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Method Article
高精度微位移测量在航空航天工程、超精密加工和微装配领域具有重要意义。本协议描述了基于影子技术的微位移测量。
微位移的精确测量在科学和工业领域非常重要。然而,由于测量仪器的复杂设计和高成本,这是一项艰巨的挑战。受水黾在阳光下在水面上行走形成的阴影的启发,提出了一种微位移测量方法。具有超疏水特性的 Water Strider 腿可弯曲水面。水的曲面折射阳光,在池塘底部形成一个边缘明亮的阴影。阴影大小一般大于支腿距水面的压痕深度。在微位移测量系统中,施加的位移与阴影直径的变化成正比。本研究提出了一种基于这种影子技术的微位移测量程序。位移灵敏度在 5 μm 范围内可以达到 10.0 nm/像素。该系统施工简单,成本低,精度高,线性性能好。该方法为测量微位移提供了一个方便的附加选项。
精确的位移测量在航空航天工程1 (aerospace engineering)、超精密加工 2 (ultra-precision machining2) 和微装配3 (micro-assembly) 领域起着至关重要的作用。必须精确测量结构变形以进行结构健康监测4。然而,由于测量仪器的复杂设计和高成本,高精度的微位移测量仍然是一个严峻的挑战5。
微位移测量技术可分为常规和非常规方法。传统方法,如磁性、电容式、电感式和电传感器,容易受到电磁干扰6。非常规方法主要是光学方法,例如基于光纤的方法和激光方法。
田柯等人设计了一种气球状弯曲多模光纤结构来测量微位移,其位移灵敏度可以达到 0.51 dB/μm,测量范围为 0-100 μm7。但是,必须首先考虑光纤解调器的尺寸和成本;而且要消除热效应并不容易。卢千波等人提出了一种基于光栅干涉腔的亚纳米分辨率位移传感器,通过强度补偿和相位调制,其灵敏度可达 44.75 mV/nm8。激光干涉仪是常用的具有纳米级分辨率的微位移仪器之一。然而,反射器需要复杂的信号处理,并且干涉测量的条纹分辨率限制了其应用9。因此,需要一种替代结构简单、低成本、高精度的测量系统。
本文提出了一种基于影子技术 10,11,12,13 的微位移测量程序,该方法简单、成本低、精度高、线性性能好。这种方法的灵感来自在水面上行走的水黾。具有超疏水特性的 Water Strider 腿可弯曲水面。水的曲面折射阳光,在池塘底部形成一个边缘明亮的阴影。阴影大小一般比支腿距水面的压痕深度大得多 14,15,16。在系统中,施加的位移和阴影直径的变化是成比例的,这一点通过校准实验得到了验证。研究表明,该方法为精确测量微位移提供了一种替代方案。
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1. PDMS 作品的准备
2. 测量微位移的实验准备
3. 图像处理
4. 位移校准
5. 测量微位移
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按照协议,可以校准微位移测量系统的灵敏度,并且可以测量微位移。微位移测量中的阴影法介绍如下。 图 3 显示了由于施加的位移而平行光穿过 PDMS 变形表面的路径。平行光的折射形成具有明亮边缘的阴影。基于 Johnson-Kendall-Roberts (JKR) 模型的 PDMS 表面位移 z(x) 的显式解为18:
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该协议提出了一种基于影子技术的微位移测量系统。位移校准是协议中获得位移灵敏度和测量范围的关键步骤。根据公式 4,可以通过减小圆柱形腿和平行光束的直径并增加工作距离来提高位移灵敏度。此外,相机的像素大小和分辨率,以及图像处理的准确性,也是提高位移灵敏度的关键。像素大小必须尽可能小,以获得阴影直径的最小变化。相机分辨率应尽可能大,以?...
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作者没有什么可披露的。
我们感谢中国国家重点研发计划(编号 2021YFC2202702)资助这项工作。
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Name | Company | Catalog Number | Comments |
Aperture diaphragm | Processed by high precision grinding | The diameter of the aperture is 0.7 mm. | |
Camera | Canon | EOS80D | The pixel size and the resolution of the camera are about 3.72 μm and 4000 × 6000, respectively. |
HALCON | MVTec Software GmbH | 18.11 | MVTec HALCON is the comprehensive standard software for machine vision with an integrated development environment (HDevelop) that is used worldwide. |
Motorized linear stage | Zolix | TSA50-C | Resolution 0.625 μm |
Parallel light source | Oriental Technology (Shanghai) Co, Ltd. | BTPL-50G | The peak wavelength is 523 nm. |
Polydimethylsiloxane (PDMS) | Dow Corning | Sylgard 184 | PDMS is a transparent silicon-based crosslinked polymer. |
Vacuum pump | SHANGHAI LICHEN-BX INSTRUMENT TECHONOLOGY CO.,Ltd | 2XZ-6B | The pumping rate is 6 L/s.The ultimate vacuum is ≤1 Pa |
Vertical precision positioner | PI | P-620.ZCD | The resolution is 0.2 nm in the range of 50 μm. |
Workbench with three rigid cylindrical legs | Processed by high precision grinding | The diameter of legs is 0.5 mm. The legs are distributed on the trisection points of a circle with a radius of 14 mm |
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