В Depth Анализы светодиодов с помощью комбинации рентгеновской компьютерной томографии (КТ) и световой микроскопии (LM) коррелируют с сканирующей электронной микроскопии (SEM)

9.1K Views

10:42 min

June 16th, 2016

DOI :

10.3791/53870-v

June 16th, 2016


Транскрипт

Смотреть дополнительные видео

112

Главы в этом видео

0:05

Title

1:14

Performance of Computed Tomography (CT) Scan

3:07

Micro Preparation

5:06

Light Microscopy (LM) Measurement Setup

6:15

Light Microscopy Characterization

7:16

Scanning Electron Microscopy (SEM) Analysis

8:32

Results: Comprehensive Micro-characterization of an Active Light Emitting Diode

9:49

Conclusion

Похожие видео

article

10:00

Энергия рентгеновской томографии для 3D Elemental карт индивидуальных наночастицами

11.6K Views

article

08:11

Анализ отказов батарей с использованием синхротронного основе жесткого рентгеновского микротомография

8.8K Views

article

10:39

Измерение рентгеновского луча когерентность вдоль нескольких направлениях с помощью 2-D Клетчатый фазовой дифракционной решетки

9.5K Views

article

10:18

Динамический Поры масштабе пластового состояние визуализации реакции в карбонатных коллекторах с использованием синхротронного Fast томографии

8.4K Views

article

11:14

Исчерпывающая характеристика протяженных дефектов в полупроводниковых материалах на растровом электронном микроскопе

13.4K Views

article

10:29

Изучение динамических процессов наноразмерных объектов в жидкости с помощью сканирующего просвечивающего электронного микроскопа

12.6K Views

article

08:10

Точность Фрезерование углеродная нанотрубка лесов Использование низкого давления Сканирование электронной микроскопии

7.4K Views

article

10:12

Синхротрона рентгеновских Microdiffraction и флуоресценции изображений минеральных и образцов скальных пород

8.9K Views

article

00:10

Рентгеновский луч индуцированных текущих измерений для мульти-модальной рентгеновской микроскопии солнечных клеток

13.6K Views

article

07:00

Графен-помощник Квази-ван дер Ваальс Эпитакси из AlN фильм на нано-узорчатый сапфир субстрат для ультрафиолетового света излучающих диодов

7.1K Views

JoVE Logo

Исследования

Образование

О JoVE

Авторские права © 2025 MyJoVE Corporation. Все права защищены