JoVE Logo

Sign In

מקור פלזמה בהשראה אינדוקטיבית (ICP) הוא מקור הפלזמה הנפוץ ביותר בספקטרוסקופיית פליטה אטומית (AES), המכונה גם ספקטרוסקופיית פליטה אופטית של פלזמה בהשראה אינדוקטיבית (ICP-OES). מקור ה-ICP, או הלפיד, מורכב משלושה צינורות קוורץ קונצנטריים עם זרימת גז ארגון בתוכם. ניצוץ מסליל טסלה מתחיל את יינון הארגון, ויוצר פלזמה בטמפרטורה גבוהה.

היונים והאלקטרונים הנוצרים באינטראקציה עם השדה המגנטי המשתנה הנוצר על ידי סליל השראה מקורר מים שמוזן על ידי גנרטור בתדר רדיו. אינטראקציה זו מובילה לחימום אוהמי, יצירת פלזמה בטמפרטורה גבוהה, ומספקת סביבה אופטימלית לניתוח אלמנטי. הכנסת הדגימה ב-ICP-AES יכולה להתבצע בשיטות שונות, כגון nebulizer זכוכית קונצנטרי או אידוי אלקטרו-תרמי. בשיטה הראשונה, הדגימה מועברת על ידי אפקט ברנולי בעזרת גז ארגון במהירות גבוהה, ויוצרת טיפות עדינות הנכנסות לפלזמה. בשיטה השנייה, הדגימה מתאדה בתנור לפני הכנסתה לפלזמה דרך זרם ארגון.

תצורות לספקטרומטרי ICP כוללות צפייה רדיאלית או אקסיאלית. פלזמה בעלת אוריינטציה אופקית וצפייה אקסיאלית אידיאלית לניתוחים בעלי רגישות גבוהה. היא כוללת ממשק קונוס מקורר ייחודי (CCI) שמונע מהאופטיקה להתחשב בזנב הפלזמה הקר יותר, מצמצמת הפרעות ומשפרת את סבילות המערכת למוצקים מומסים בריכוז גבוה. פלזמה בעלת אוריינטציה אנכית וצפייה רדיאלית מתאימה ליישומים מאתגרים, כמו ניתוח שמנים, ממסים אורגניים, דגימות גיאולוגיות/מתכתיות, ותמיסות עם ריכוז גבוה של מוצקים מומסים (TDS).

קווי מתאר איזותרמיים מציגים את טווחי הטמפרטורות שהאטומים בדגימה חווים בפלזמה במהלך זמן השהייה שלהם לפני ההגעה לנקודת התצפית. זה מוביל לאטומיזציה מלאה יותר ולהפחתת הפרעות כימיות. מקור ה-ICP ב-AES מציע יתרונות רבים, כולל אטומיזציה כימית אינרטית, חלוקת טמפרטורה אחידה, עקומות כיול לינאריות בטווח רחב של ריכוזים, ויינון משמעותי, מה שהופך אותו לבחירה מצוינת ליישומי ICP-MS.

Tags

Inductively Coupled PlasmaICPAtomic Emission SpectroscopyICP OESPlasma SourceArgon GasIonizationHigh temperature PlasmaElemental AnalysisSample IntroductionNebulizerElectrothermal VaporizationCooled Cone InterfaceRadial ViewingAxial ViewingChemical InterferencesICP MS Applications

From Chapter 14:

article

Now Playing

14.12 : ספקטרוסקופיית פליטה אטומית פלזמתית מצומדת אינדוקטיבית: עיקרון

Atomic Spectroscopy

424 Views

article

14.1 : ספקטרוסקופיה אטומית: בליעה, פליטה ופלואורסצנציה

Atomic Spectroscopy

650 Views

article

14.2 : ספקטרוסקופיה אטומית: השפעות הטמפרטורה

Atomic Spectroscopy

239 Views

article

14.3 : ספקטרוסקופיית בליעה אטומית: סקירה

Atomic Spectroscopy

492 Views

article

14.4 : ספקטרוסקופיית ספיגת אטומים: מכשור

Atomic Spectroscopy

416 Views

article

14.5 : ספקטרוסקופיית בליעה אטומית

Atomic Spectroscopy

267 Views

article

14.6 : ספקטרוסקופיית בליעה אטומית (AAS): שיטות אוטומטיזציה

Atomic Spectroscopy

306 Views

article

14.7 : ספקטרוסקופיית בליעה אטומית: הפרעות

Atomic Spectroscopy

503 Views

article

14.8 : הבליעה האטומית ספקטרוסקופית (AAS): מעבדה

Atomic Spectroscopy

254 Views

article

14.9 : ספקטרוסקופיית פליטה אטומית: מבוא

Atomic Spectroscopy

540 Views

article

14.10 : ספקטרוסקופיית פליטה אטומית: מכשור

Atomic Spectroscopy

265 Views

article

14.11 : ספקטרוסקופיית פליטה אטומית (AES): הפרעות

Atomic Spectroscopy

121 Views

article

14.13 : ספקטרוסקופיית פליטת אטומים עם פלזמה מצומדת אינדוקטיבית: מכשור

Atomic Spectroscopy

152 Views

article

14.14 : ספקטרוסקופיית פליטת אטומים: מעבדה

Atomic Spectroscopy

124 Views

article

14.15 : ספקטרוסקופיית פלואורסצנציה אטומית

Atomic Spectroscopy

198 Views

See More

JoVE Logo

Privacy

Terms of Use

Policies

Research

Education

ABOUT JoVE

Copyright © 2025 MyJoVE Corporation. All rights reserved