Rendern von SiO2/Si Oberflächen Omniphobic durch Schnitzen von Gas-Entrapping Mikrotexturen bestehend reentrant und doppelt reentrant Hohlräume oder Säulen

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08:02 min

February 11th, 2020

DOI :

10.3791/60403-v

February 11th, 2020


Transkript

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Engineering

Kapitel in diesem Video

0:04

Introduction

1:08

Cavity Design and Wafer Cleaning

2:17

Photolithography

3:15

Silica (SiO2) and Silicon (Si) Layer Etching

4:30

Thermal Oxide Growth and Etching

6:00

Results: Representative Wetting Behaviors of Gas-Entrapping Microtextures (GEMs)

7:08

Conclusion

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