Sulu Medyada Nanomalzemelerin UV-Vis Spektroskopik Karakterizasyonu

UV-Vis spektrofotometri, nanomalzemelerin boyutunu, konsantrasyonunu, toplama durumunu ve kırılma indeksini ölçmek için iyi kurulmuş, kullanımı kolay ve ucuz bir tekniktir. UV-Vis, basit emilim ölçümleri kullanılarak nanomalzeme özelliklerinin noninvaziv ve hızlı, gerçek zamanlı taranması ve değerlendirilmesinin sağlanmaktadır. UV-Vis son derece basittir.

Örnekler çok az hazırlık gerektirir ve yazılımın birkaç değişkeni vardır ve kullanımı kolaydır. Lambanın ısınması için UV-Vis spektrometresini en az 20 dakika açın. Yazılımı yükleyin ve Cihazı bağla'yı seçin Çalışma modlarını görüntüleyen mod penceresinden Spektrum Taraması seçeneğini belirleyin.

Yazılımda, Enstrüman'a tıklayın ve komut çubuğundaki Ayarlar'a gidin, Spektrum Taraması için Parametreler'i seçin ve ardından ölçüm ayarlarını yapın. Enstrüman sekmesine gidin ve Veri Modu için ABS'yi ve 1,5 yarık genişliğini seçin. Dalga Boyu Tarama sekmesine gidin ve 680 nanometre başlangıç dalga boyu, 380 nanometrenin bitiş dalga boyu ve dakikada 400 nanometre tarama hızı ayarlayın.

Parametreleri ayarladıktan sonra, iki cuvettes bir mililitre ultra saf su ile doldurun ve ışık yolunu kapatmak için referans ve örnek hücre tutucusuna yerleştirin. Cihaz kapağını kapatın ve komut çubuğundan boş seçerek boş kalibrasyonla devam edin, ardından Tamam'ı seçin. Her altın nanopartikül örneğinin 500 mikrolitrelik bir alt örneğini alın ve 500 mikrolitre ultra saf su ile bir seyreltme hazırlayın. Seyreltmeleri mililitre başına 25 mikrogramlık son konsantrasyona sahip bir mililitreli cuvettes içine yerleştirin.

Boş bir kalibrasyon çalıştırın. Boş kalibrasyondan sonra, numune hücresi tutucusundaki boş cuvettelerden birini altın nanopartikül örneğiyle değiştirin ve referans cuvette'e dokunulmadan tutun. Taramayı çalıştırmak için komut çubuğunda Başlat ölçüsünü seçin.

Her seyreltilmiş altın nanopartikül örneği ve bilinmeyen örnek için üç spektrum taraması yapın. Elektronik tablo uyumlu bir dosyadaki her ölçüm için ham deneysel verileri ayıklayın. Taramada Özellik'i seçin, komut çubuğunda Yazdır/Dışarı Aktar sekmesine gidin, Veri, Spektrum ve parametreler'i tıklatın ve Tamam'a basın. Komut çubuğunda Kaydet'i tıklatın ve verileri xls dosyası olarak kaydedin.

Okumaların her biri için maksimum emilim dalga boyunu ve lambdasını not edin ve bunları sağlanan şablona kaydedin. Verileri seçerek, grafik ekleyerek, çizimi dağıtır, eğilim çizgisi ve polinom eğrisi ekleyerek nanopartikül boyutuna karşı maksimum lambda ortalaması ile bir kalibrasyon eğrisi çizin. Kalibrasyon eğrisinin polinom denklemini eklemek için, komut çubuğundan Eğilim Çizgisi seçeneklerini ve Grafikte denklemi görüntüle'yi seçin.

Son olarak, ikinci dereceden formülün bir türetmesini kullanarak bilinmeyen maksimum lambda için ortalama değere uyacak şekilde kalibrasyon eğrisinden polinom denklemini izole ederek bilinmeyen altın nanopartikül örneğinin boyutunu hesaplayın. Altı laboratuvar arasında, maksimum dalga boyu yakın tekrarlanabilirlik gösterirken, maksimum absorbans sonuçları farklı altın nanopartikül boyutları için daha dağınık bir veri değeri yelpazesi sergiledi. Her altın nanopartikül boyutu için aralıklar ve genel araçlar burada gösterilmiştir.

Lambda max için maksimum Z-skor değeri laboratuvar üç tarafından 5 nanometre büyüklüğündeki nanopartiküller için, maksimum absorbans için en yüksek z-skoru ise laboratuvar bir tarafından 40 nanometre büyüklüğündeki nanopartiküller için bildirilmiştir. Ortakların çoğu bilinmeyen nanopartikül boyutunu 76 ila 80 nanometre olarak hesapladı ve laboratuvar beşi 109 nanometrelik aykırı daha büyük bir boyut bildirdi. Bilinmeyen boyutlar için Z puanları, laboratuvar beş tarafından bildirilen ve 2,03'lük en yüksek pozitif Z puanını gösteren tek istisna dışında, tüm laboratuvarlar için eksi 0,25 ila eksi 0,56 arasında hesaplandı.

Parametrelerin ve ayarların doğru şekilde ayarlandığından emin olun. Seyreltilmiş numuneler UV-Vis ile ölçümden önce taze olarak hazırlanmalıdır. UV-Vis, kullanıcılar örneklerini daha kapsamlı bir şekilde karakterize etmek istiyorlarsa çok çeşitli özellikleri ölçmek için TEM, DLS ve AFM gibi diğer araçlarla kolayca birleştirilebilir.