In Tiefenanalysen der LEDs durch eine Kombination von Röntgen Computertomographie (CT) und Lichtmikroskopie (LM) korrelierte mit Rasterelektronenmikroskopie (SEM)
9.2K Views
•
10:42 min
•
June 16th, 2016
DOI :
June 16th, 2016
•Kapitel in diesem Video
0:05
Title
1:14
Performance of Computed Tomography (CT) Scan
3:07
Micro Preparation
5:06
Light Microscopy (LM) Measurement Setup
6:15
Light Microscopy Characterization
7:16
Scanning Electron Microscopy (SEM) Analysis
8:32
Results: Comprehensive Micro-characterization of an Active Light Emitting Diode
9:49
Conclusion
Ähnliche Videos
Energieröntgentomografie für 3D-Elementar Zuordnung einzelner Nanopartikel
11.7K Views
Fehleranalyse von Batterien unter Verwendung Synchrotron-basierte Feströntgenmikrotomographie
8.8K Views
Messung der Röntgenstrahl Coherence entlang mehreren Richtungen unter Verwendung von 2-D-Schachbrett Phase Grating
9.5K Views
Dynamische Pore-Skala Reservoir-Zustand Abbildung von Reaktions in Karbonate mit Synchrotronstrahlung Schnelle Tomography
8.4K Views
Studium dynamischer Prozesse von Nano-Größe Objekte in Liquid Scanning Transmission Electron Micros mit
12.6K Views
Präzisionsfräsen von Carbon Nanotube Wälder Verwendung von Niederdruck-Rasterelektronenmikroskopie
7.4K Views
Verbesserte Elektroneninjektion und Exciton Entbindung für reine blaue Quantenpunkt-Leuchtdioden durch die Einführung von teilweise oxidierte Aluminium Kathode
8.7K Views
Synchrotron Röntgenstrahl Microdiffraction und Fluoreszenz-Bildgebung von Mineral- und Gesteinsproben
8.9K Views
Röntgenstrahl-Induzierte Strommessungen für die multimodale Röntgenmikroskopie von Solarzellen
13.7K Views
Graphen-Assisted Quasi-van der Waals Epitaxy von AlN Film auf Nano-PatternEd Sapphire Substrat für ultraviolette Leuchtdioden
7.1K Views
Copyright © 2025 MyJoVE Corporation. Alle Rechte vorbehalten