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Kong Boon Yeap

Fraunhofer Institute for Ceramic Technologies and Systems

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In Situ Time-dependent Dielectric Breakdown in the Transmission Electron Microscope: A Possibility to Understand the Failure Mechanism in Microelectronic Devices

Zhongquan Liao^1,2,

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Oliver Aubel⁴,

Armand Beyer⁴,

Meike Hauschildt⁴,

Ehrenfried Zschech^1,2

¹, Fraunhofer Institute for Ceramic Technologies and Systems,

²Dresden Center for Nanoanalysis, Technische Universität Dresden,

³, Globalfoundries Fab 8,

⁴, Globalfoundries Fab 1

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