Lucas Fugikawa-Santos

Institute of Geosciences and Exact Sciences

São Paulo State University - UNESP

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The Effect of Anodization Parameters on the Aluminum Oxide Dielectric Layer of Thin-Film Transistors

Tiago C. Gomes^*,1,

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Jeff Kettle^*,2,

Lucas Fugikawa-Santos^*,3

¹School of Technology and Sciences, São Paulo State University - UNESP,

²Scholl of Electronic Engineering, Bangor University,

³Institute of Geosciences and Exact Sciences, São Paulo State University - UNESP

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