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Picometer-Precision Rastreamento de posição atômica através de microscopia eletrônica

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15:04 min

July 3rd, 2021

DOI :

10.3791/62164-v

July 3rd, 2021


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Introduction

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Acquiring High-Quality Annular Dark Field (ADF)/ Annular Bright Field (ABF) STEM Images

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Physical Information Extraction

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Representative Results

14:41

Conclusion

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