В Depth Анализы светодиодов с помощью комбинации рентгеновской компьютерной томографии (КТ) и световой микроскопии (LM) коррелируют с сканирующей электронной микроскопии (SEM)
9.1K Views
•
10:42 min
•
June 16th, 2016
DOI :
June 16th, 2016
•Смотреть дополнительные видео
Главы в этом видео
0:05
Title
1:14
Performance of Computed Tomography (CT) Scan
3:07
Micro Preparation
5:06
Light Microscopy (LM) Measurement Setup
6:15
Light Microscopy Characterization
7:16
Scanning Electron Microscopy (SEM) Analysis
8:32
Results: Comprehensive Micro-characterization of an Active Light Emitting Diode
9:49
Conclusion
Похожие видео
Энергия рентгеновской томографии для 3D Elemental карт индивидуальных наночастицами
11.7K Views
Анализ отказов батарей с использованием синхротронного основе жесткого рентгеновского микротомография
8.8K Views
Измерение рентгеновского луча когерентность вдоль нескольких направлениях с помощью 2-D Клетчатый фазовой дифракционной решетки
9.5K Views
Динамический Поры масштабе пластового состояние визуализации реакции в карбонатных коллекторах с использованием синхротронного Fast томографии
8.4K Views
Исчерпывающая характеристика протяженных дефектов в полупроводниковых материалах на растровом электронном микроскопе
13.5K Views
Изучение динамических процессов наноразмерных объектов в жидкости с помощью сканирующего просвечивающего электронного микроскопа
12.6K Views
Точность Фрезерование углеродная нанотрубка лесов Использование низкого давления Сканирование электронной микроскопии
7.4K Views
Расширение электронного впрыска и экситонных родов для чисто синий квантовых точках светоизлучающие диоды, вводя частично окисленного алюминия катод
8.7K Views
Синхротрона рентгеновских Microdiffraction и флуоресценции изображений минеральных и образцов скальных пород
8.9K Views
Рентгеновский луч индуцированных текущих измерений для мульти-модальной рентгеновской микроскопии солнечных клеток
13.7K Views
Авторские права © 2025 MyJoVE Corporation. Все права защищены