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使用互补金属氧化物半导体高密度微电极阵列系统从急性脑切片中获得高质量的癫痫样活性

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September 27th, 2024

DOI :

10.3791/67065-v

September 27th, 2024


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211 4 0 HD MEA

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Introduction

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Equipment Preparation for CMOS‐HD‐MEA Experimentation

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Chip Preparation and Placement of Brain Slice to Record High‐Quality Seizure‐Like Activity Using CMOS‐HD‐MEA System

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