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Materials Science Division
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High-resolution secondary ion mass spectrometry depth profiling of nanolayers.
Rapid communications in mass spectrometry : RCM Oct, 2012 | Pubmed ID: 22956313
Argonne National Laboratory
Sergey V. Baryshev1,
Robert A. Erck2,
Jerry F. Moore3,
Alexander V. Zinovev1,
C. Emil Tripa1,
Igor V. Veryovkin1
1Materials Science Division, Argonne National Laboratory,
2Energy Systems Division, Argonne National Laboratory,
3, MassThink LLC
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