Iniciar sesión

Meike Hauschildt

Globalfoundries Fab 1

BIOGRAPHY

Meike Hauschildt has not added Biography.

If you are Meike Hauschildt and would like to personalize this page please email our Author Liaison for assistance.

INSTITUTIONS

Globalfoundries Fab 1

JOVE ARTICLES

In Situ Time-dependent Dielectric Breakdown in the Transmission Electron Microscope: A Possibility to Understand the Failure Mechanism in Microelectronic Devices

Zhongquan Liao^1,2,

Martin Gall¹,

Kong Boon Yeap^1,3,

Christoph Sander¹,

André Clausner¹,

Uwe Mühle¹,

Jürgen Gluch¹,

Yvonne Standke¹,

Oliver Aubel⁴,

Armand Beyer⁴,

Meike Hauschildt⁴,

Ehrenfried Zschech^1,2

¹, Fraunhofer Institute for Ceramic Technologies and Systems,

²Dresden Center for Nanoanalysis, Technische Universität Dresden,

³, Globalfoundries Fab 8,

⁴, Globalfoundries Fab 1

Engineering

Privacidad

Condiciones de uso

Políticas

Contáctenos

RECOMIENDE A LA BIBLIOTECA

BOLETINES de JoVE

Investigación

JoVE Journal
Colecciones de métodos
JoVE Encyclopedia of Experiments
Archivo

Educación

JoVE Core
JoVE Business
JoVE Science Education
JoVE Lab Manual
Centro de recursos académicos
Faculty Site

Autores

Descripción
Proceso de publicación
Comité editorial
Ámbito y políticas
Revisión por pares
Preguntas frecuentes
Enviar

Bibliotecarios

Descripción
Testimonios
Suscripciones
Acceso
Recursos
Junta Asesora de Bibliotecarios
Preguntas frecuentes

ACERCA DE JoVE

Descripción
Liderazgo
Blog
JoVE Help Center

Copyright © 2024 MyJoVE Corporation. Todos los derechos reservados