Hier präsentieren wir ein Protokoll zur Verwendung von Bildverarbeitungssoftware zur Stabilisierung dynamischer Prozesse während der TEM-Bildgebung, während gleichzeitig mehrere Ströme von Metadaten zu jedem Bild in einer navigierbaren Zeitleiste indiziert werden. Wir zeigen, wie diese Plattform eine automatisierte Kalibrierung und Kartierung der Elektronendosis im Verlauf eines Experiments ermöglicht.
Die Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) ermöglicht es Anwendern, Materialien auf ihrer fundamentalen, atomaren Skala zu untersuchen. Komplexe Experimente erzeugen routinemäßig Tausende von Bildern mit zahlreichen Parametern, die eine zeitaufwändige und komplizierte Analyse erfordern. AXON synchronicity ist eine Softwarelösung für die Synchronisierung der maschinellen Bildverarbeitung (MVS), die entwickelt wurde, um die Probleme zu lösen, die mit TEM-Studien verbunden sind. Einmal auf dem Mikroskop installiert, ermöglicht es die kontinuierliche Synchronisation von Bildern und Metadaten, die während eines Experiments vom Mikroskop, Detektor und In-situ-Systemen erzeugt werden. Diese Konnektivität ermöglicht die Anwendung von Bildverarbeitungsalgorithmen, die eine Kombination aus räumlichen, Strahl- und digitalen Korrekturen anwenden, um einen interessierenden Bereich innerhalb des Sichtfelds zu zentrieren und zu verfolgen und eine sofortige Bildstabilisierung zu ermöglichen. Zusätzlich zu der erheblichen Verbesserung der Auflösung, die durch eine solche Stabilisierung ermöglicht wird, ermöglicht die Metadatensynchronisation die Anwendung von Berechnungs- und Bildanalysealgorithmen, die Variablen zwischen Bildern berechnen. Diese berechneten Metadaten können verwendet werden, um Trends zu analysieren oder wichtige Interessenbereiche innerhalb eines Datensatzes zu identifizieren, was zu neuen Erkenntnissen und der Entwicklung ausgefeilterer Bildverarbeitungsfunktionen in der Zukunft führt. Ein solches Modul, das auf diesen berechneten Metadaten aufbaut, ist die Dosiskalibrierung und -verwaltung. Das Dosismodul bietet modernste Kalibrierung, Verfolgung und Verwaltung sowohl der Elektronenfluenz (e-/Å 2·s-1) als auch der kumulativen Dosis (e-/Å2), die Pixel für Pixel an bestimmte Bereiche der Probe abgegeben wird. Dies ermöglicht einen umfassenden Überblick über die Wechselwirkung zwischen Elektronenstrahl und Probe. Die Analyse von Experimenten wird durch eine spezielle Analysesoftware optimiert, in der Datensätze, die aus Bildern und entsprechenden Metadaten bestehen, einfach visualisiert, sortiert, gefiltert und exportiert werden können. In Kombination erleichtern diese Tools eine effiziente Zusammenarbeit und experimentelle Analysen, fördern das Data Mining und verbessern die Mikroskopieerfahrung.
Transmissionselektronenmikroskope (TEMs) und ihre Fähigkeiten haben enorm von den Fortschritten bei Kameras, Detektoren, Probenhaltern und Computertechnologien profitiert. Diese Fortschritte werden jedoch durch unzusammenhängende Datenströme, Einschränkungen der menschlichen Bedienung und umständliche Datenanalyse behindert 1,2. Darüber hinaus adaptieren In-situ- und Operando-Experimente TEMs in Echtzeit-Labore im Nanomaßstab, so dass Proben in gasförmigen oder flüssigen Umgebungen untersucht werden können, während gleichzeitig eine Reihe externer Reize angewendet werden 3,4,5. Die Einführung solch komplexer Workflows hat diese Einschränkungen nur noch verstärkt, und die daraus resultierende Zunahme der Größe und Komplexität dieser Datenströme ist ein Bereich, der zunehmend Anlass zur Sorge gibt. Daher wird immer mehr Wert auf die Nutzung maschineller Handlungsfähigkeit gelegt, um Daten zu finden, darauf zuzugreifen, zu interagieren und wiederzuverwenden, eine Praxis, die als FAIR-Prinzipien6 bekannt ist. Die Veröffentlichung von Forschungsdaten in Übereinstimmung mit dem Konzept der FAIR-Prinzipien hat von Regierungsbehörden auf der ganzen Welt positive Aufmerksamkeit erhalten7,8, und die Anwendung der FAIR-Prinzipien mit Hilfe von Bildverarbeitungssoftware ist ein wichtiger Schritt bei ihrer Einführung.
Eine Softwareplattform für die Synchronisierung des maschinellen Sehens (MVS) wurde als Antwort auf die spezifischen Probleme entwickelt, die mit der Durchführung und Analyse komplexer, metadatenintensiver TEM-Experimente (insbesondere In-situ - und Operando-Experimente) verbunden sind9. Nach der Installation auf dem TEM stellt die MVS-Software eine Verbindung, Integration und Kommunikation mit der Mikroskopsäule, den Detektoren und den integrierten In-situ-Systemen her. Dies ermöglicht es, kontinuierlich Bilder zu sammeln und diese Bilder mit ihren experimentellen Metadaten abzugleichen, wodurch eine umfassende, durchsuchbare Datenbank entsteht, eine Zeitleiste des Experiments von Anfang bis Ende (Abbildung 1). Diese Konnektivität ermöglicht es der MVS-Software, Algorithmen anzuwenden, die eine Region of Interest (ROI) intelligent verfolgen und stabilisieren, selbst wenn Proben morphologischen Veränderungen unterliegen. Die Software nimmt bei Bedarf Anpassungen an Bühnen-, Strahl- und Digitalkorrekturen vor, um den ROI durch die Funktionen Drift Control und Focus Assist zu stabilisieren. Neben der Anreicherung der Bilder mit den Rohmetadaten, die von den verschiedenen experimentellen Systemen erzeugt werden, kann die Software mithilfe von Bildanalysealgorithmen neue, computergestützte Metadaten erstellen, um Variablen zwischen den Bildern zu berechnen, die es ihr ermöglichen, Probendrift oder Fokusänderungen automatisch zu korrigieren.
TEM-Bilder und die dazugehörigen Metadaten, die durch die MVS-Software gesammelt werden, sind als experimentelle Zeitleiste organisiert, die von jedem über die kostenlose Offline-Version der Analysesoftware Studio (im Folgenden als Analysesoftware bezeichnet) geöffnet und angesehen werden kann10. Während eines Experiments synchronisiert und zeichnet die MVS-Software drei Arten von Bildern von der Kamera oder dem Detektor des Mikroskops auf, die oben auf der Zeitleiste unter dem Bildbetrachter angezeigt werden: Einzelaufnahme (einzelne Einzelaufnahmebilder, die direkt von der TEM-Software aufgenommen wurden), Rohbilder (Bilder aus dem Detektor-/Kamera-Livestream, auf die keine digitalen Driftkorrekturen angewendet wurden; diese Bilder können physisch über B. Tischbewegung oder Strahlverschiebung) und driftkorrigiert (Bilder aus dem Detektor-/Kamera-Livestream, die digital driften). Daten, die während eines Experiments oder einer Sitzung gesammelt werden, können in kleinere Abschnitte oder Datenausschnitte, die als Sammlungen bezeichnet werden, weiter verfeinert werden, ohne dass eingebettete Metadaten verloren gehen. Aus der Analysesoftware können Bilder, Bildstapel und Metadaten direkt in eine Vielzahl von Bildern und Tabellenkalkulationen im offenen Format exportiert werden, um sie mit anderen Tools und Programmen zu analysieren.
Der Rahmen der Mikroskopsteuerung, Stabilisierung und Metadatenintegration, der durch die MVS-Software ermöglicht wird, ermöglicht auch die Implementierung zusätzlicher Bildverarbeitungsprogramme oder -module, die entwickelt wurden, um Einschränkungen in den aktuellen TEM-Arbeitsabläufen zu verringern. Eines der ersten Module, das entwickelt wurde, um die Vorteile dieser Synchronisationsplattform zu nutzen, ist die Kalibrierung der Elektronendosis und die räumliche Verfolgung von strahlexponierten Bereichen innerhalb der Probe. Alle TEM-Bilder entstehen aus der Wechselwirkung zwischen der Probe und dem Elektronenstrahl. Diese Wechselwirkungen können jedoch auch zu negativen, unausweichlichen Auswirkungen auf die Probe führen, wie z. B. Radiolyse und Folgeschäden 11,12, und erfordern ein sorgfältiges Gleichgewicht zwischen der Anwendung einer ausreichend hohen Elektronendosis zur Erzeugung des Bildes und der Minimierung der resultierenden Strahlschädigung 13,14.
Obwohl sich viele Anwender auf Schirmstrommessungen verlassen, um die Elektronendosis abzuschätzen, hat sich gezeigt, dass diese Methode den tatsächlichen Strahlstrom weitgehend unterschätzt15. Qualitative Dosiswerte können über den Rasterstrom auf demselben Mikroskop mit den gleichen Einstellungen ermittelt werden, aber die Reproduktion dieser Dosisbedingungen mit unterschiedlichen Mikroskopen oder Einstellungen ist sehr subjektiv. Darüber hinaus erfordern alle Anpassungen der Bildgebungsparameter, die der Benutzer während des Experiments vornimmt, wie z. B. Spotgröße, Blende, Vergrößerung oder Intensität, eine separate Messung des Bildschirmstroms, um die resultierende Dosis zu berechnen. Der Benutzer muss entweder die Bildgebungsbedingungen, die während eines bestimmten Experiments verwendet werden, streng einschränken oder jede verwendete Linsenbedingung akribisch messen und aufzeichnen, wodurch das Experiment erheblich erschwert und über das hinausverlängert wird, was für den normalen Betrieb des Mikroskops machbar ist16,17.
Dose, für dieses Protokoll als Dosissoftware bezeichnet, ist ein Dosiskalibrierungssoftwaremodul, das einen speziellen Kalibrierhalter verwendet, der automatisierte Strommessungen ermöglicht. Ein Faraday-Becher, der Goldstandard für die genaue Strahlstromkalibrierung15, ist in die Spitze des Kalibrierhalters integriert. Die MVS-Software führt eine Reihe von Kalibrierungen des Strahlstroms und der Strahlfläche für jeden Objektivzustand durch und bettet diese Werte auf Pixelebene in die Bilder ein.
In diesem Videoartikel werden MVS-Softwareprotokolle, die entwickelt wurden, um alle Bereiche des TEM-Arbeitsablaufs zu verbessern, anhand repräsentativer Nanomaterialproben vorgestellt. Eine strahlempfindliche Zeolith-Nanopartikelprobe14 wird verwendet, um die Arbeitsabläufe bei der Kalibrierung und dem Dosismanagement zu demonstrieren. Wir führen ein repräsentatives in situ Erwärmungsexperiment mit einer Au/FeOx Nanokatalysator 18,19 Probe durch, die beim Erhitzen signifikante morphologische Veränderungen erfährt. Dieses In-situ-Experiment unterstreicht die Stabilisierungsalgorithmen der Software und ihre Fähigkeit, mehrere Ströme von Metadaten zusammenzuführen, was eine inhärente Herausforderung für In-situ- und Operando-Studien darstellt. Obwohl im Protokoll nicht beschrieben, diskutieren wir aufgrund ihrer einzigartigen Elektronendosisempfindlichkeit repräsentative Beispiele für den Nutzen der Software für Flüssig-EM-Studien (für die Protokolle bereits in der Literatur20,21,22 berichtet wurden) und wie diese Techniken angewendet werden können, um das Verständnis der Wirkung der Dosis auf Flüssig-EM-Experimente zu verbessern. Schließlich zeigen wir, wie die Datenanalyse mithilfe der Offline-Analysesoftware optimiert wird, um eine Vielzahl von Bild-, Video- und Datendateien zu visualisieren, zu filtern und in andere zugängliche Formate zu exportieren.
Abbildung 1: Beispiele für Benutzeroberflächen für MVS und Analysesoftware. (A) Bildanzeigebereich und Bedienfeld der Synchronisierungssoftware. Eine Verbindung zwischen dem TEM und der Synchronisationssoftware wird durch Betätigen der Schaltfläche Verbinden hergestellt, die die Bilder und Metadaten vom Mikroskop in die Synchronisationssoftware streamt. Über den Bildbetrachter kann der Bediener eine Vielzahl von bildverarbeitungsgestützten Vorgängen ausführen, wie z. B. Driftkorrektur und Fokus-Assistent. Es bietet auch die Möglichkeit, Tag-Bilder und Überprüfungssitzungen anzuwenden, ohne die Datenerfassung zu unterbrechen. (B) Screenshot der Bildanalysesoftware, in dem die Position des Bildansichtsfensters, der Zeitleiste und des Bedienfelds "Metadaten und Analyse" hervorgehoben ist. Die Analysesoftware kann jederzeit während eines Experiments aufgerufen werden, um die bis zu diesem Zeitpunkt aufgenommenen Bilder über die Schaltfläche "Review Session" zu überprüfen. Bitte klicken Sie hier, um eine größere Version dieser Abbildung zu sehen.
1. Methode 1: Dosiskalibrierung des Transmissionselektronenmikroskops für TEM- und Raster-TEM-Bildgebungsmodi (STEM)
2. Methode 2: Bestimmung der Dosisschwelle mit Hilfe des MVS und der Dosissoftware
3. Methode 3: Metadaten- und Trendanalyse und Datenexport mit Hilfe der Analysesoftware
4. Methode 4: In-situ-Erhitzungsuntersuchung von Gold auf Eisenoxid-Nanopartikeln
Diese Arbeit unterstreicht den Nutzen der Datenerfassung mit MVS-Software für TEM-Bildgebung und In-situ-Experimente. Die Ausrichtung des Mikroskops und die Zustandseinstellung wurden mit den Standardsteuerungen des TEM-Herstellers durchgeführt und ausgewählt. Nach der Ersteinrichtung wurden die in diesem Videoartikel vorgestellten Protokolle über die MVS-Software durchgeführt. Für alle Experimente, die im Videoprotokoll und in repräsentativen Daten dargestellt wurden, wurde ein 300-kV-TEM verwendet, mit Ausnahme der Zeolith-Vergleichsdaten, die mit einem 200-kV-Kalt-FEG aufgenommen wurden (Abbildung 3D-F und Tabelle 1). Alle Metadaten wurden von der MVS-Software automatisch gesammelt und mit den jeweiligen Bildern abgeglichen.
Nach dem Start der Software und der Auswahl des entsprechenden Workflows aus dem Menü wird eine Verbindung zum Mikroskop hergestellt, indem die Schaltfläche Verbinden in der Symbolleiste ganz links im Bildbetrachter aktiviert wird, wie in Abbildung 1A dargestellt. Wenn die Schaltfläche " Verbinden" markiert ist, werden die Bilder und die zugehörigen Metadaten vom Mikroskop automatisch in die MVS-Software gestreamt und im Bildansichtsbereich angezeigt. Diese Bilder und die zugehörigen Metadaten werden chronologisch in einer Zeitleiste gespeichert, die geöffnet, überprüft und analysiert werden kann, ohne die Aufzeichnung neuer Daten in der Zeitleiste zu unterbrechen (Abbildung 1B). Das Streaming kann vom Nutzer jederzeit durch Deaktivierung des Connect-Icons unterbrochen werden.
Sobald die Verbindung aktiviert ist, kann auf andere Workflows zugegriffen werden, die vom MVS-Software-Framework abhängig sind. In den Beispielen, die in diesem Videoprotokoll gezeigt werden, muss eine Dosiskalibrierung durchgeführt werden, bevor die anderen Funktionen der MVS-Software verwendet werden können. Die Dosiskalibrierung ist ein automatisierter Prozess, der von der MVS-Software gesteuert wird. Es verwendet einen speziellen Faraday-Becherdosis-Kalibrierungshalter, um den Strom und die Fläche des Strahls für die Kombination von Parametern zu messen. Der in Abbildung 2 gezeigte Faraday-Becher-Kalibrierhalter wird an ein externes Pikoamperemeter angeschlossen, das den Strahlstrom präzise misst. Nach dem Einsetzen in das Mikroskop wird die Passermarkenausrichtungsbohrung zentriert und die gewünschten zu kalibrierenden Strahlbedingungen (Spotgrößen, Blenden und Vergrößerungen) in die Software eingegeben. Die Software führt für jede Kombination der ausgewählten Bedingungen eine Reihe von Kalibrierungsschritten durch. Während der Dosiskalibrierung bewegt sich der Halter automatisch zwischen dem integrierten Faraday-Stromabnehmerbecher und der Durchgangsbohrung. Die Strommessung für jede Kombination von Linsenbedingungen wird auf dem Faraday-Becher mit dem Pikoamperemeter gemessen. Dann übersetzt die Software den Tisch, um den Strahl in der Durchgangsbohrung zu zentrieren, und die Strahlfläche wird durch Bildverarbeitungsalgorithmen bestimmt. Diese Messreihe erstellt ein Profil des Zusammenhangs zwischen der Intensität/Helligkeit und der Strahlfläche. Dies ermöglicht es der Software, die Strahlfläche zu extrapolieren, wenn die Intensitäts-/Helligkeitseinstellung während eines Experiments unabhängig vom Sichtfeld angepasst wird. Anhand dieser Strahlstrom- und Strahlflächenmessungen werden Werte für die kumulative Dosis und die Dosisleistung berechnet und eine Dosiskalibrierungsdatei erstellt. Dieser Prozess definiert im Wesentlichen einen Dosis-"Fingerabdruck" für das TEM und seine individuellen Linsenbedingungen. Sobald die Dosis für das TEM kalibriert ist, kann der Benutzer normal arbeiten und die Vergrößerung und Intensität frei einstellen, ohne dass Dosisinformationen verloren gehen oder manuelle Notizen gemacht werdenmüssen 17. Nach Abschluss der Kalibrierung wird der Dosiskalibrierungshalter entfernt, sodass die Probe wie gewohnt eingesetzt werden kann. Der Kalibrierungsprozess sowohl für den TEM- als auch für den STEM-Modus dauert normalerweise weniger als 10 Minuten.
Nach der Kalibrierung der Dosisbedingungen wurde eine kommerziell erworbene Probe eines Zeolith-Nanopartikels (ZSM-5) unter Bedingungen mit hoher Dosisleistung abgebildet, um die (kumulative) Schwellendosis zu bestimmen, bei der die Probe zu geschädigt ist, um strukturelle Informationen zu liefern. Die ZSM-5 Nanopartikel wurden in Ethanol suspendiert und auf einem konventionellen Kupfer-TEM-Gitter tropfengegossen. Sie wurden kontinuierlich bei 300 kV im TEM-Modus mit einer Spotgröße von 3 und einer 100 μm Kondensatoröffnung abgebildet. Die von der MVS-Software gemessene Dosisleistung unter Bedingungen mit hoher Dosisleistung betrug 519 e-/Å2·s. Die Nanopartikel im Sichtfeld wurden kontinuierlich abgebildet, bis die Spitzen in der FFT verschwanden, was auf eine Verschlechterung der kristallinen Struktur hindeutet, wie in Abbildung 3A-C und Ergänzungsdatei 3 gezeigt. Überlagerungen (die während eines Live-Experiments oder nachträglich in der Analysesoftware hinzugefügt werden können) wurden auf die TEM-Bilder aufgebracht, um Datum und Uhrzeit, Dosisleistung, maximale (kumulative) Dosis und Vergrößerung anzuzeigen. Die Dosisleistung wurde während der Experimente konstant gehalten, wobei die kumulative Dosis (maximale Dosis) in Abhängigkeit von der Zeit zunahm. Die FFT-Peaks begannen nach 42 s kontinuierlicher Bildgebung zu verschwinden (Abbildung 3B). Nach 1 min und 20 s und einer kumulativen Dosis von ~60.000 e-/Å2 waren die FFT-Peaks vollständig verschwunden (Abbildung 3C).
Um zu zeigen, dass diese Kalibriermethode quantitative Dosismessungen erzeugt, die auf andere Mikroskope angewendet werden können, die unter anderen Einstellungen arbeiten, wurde derselbe Kalibrierprozess und das gleiche Zeolith-Abbauexperiment mit einer 200-kV-Kaltfeld-Emissionskanone (FEG) TEM und einer Spotgröße von 1 durchgeführt. Dieses Mikroskop wurde mit dem gleichen Verfahren kalibriert, das in Methode 1 beschrieben ist, und das gleiche Experiment, das in Methode 2 beschrieben ist, wurde mit den neuen Spotgrößen- und Blendeneinstellungen durchgeführt. Die Strahleinstellungen wurden so angepasst, dass der Unterschied in der angewandten Dosisleistung zwischen den beiden Experimenten vernachlässigbar war (499 e-/Å 2·s vs. 519 e-/Å 2·s). Wie in Abbildung 3D-F dargestellt und in Tabelle 1 zusammengefasst, verschwinden die FFT-Flecken nach 1 min und 50 s kontinuierlicher Bildgebung und einer kumulativen Dosis von 58.230 e-/Å2 vollständig, was mit den im ersten Experiment erzielten Werten übereinstimmt.
Ein Beispiel dafür, wie die MVS-Software von In-situ-Experimenten profitieren kann, wurde durch die Durchführung eines Erwärmungsexperiments gezeigt. Eine repräsentative Nanokatalysatorprobe, Au/FeOx (synthetisiert nach einem veröffentlichten Verfahren19), wurde als Beispielsystem ausgewählt, da sie bei hohen Temperaturen dynamischen morphologischen und strukturellen Veränderungen unterliegt. Diese temperaturinduzierte Beweglichkeit macht es schwierig, die ROI aufgrund der Eigenbewegung der Probe und der thermischen Ausdehnung des Probenträgers selbst bei Temperaturänderungen im Sichtfeld zu halten18. Mit aktivierten Funktionen "Driftkorrektur" und "Fokusassistent" wurde die Probe über einen Zeitraum von ~30 s bei 800 °C abgebildet. Bei erhöhten Temperaturen wanderten die Gold-Nanopartikel im Au/FeOx entlang der Oberfläche des Eisenoxidträgers und sinterten zu größeren Partikeln, wie in Abbildung 4 und als Film in Supplementary File 7 gezeigt. Abbildung 5 zeigt eine Reihe von TEM-Schnappschüssen (Abbildung 5A-F) eines porösen Bereichs innerhalb eines Au/FeOx Nanokatalysators, die zu verschiedenen Zeitpunkten (Abbildung 5G) während eines In-situ-Heizexperiments aufgenommen wurden. Der koordinierte Driftwert des ROI wurde von der Software automatisch berechnet. Die koordinierten Drift- und Temperaturwerte der Bilder im Verlauf der Serie sind in Abbildung 5G grafisch dargestellt. Wie erwartet, nimmt die koordinierte Drift der Probe mit zunehmendem Temperaturprofil zu, von einer Rate von ~9 nm/min auf ~62 nm/min, und beginnt in Richtung Nivellierung abzunehmen, wenn die Temperatur konstant gehalten wird. Trotz dieser hohen Driftrate und Veränderungen in der Morphologie der Probe lassen sich während des Temperaturanstiegs leicht hochauflösende Bilder erhalten, die Bewegungen innerhalb des porösen Bereichs aufzeigen, wie in der ergänzenden Datei 8 gezeigt. In der Zusatzdatei 9 finden Sie Download-Anweisungen und Computerspezifikationen.
Abbildung 2: Kalibrierung und Nachführung der Elektronendosis . (A) Die Dosis wird mit einem speziellen Probenhalter kalibriert, der einen Stromabnehmer enthält, der in der Probenebene für Strahlstrommessungen positioniert ist. (B) Illustration der Merkmale des Spitzendesigns: Links: Faradayscher Becher; Mitte: Passerbohrung; Rechts: Durchgangsbohrung (C). Die aufgebrachte Elektronendosis kann in der Software mit Hilfe von farbkodierten Karten visualisiert werden, um unterschiedliche Dosisexpositionen innerhalb eines Bildes zu kennzeichnen. Bitte klicken Sie hier, um eine größere Version dieser Abbildung zu sehen.
Abbildung 3: Elektronendosis-induzierte Degradation von Zeolith (ZSM-5) Nanopartikeln. (A-C) Schnappschüsse, die über einen Zeitraum von 1 Minute und 20 s aufgenommen wurden und Degradationsdaten zeigen, die mit einem 300 kV FEG und einer gemessenen Dosisleistung von 519 e-/Å2·s; Der Zeolith zerfällt innerhalb von 1 min und 20 s. (D-E) Schnappschüsse, die über einen Zeitraum von 1 min und 50 s aufgenommen wurden und Degradationsdaten zeigen, die mit einem 200 kV kalten FEG TEM und einer Elektronendosisleistung von 499 e-/Å2·s; Die Einschübe zeigen, dass der FFT-Spot mit der Zeit verblasst. Der Maßstabsbalken beträgt 60 nm. Bitte klicken Sie hier, um eine größere Version dieser Abbildung zu sehen.
Abbildung 4: AXON Synchronicity wendet Bildverarbeitungsalgorithmen an, um sich dynamisch entwickelnde Proben zu verfolgen und zu stabilisieren. Metadaten, die während des Experiments generiert werden, können entlang der Zeitachse dargestellt werden, sodass der Benutzer ein Bild schnell mit den zugehörigen Metadaten koppeln kann, während er durch die während des Experiments generierten Bildserien scrollt. (A-H) Bilder einer Nanokatalysatorprobe (Au/FeOx) bei 800 °C, aufgenommen über einen Zeitraum von 28 s sowohl mit (A-D) als auch ohne (E-H) der Dosiskartenüberlagerung. Rote Bereiche in der Überlagerung kennzeichnen Bereiche mit hoher kumulativer Dosisexposition, gelbe Bereiche zeigen Regionen mit geringerer Exposition an. Die Hervorhebung eines einzelnen Pixels gibt die kumulative Dosis für dieses Pixel an. Weiße Pfeile in den Feldern E-H zeigen zwei Teilchen an, die während des Experiments verschmelzen, und der orangefarbene Pfeil zeigt die Flugbahn eines sich bewegenden Goldpartikels an. (I) Die von der Analysesoftware generierte Experimentzeitleiste für die in A-H gezeigten Bildserien. Die orangefarbenen Punkte am oberen Rand der Timeline kennzeichnen rohe (nicht digital korrigierte) Bilder und die blauen Punkte kennzeichnen driftkorrigierte Bilder. Die orangefarbenen vertikalen Balken zeigen die Punkte auf der Zeitleiste an, die den gezeigten Bildern A-H entsprechen. Der Maßstabsbalken beträgt 40 nm. Bitte klicken Sie hier, um eine größere Version dieser Abbildung zu sehen.
Abbildung 5: TEM-Schnappschüsse eines porösen Bereichs innerhalb eines Au/FeOx-Nanokatalysators zu verschiedenen Zeitpunkten. Die MVS-Software stabilisiert und zentriert die Probe auch bei hohen Driftraten, wie sie während einer Temperaturrampe auftreten, durch die Anwendung von Tisch-, Strahlverschiebungs- und digitalen Korrekturen, wie sie durch Bildverarbeitungsalgorithmen angezeigt werden. (A-F) TEM-Schnappschüsse eines porösen Bereichs in einem Au/FeOx-Nanokatalysator, aufgenommen zu verschiedenen (G) Zeitpunkten während eines in situ Heizexperiments. Die Driftrate des ROI wird während eines Experiments von der MVS-Software automatisch berechnet und aufgezeichnet. Wie in (G) dargestellt, nimmt die Driftrate (orangefarbene Linie) zu, wenn das Temperaturprofil geändert wird (die blaue Linie), wenn die Temperatur steigt, und sinkt, wenn die Temperatur konstant gehalten wird. Bitte klicken Sie hier, um eine größere Version dieser Abbildung zu sehen.
Mikroskop-Typ | 300 kV FEG TEM | 200 kV kalte FEG TEM |
Spotgröße/Kondensor 2 Blende | 3/100 μm | 1/100 μm |
Dosisleistung | 519 e-/A2•s1 | 499 e-/A2•s1 |
Strukturverlust gemessen mittels FFT (Kumulierte Dosis) | 60.270 e-/A2 | 58.230 e-/A2 |
Tabelle 1: Zusammenfassender Vergleich der Zeolith-Abbauergebnisse verschiedener Mikroskope.
Ergänzende Datei 1: Screenshot der MVS-Softwareschnittstelle mit geöffneter Registerkarte für das Dosismanagement. Bitte klicken Sie hier, um diese Datei herunterzuladen.
Ergänzungsdatei 2: MVS-Software-Datenbankdatei des strahlinduzierten Zeolith-Abbauexperiments. Diese Anzeige-/Analysesoftware steht kostenlos zum Download zur Verfügung. In der Zusatzdatei 9 finden Sie Anweisungen zum Herunterladen und die technischen Daten des Computers. Bitte klicken Sie hier, um diese Datei herunterzuladen.
Ergänzungsdatei 3: Film des strahlinduzierten Zeolithabbaus. Bitte klicken Sie hier, um diese Datei herunterzuladen.
Ergänzende Datei 4: CSV-Datei 1 (Zeolith-Abbau: Rohdaten [nur mechanische Korrektur]) Bitte klicken Sie hier, um diese Datei herunterzuladen.
Ergänzende Datei 5: CSV-Datei (Zeolith-Abbau: driftkorrigiert [mechanische + digitale Korrektur]) Bitte klicken Sie hier, um diese Datei herunterzuladen.
Ergänzungsdatei 6: MVS-Software-Datenbankdatei Nanokatalysator-In-situ-Heizexperiment . Bitte klicken Sie hier, um diese Datei herunterzuladen.
Ergänzungsdatei 7: Film des Nanokatalysators bei 800 °C mit Dosisüberlagerungen. Bitte klicken Sie hier, um diese Datei herunterzuladen.
Ergänzungsdatei 8: Film des Nanokatalysators während einer Temperaturrampe mit koordinierten Driftwerten. Bitte klicken Sie hier, um diese Datei herunterzuladen.
Ergänzungsdatei 9: Anleitung zum Herunterladen der kostenlosen Analysesoftware. Bitte klicken Sie hier, um diese Datei herunterzuladen.
Die Interpretation von TEM-Versuchsergebnissen hängt oft von vielen miteinander verbundenen experimentellen Parametern ab, wie z.B. Mikroskopeinstellungen, Bildgebungsbedingungen und im Falle von Operando- oder In-situ-Experimenten von Veränderungen der Umgebung oder der Stimuli 1,23. Die genaue Analyse großer TEM-Datensätze, über die diese Parameter kontinuierlich modifiziert werden können, erfordert erhebliche Aufmerksamkeit des Bedieners, um jede Bedingung und Einstellung für jedes Bild in einem Laborjournal oder einer anderen externen Dokumentationsquelle genau aufzuzeichnen. Mit zunehmender Größe und Komplexität von TEM-Datensätzen wird die manuelle Buchführung unüberschaubar, und wichtige Informationen können übersehen oder ungenau aufgezeichnet werden. Die hier beschriebene MVS-Software konsolidiert die während eines Experiments erzeugten Metadaten aus dem Mikroskop, dem Detektor/der Kamera und anderen Systemen (z. B. In-situ-Probenhaltern) und gleicht sie mit ihren jeweiligen Bildern ab.
Zusätzlich zur Konsolidierung der Metadaten wendet die Software Machine-Vision-Algorithmen an, um das Sichtfeld durch eine Kombination aus räumlichen, Strahl- und digitalen Korrekturen mithilfe der Funktionen Drift Correct und Focus Assist zu verfolgen und zu stabilisieren. Wenn die Funktion " Driftkorrektur " aktiviert ist, wird ein Kreuzkorrelations-"Vorlagen"-Bild aus dem ersten Bild generiert, das in die MVS-Software gezogen wird. Die Vorlage wird dann mit eingehenden Bildern verglichen, um die Richtung und das Ausmaß der Probendrift oder -bewegung zu berechnen. Mit diesen Informationen wendet die MVS-Software automatisch die notwendigen Korrekturen an, um die Bildmerkmale an der gleichen Stelle zu halten, indem mindestens einer von drei Parametern angepasst wird: Bühnenposition, Strahl- oder Bildverschiebung und digitale Bildkorrektur. Die Focus Assist-Funktion verwendet eine Kombination von Algorithmen, um jedem Bild einen Fokuswert zuzuweisen, der als Fokuswert bezeichnet wird, und diese Werte werden verglichen, um das Ausmaß und die Richtung der Defokusanpassung zu bestimmen, die angewendet werden soll, um die Probe im Fokus zu halten. Im STEM-Bildgebungsmodus versucht die MVS-Software, den Kontrast durch eine proprietäre Version der normalisierten Varianz zu maximieren, um den Fokuswert zuzuweisen. Im TEM-Modus wird in der FFT eine radiale Summe der Intensität berechnet und zur Berechnung des Fokus-Scores verwendet. Einschränkungen bei der Fähigkeit der MVS-Software, den Fokus zu optimieren, treten auf, wenn sie den korrekten Fokuswert für ein Bild nicht genau berechnen kann. Dies tritt in der Regel auf, wenn das Mikroskop falsch ausgerichtet ist oder die Probe während der Kalibrierung erheblich unscharf ist, sodass die Software den korrekten Startwert für den Fokuswert nicht korrekt berechnen kann. Die MVS-Software kann Schwierigkeiten haben, den Fokus-Score für Samples mit wohldefinierten Gittersäumen zu berechnen, da die Gitterstreifen in der FFT den Fokus-Scoring-Algorithmus "überfordern" können. Wenn sich also eine Probe unscharf bewegt, spiegelt der Fokuswert die Fokusänderung möglicherweise nicht genau wider. Umgekehrt kann es bei der Arbeit mit niedrigen Vergrößerungen oder mit einer Probe mit einem niedrigen FFT-Signal auch schwierig sein, einen guten Fokuswert zu berechnen. Um diese Schwierigkeiten zu mildern, enthält die MVS-Software eine Reihe zusätzlicher Algorithmen, die vom Benutzer zur Berechnung des Fokus-Scores ausgewählt werden können, wenn die Standardeinstellungen für die Probe ungeeignet sind. Diese müssen von Fall zu Fall getestet und angewendet werden, um die besten Algorithmen für ein bestimmtes Experiment zu bestimmen.
Morphologische Veränderungen in der Probenstruktur im Zeitverlauf werden mit Hilfe eines Template-Morphing-Faktors berücksichtigt. Dieser Filter kann vom Bediener eingestellt werden, so dass Registrierungsalgorithmen morphologische Veränderungen im Laufe der Zeit berücksichtigen. Darüber hinaus überwacht die Software das kontinuierliche Bild, die Mikroskopeinstellungen und die Kamera- oder Detektoreinstellungen, um die Vorlage automatisch zu aktualisieren, wenn sie durch Änderungen der Probenstruktur ausgelöst wird und nach vom Bediener induzierten Änderungen der Mikroskop-, Kamera- oder Detektorparameter. Wie in Abbildung 4, Abbildung 5, Supplementary File 7 und Supplementary File 8 dargestellt, bietet die MVS-Software eine effektive, sofortige Stabilisierung und ermöglicht eine hochauflösende Bildgebung von sich dynamisch bewegenden oder sich ändernden Proben. Obwohl die Software in der Lage ist, sehr hohe Drift- oder Probenbewegungsraten zu steuern, wie sie z. B. beim Anlegen einer Heizrampe während eines In-situ-Experiments auftreten, gibt es Einschränkungen bei den maximalen Tischkorrekturen oder Strahlverschiebungen, die die Software steuern kann, wenn sich die Probe sehr schnell bewegt oder driftet. Dieser Grenzwert ist eine Funktion der Bildaktualisierungsrate, der Größe des Sichtfelds und der Driftrate. Für ein bestimmtes Sichtfeld und eine bestimmte Bildaktualisierungsrate gibt es eine maximale Driftrate, die korrigiert werden kann, und wenn die physischen Bewegungen nicht mithalten können, kann der Prozess enden oder instabil werden. Aus den Registrierungsvorlagen, die beim Anwenden von Features wie Abweichungskorrektur generiert werden, können zusätzliche berechnete Metadaten generiert werden. Die Übereinstimmungskorrelation ist beispielsweise ein numerischer Datensatz des Ausmaßes der Änderung zwischen Vorlagen in einer Reihe und wird verwendet, um Punkte in einer experimentellen Zeitachse zu identifizieren, in denen sich die Stichprobe geändert hat. Ein hoher Übereinstimmungskorrelationswert entspricht einer Stichprobe, deren Morphologie geändert wurde, und ein niedriger Übereinstimmungskorrelationswert entspricht einer Stichprobe, deren Struktur relativ statisch bleibt. Die Übereinstimmungskorrelation ist besonders wertvoll für In-situ-Studien, da sie grafisch dargestellt werden kann, sodass der Benutzer Bilder in der Serie, die einer signifikanten Probenänderung entsprechen, schnell lokalisieren kann. Es ist jedoch wichtig zu verstehen, dass hohe Übereinstimmungskorrelationswerte auch Änderungen der Bildgebungsbedingungen entsprechen können, wie z. B. das Verschieben des Tisches oder das Ändern der Vergrößerung, wenn diese Aktionen ausgeführt werden, während die Driftkorrekturfunktion aktiv bleibt.
Der hier vorgestellte Kalibrierungs-Workflow verwendet einen einzigartigen Kalibrierungshalter und eine halbautomatische Kalibrierungsroutine, um den Strahl unter einer Vielzahl von Linsenbedingungen mit minimalem Bedienereingriff genau zu kalibrieren. Der Zugriff auf die Dosiskalibrierungsroutine erfolgt über die auf dem TEM installierte MVS-Software. Die MVS-Software liest automatisch die relevanten Mikroskopeinstellungen aus, um alle Messungen als Referenz für spätere Experimente zu speichern. Bei einigen TEM ist es nicht möglich, die Blenden- oder Monochromatoreinstellungen abzulesen, und diese müssen vom Bediener während der Kalibrierung und während des Gebrauchs in die MVS-Softwareeinstellungen eingegeben werden. In die Software sind Erinnerungen integriert, um diese Bedienereingabeeinstellungen auf dem neuesten Stand zu halten, indem Sie den Programmanweisungen folgen. Die Entwicklung eines Halters mit eingebautem Stromabnehmer ist eine bewusste Designentscheidung, anstatt sich auf einen an anderer Stelle in der Mikroskopsäule integrierten Halter zu verlassen. Dadurch kann der Stromabnehmer auf der gleichen Ebene wie eine Probe positioniert werden, wodurch Fehler bei der Strommessung vermieden werden, die durch Strahlablenkung oder Unterschiede in der Absorption von Elektronen durch Aperturen an verschiedenen Strahlpositionen verursacht werden. Die MVS-Software folgt einer automatisierten Routine, um den Strahlstrom und die Strahlfläche für eine beliebige Kombination von Linsenbedingungen zu messen. Die Software kann diese gemessenen Kalibrierungen dann mit dem Kamera- oder Bildschirmstrom korrelieren und eventuelle Änderungen der Vergrößerung usw. auf die Strahlfläche während des Experiments extrapolieren. Einmal generiert, können diese Kalibrierungsdateien sofort verwendet werden und werden automatisch für die spätere Verwendung gespeichert, wenn die Software feststellt, dass die gleichen Einstellungen während einer zukünftigen Sitzung verwendet werden. Obwohl die Langlebigkeit der Kalibrierdatei von Mikroskop zu Mikroskop unterschiedlich ist, haben die Autoren festgestellt, dass sie in der Lage sind, dieselben Kalibrierdateien mehrere Monate lang zu verwenden, ohne wesentliche Änderungen der aktuellen Werte zu beobachten. Es gibt integrierte Routinen zur Überwachung des Emissionsprofils von Pistolen, um diese Kalibrierungen relevant zu halten, insbesondere bei Cold-FEG-Emissionspistolen.
Die Normalisierung von Dosismessungen zwischen Mikroskopen und die automatische Verfolgung der Strahlexposition einer Probe sind wichtige Funktionen der MVS-Software, da sie quantitative Vergleiche der Dosisbedingungen zwischen Experimenten ermöglichen, die auf verschiedenen Mikroskopsystemen durchgeführt werden können. Die dosisinduzierte Degradation einer Zeolithprobe (ZSM-5), die durch identische Experimente mit verschiedenen Mikroskopen erhalten wurde, führt zu einem vollständigen Verschwinden der FFT-Punkte nach einer maximalen kumulativen oder Schwellenelektronendosis (~60.000 e-/Å2 bei Anwendung einer Dosisleistung von ~500 e-/Å2·s) für beide Aufbauten. Diese Vergleichsergebnisse zeigen, dass die Dosissoftware reproduzierbare, quantitative Dosismessungen ermöglicht. Der kleine Unterschied in der kumulativen Dosis, bei der für jedes Experiment ein vollständiges Verschwinden des FFT-Spots beobachtet wird, ist wahrscheinlich auf die unterschiedlichen Beschleunigungsspannungen zurückzuführen, die von den beiden Mikroskopen verwendet werden, wobei niedrigere Beschleunigungsspannungen zu mehr Strahlungsschädigungspfaden führen und höhere Beschleunigungsspannungen typischerweise zu mehr Folgeschäden führen24. Die Literaturergebnisse für die kritische Dosis von ZSM-5-Nanopartikeln reichen von 9.000-14.000 e-/Å2 unter Verwendung des ersten FFT-Fleckenverschwindens und nicht des vollständigen Verschwindens aller FFT-Flecken 25,26. In unseren Ergebnissen entspricht das erste Verschwinden des FFT-Spots einer kumulativen Dosis von etwa 25.000 e-/Å2. Frühere Studien stützten sich auf Strommessungen, die mit einem Phosphorschirm durchgeführt wurden, was gut dokumentiert ist, um Strahlstrommessungen im Vergleich zu einem Faradayschen Becher zu unterschätzen15. Die ermittelte kritische Dosis kann um den Faktor zwei oder mehr variieren, je nachdem, welcher FFT-Peak zur Verfolgung der Dosis verwendet wird. Dies deutet darauf hin, dass sich die höheren Ortsfrequenzen zuerst verschlechtern und je nach dem während der Messungen verwendeten Zonenzugang zu unterschiedlichen Werten führen können (unsere Ergebnisse konzentrierten sich auf FFT-Punkte des gesamten Zeolithkristalls und nicht auf bestimmte strukturelle Merkmale)25,26. Diese Unterschiede in den Techniken und der aktuellen Kalibrierung erklären den Unterschied in den Werten zwischen den beiden Experimenten, die in unseren Ergebnissen und früheren Literaturstudien berichtet wurden.
Obwohl die Wechselwirkungen mit der Elektronendosis ein bedeutender Faktor in vielen TEM-Experimenten sind, sind In-situ- und insbesondere Flüssig-EM-Studien besonders empfindlich gegenüber ihren Auswirkungen. Die Radiolyse von Flüssigkeiten durch den Elektronenstrahl führt zu einer Kaskade chemisch reaktiver Spezies, die mit der Probe interagieren können, was die Analyse erschwert. Sowohl die Dosisleistung oder Fluenz, die während eines Flüssig-EM-Experiments verwendet wird, als auch die kumulative Dosis können einen Einfluss auf die Konzentration der durch die Flüssigradiolyse erzeugten Radikalspezies haben27,28. Daher ermöglicht das Sammeln und Aufzeichnen von Metadaten zur kumulativen Dosis und Dosisleistung während eines Experiments eine direkte Korrelation zwischen Bildern und dem Dosisverlauf einer Probe und ist eine genauere Möglichkeit, den Einfluss des Elektronenstrahls in diesen Experimenten aufzuklären und zu kontrollieren. Obwohl in diesem Protokoll nicht behandelt, ist ein Beispiel für den Nutzen der Dosismanagementfunktionen für Flüssig-EM in Abbildung 6 dargestellt.
Abbildung 6: Strahlinduziertes Wachstum von Gold-Nanopartikeln während eines in situ Flüssig-EM-Experiments. (A) STEM-Übersicht mit geringer Vergrößerung des resultierenden Partikelwachstums mit einer farbigen Überlagerung der kumulativen Dosiskarte über die Region. Rote Bereiche in der Überlagerung kennzeichnen Regionen mit hoher kumulativer Exposition und gelbe Bereiche zeigen Regionen mit geringerer Exposition an. Wenn Sie ein einzelnes Pixel mit dem Cursor markieren oder mit den mitgelieferten Zeichenwerkzeugen einen Rahmen über einen Bereich zeichnen, wird die kumulative Dosis für dieses Pixel oder diesen Bereich angezeigt. Der Maßstabsbalken beträgt 2 μm. (B,C) STEM-Bilder mit höherer Vergrößerung der Bereiche, die durch die orangefarbenen Kästchen (b,c) in A gekennzeichnet sind. Bereich b, der einer höheren kumulativen Dosis (10,811 e-/Å2) ausgesetzt war, enthält größere Partikel als die in Bereich c, der einer niedrigeren kumulativen Dosis (0,032 e-/Å2) ausgesetztwar. Bitte klicken Sie hier, um eine größere Version dieser Abbildung zu sehen.
Die angereicherte Dosisleistung und die kumulativen Dosismetadaten vereinfachen die Analyse dosisabhängiger Wachstums- und Abbauwege von Nanomaterialien. Abbildung 6 zeigt die strahlinduzierte Reduktion einer Lösung von Gold-Aurachlorid-Ionen (HAuCl3) in Wasser während Flüssig-EM-Experimenten. Anhand der Farbdosiskarten-Überlagerung in Abbildung 6A lässt sich leicht visualisieren, dass die kumulative Elektronendosis die resultierende Größe und Form der Nanopartikel 29,30,31,32 beeinflusst. Die STEM-Übersicht mit geringer Vergrößerung zeigt Regionen, die einer hohen (rot) und niedrigen (gelb) kumulativen Dosis ausgesetzt sind. Die Partikel in der Region, die höheren Dosen ausgesetzt ist, sind größer als die in den Regionen, die niedrigeren kumulativen Dosen ausgesetzt sind. Da die Dosismetadaten direkt in jedes Bild auf Pixelebene eingebettet sind, können die komplexen Effekte der Elektronendosis in Flüssig-EM-Experimenten nun systematisch auf eine Weise analysiert werden, die bisher nicht erreichbar war.
In diesem Protokoll haben wir gezeigt, dass die MVS-Software eine umfassende Lösung für die Kalibrierung, Überwachung und Verfolgung sowohl der Elektronendosis als auch der Gesamtdosis bietet, die einer Probe auf Pixel-für-Pixel-Basis zugeführt werden. Diese Fähigkeit eröffnet ein neues Paradigma für die Bildgebung dosisempfindlicher Proben und das Verständnis der Elektronenstrahlwechselwirkungen. Dies ist besonders spannend für Flüssig-EM-Experimente, da es eine effektivere Untersuchung der Rolle der Elektronendosis ermöglicht und die experimentelle Reproduzierbarkeit verbessert. Es ist unsere Hoffnung, dass dieser neue Rahmen die genaue Erfassung von Dosisleistungs- und akkumulierten Dosisinformationen ermöglicht, den Austausch dieser Daten mit der Gemeinschaft für eine genauere Interpretation der TEM-Ergebnisse erleichtert und die wissenschaftliche Zusammenarbeit und den Datenaustausch vorantreibt, indem er die FAIR-Hauptberichterstattung und -analyse ermöglicht.
Alle Autoren sind Mitarbeiter von Protochips, Inc.
Diese Arbeit wurde zum Teil an der Analytical Instrumentation Facility (AIF) der North Carolina State University durchgeführt, die vom Bundesstaat North Carolina und der National Science Foundation unterstützt wird (Fördernummer ECCS-2025064). Der AIF ist Mitglied des North Carolina Research Triangle Nanotechnology Network (RTNN), einem Standort der National Nanotechnology Coordinated Infrastructure (NNCI). Die Autoren danken Damien Alloyeau, CNRS-Forschungsdirektor an der Universität Paris Cité, für die Bereitstellung der Studienergebnisse der 200-kV-CFEG-Zeolith-Dosisschwelle.
Name | Company | Catalog Number | Comments |
ARM200F CFEG | JEOL | Transmission Electron Microscope (200 kV) | |
AXON DOSE Calibration Holder | Protochips, Inc. | AXA-FC-TFS | Dose calibration and management hardware package for ThermoFisher ScientificTEM |
AXON DOSE Software: Version 10.6.5.3 | Protochips, Inc. | AX-MOD-DOSE-01-1YR | Dose calibration and management software |
AXON Studio Software: Version 10.6.5.3 | Protochips, Inc. | No Part Number. Available to download at success.protochips.com | Offline analysis software for AXON datasets. A free copy of the AXON Studio software is available for down load at: success.protochips.com |
AXON Synchronicity Core | Protochips, Inc. | AXON-CORE | Hardware component of the synchronization software. |
AXON Synchronicity Software: Version 10.6.5.3 | Protochips, Inc. | AX-MOD-SYNCPRO-01-1YR | Synchronization software |
Fusion In-Situ Heating E-chip | Protochips, Inc. | E-FHDC-VO-10 | Sample Support E-chip with carbon film. Used with in situ heating system |
Fusion Select In Situ Heating System | Protochips, Inc. | FFAD-6200-EXP | In-situ MEMs heating system for ThermoFisher Scientific TEM. |
Gold(III) chloride (50% gold basis) hydrate 50790 | Sigma Aldrich | 27988-77-8 | Used to prepare Au/FeOx nanocatalyst. Coprecipitation synthesis procedure followed in C. Sze et al. Materials Letters. 36 (1–4), 11–16 (1998) |
Iron (III) Oxide 310050 (Fe2O3) | Sigma Aldrich | 1309-37-1 | Used to prepare Au/FeOx nanocatalyst. Coprecipitation synthesis procedure followed in C. Sze et al. Materials Letters. 36 (1–4), 11–16 (1998) |
Titan ChemiSTEM | ThermoFisher Scientific | Transmission Electron Microscope (300 kV) | |
Zeolite ZSM-5 | Zeolyst | CBV 8014 | Nanocatalyst sample: 80 SiO2/Al2O3 Mole Ratio |
Genehmigung beantragen, um den Text oder die Abbildungen dieses JoVE-Artikels zu verwenden
Genehmigung beantragenThis article has been published
Video Coming Soon
Copyright © 2025 MyJoVE Corporation. Alle Rechte vorbehalten