高光谱线扫描VSFG显微镜数据采集与分析

首先在带电耦合器件或CCD上收集VS-FG信号垂直线的频谱。通过垂直于光束扫描仪方向扫描样品来收集非共振强度图像。使用 MATLAB 成像工具箱高光谱成像库工作流程对数据进行光谱解混。

使用库中的超立方函数创建一个四维超立方体，其中 X 和 Y 是空间的，Z 对应于频率相关的强度，omega 是频率。使用计数端成员 HFC 函数识别唯一光谱的数量，误报或 PFA 值的概率为 10 到负 7。然后使用 N-finder 光谱解混功能识别独特的光谱。

使用 SID 函数，将每个像素与先前识别的唯一光谱之一相关联。最后，将每个孤立工作表的总和数据拟合到 Voit 函数。捕获了分散在盖玻片上的自组装板材的VS-FG图像。

通过光谱识别，发现所有片材均可分为两种类型，一种是VS-FG强度较高的，另一种是强度较低的。通过检查并与光学图像进行比较，图像中心的大片似乎有堆叠的双片，从而将较小的VS-FG强度归因于相消干涉。其中两片通过各种VS-FG偏振进行测量，并使用Voit函数拟合光谱。