمس

9.5K Views

article

06:26

التحول الشرقي في الكريستال السائل الناجم عن النمو الديناميكي للصفائح الرطب بينية

7.1K Views

article

11:54

النمو والخصائص الكيميائية الكتروستاتي للمعدن/ﻻلو3/SrTiO3 هيتيروستروكتوريس

10.2K Views

article

07:24

التصوير التاكل في واجهه الطلاء المعدني باستخدام مقياس الطيف الطيفي الثانوي لأيونات الطيران

8.2K Views

article

11:03

توصيف المقياس النانوي للواجهات السائلة الصلبة عن طريق اقتران طحن الحزمة الأيونية المركزة على التبريد مع المجهر الإلكتروني الماسح والتحليل الطيفي

3.4K Views

article

06:24

إعداد الجسيمات النانوية لتحليل TOF-SIMS و XPS

7.8K Views

JoVE Logo

Privacy

Terms of Use

Policies

Research

Education

ABOUT JoVE

Copyright © 2025 MyJoVE Corporation. All rights reserved