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Method Article
La medición de microdesplazamiento de alta precisión es importante en el campo de la ingeniería aeroespacial, el mecanizado de ultraprecisión y el microensamblaje. El presente protocolo describe la medición de micro desplazamientos basada en la técnica de sombra.
La medición precisa de los microdesplazamientos es importante en los campos científicos e industriales. Sin embargo, es un desafío difícil debido al diseño complejo y al alto costo de los instrumentos de medición. Inspirado en la sombra formada por los caminantes acuáticos que caminan sobre una superficie de agua bajo la luz del sol, se propuso un método de medición de microdesplazamiento. Las patas de zancudo acuático con propiedades superhidrofóbicas doblan la superficie del agua. La superficie curva del agua refracta la luz solar, creando una sombra con un borde brillante en el fondo del estanque. El tamaño de la sombra es generalmente mayor que la profundidad de hendidura de las patas desde la superficie del agua. En el sistema de medición de microdesplazamiento, el desplazamiento aplicado es proporcional al cambio en el diámetro de la sombra. El estudio presentado propone un procedimiento de medición de micro-desplazamientos basado en esta técnica de sombra. La sensibilidad de desplazamiento puede alcanzar los 10,0 nm/píxel en el rango de 5 μm. Este sistema es fácil de construir, de bajo costo y tiene alta precisión con buen rendimiento lineal. El método proporciona una opción adicional conveniente para medir el microdesplazamiento.
Las mediciones precisas de desplazamiento desempeñan un papel vital en los campos de la ingeniería aeroespacial1, el mecanizado de ultraprecisión2 y el microensamblaje3. La deformación estructural debe medirse con precisión para el monitoreo de la salud estructural4. Sin embargo, las mediciones de microdesplazamiento con alta precisión siguen siendo un desafío difícil debido al diseño complejo y al alto costo de los instrumentos de medición5.
La técnica de medición de microdesplazamientos se puede dividir en métodos convencionales y no convencionales. Los métodos convencionales, como los sensores magnéticos, capacitivos, inductivos y eléctricos, son susceptibles a la interferencia electromagnética6. Los métodos no convencionales son principalmente métodos ópticos, como el método basado en fibra óptica y el método láser.
Ke Tian et al. diseñaron experimentalmente una estructura de fibra multimodo doblada en forma de globo para medir el microdesplazamiento, cuya sensibilidad al desplazamiento podría alcanzar experimentalmente 0,51 dB/μm con un rango de medición de 0-100 μm7. Sin embargo, primero se debe considerar el tamaño y el costo del demodulador de fibra óptica; Y no fue fácil eliminar el efecto térmico. Qianbo Lu et al. propusieron un sensor de desplazamiento de resolución subnanométrica basado en una cavidad interferométrica de rejilla, cuya sensibilidad podría alcanzar los 44,75 mV/nm mediante la compensación de intensidad y la modulación de fase8. El interferómetro láser es uno de los instrumentos de microdesplazamiento más utilizados con resolución a nanoescala. Sin embargo, el reflector requiere un procesamiento de señal complicado, y la resolución marginal de la interferometría limita sus aplicaciones9. Por lo tanto, se necesita un sistema de medición alternativo de construcción simple, de bajo costo y alta precisión.
En este artículo se propone un procedimiento de medición de micro-desplazamiento basado en la técnica de sombra 10,11,12,13 que es simple, de bajo costo, altamente preciso y con buen rendimiento lineal. Este método se inspiró en los zancudos acuáticos que caminaban sobre la superficie del agua. Las patas de zancudo acuático con propiedades superhidrofóbicas doblan la superficie del agua. La superficie curva del agua refracta la luz solar, creando una sombra con un borde brillante en el fondo del estanque. El tamaño de la sombra es generalmente mucho mayor que la profundidad de indentación de las patas desde la superficie del agua 14,15,16. En el sistema, el desplazamiento aplicado y el cambio en el diámetro de la sombra fueron proporcionales, lo que se verificó mediante el experimento de calibración. La investigación indica que este método proporciona una alternativa para medir con precisión el microdesplazamiento.
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1. Preparación de la pieza PDMS
2. Preparación experimental para la medición de microdesplazamientos
3. Procesamiento de imágenes
4. Calibración de desplazamiento
5. Medición de micro desplazamientos
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Siguiendo el protocolo, se puede calibrar la sensibilidad del sistema de medición de microdesplazamiento y se puede medir el microdesplazamiento. El método de sombra en la medición de microdesplazamiento se presenta a continuación. La Figura 3 muestra la trayectoria de viaje de la luz paralela a través de la superficie deformada del PDMS debido al desplazamiento aplicado. La refracción de la luz paralela forma una sombra que tiene un borde brillante. L...
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Este protocolo propuso un sistema de medición de micro-desplazamiento basado en la técnica de sombra. La calibración del desplazamiento es el paso crítico dentro del protocolo para obtener la sensibilidad del desplazamiento y el rango de medición. La sensibilidad al desplazamiento se puede mejorar reduciendo los diámetros de las patas cilíndricas y el del haz de luz paralelo y aumentando la distancia de trabajo según la Ecuación 4. Además, el tamaño de píxel y la resolución ...
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Los autores no tienen nada que revelar.
Agradecemos al Programa Nacional de Investigación y Desarrollo Clave de China (No 2021YFC2202702) por financiar este trabajo.
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Name | Company | Catalog Number | Comments |
Aperture diaphragm | Processed by high precision grinding | The diameter of the aperture is 0.7 mm. | |
Camera | Canon | EOS80D | The pixel size and the resolution of the camera are about 3.72 μm and 4000 × 6000, respectively. |
HALCON | MVTec Software GmbH | 18.11 | MVTec HALCON is the comprehensive standard software for machine vision with an integrated development environment (HDevelop) that is used worldwide. |
Motorized linear stage | Zolix | TSA50-C | Resolution 0.625 μm |
Parallel light source | Oriental Technology (Shanghai) Co, Ltd. | BTPL-50G | The peak wavelength is 523 nm. |
Polydimethylsiloxane (PDMS) | Dow Corning | Sylgard 184 | PDMS is a transparent silicon-based crosslinked polymer. |
Vacuum pump | SHANGHAI LICHEN-BX INSTRUMENT TECHONOLOGY CO.,Ltd | 2XZ-6B | The pumping rate is 6 L/s.The ultimate vacuum is ≤1 Pa |
Vertical precision positioner | PI | P-620.ZCD | The resolution is 0.2 nm in the range of 50 μm. |
Workbench with three rigid cylindrical legs | Processed by high precision grinding | The diameter of legs is 0.5 mm. The legs are distributed on the trisection points of a circle with a radius of 14 mm |
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