应用高光谱反射率成像来研究调色板和画家的技术

该协议提供了涉及面部绘画分析的新机会。它支持用户在整个数据分析过程中一步一步地进行。该协议有两个主要优点。

用户可以根据自己的喜好定制分析，并且首次引入了频谱操作来分析高光谱数据。高光谱反射成像成功用于研究皮肤病或肿瘤诊断。即使方案诞生于反遗产领域，它也可以应用于临床健康数据集。

在艺术专家的支持下，对绘画表面进行初步检查，以确定绘画的主要特征。记下艺术家使用的绘画技巧，画布上颜料的不同笔触，并定性地估计笔触的特征，特别注意它们的大小。创建临时示例，其中笔触通过模仿艺术家使用的图形技术来显示与艺术家应用的特征相似的特征。

获取高光谱数据，并检查超立方体的空间分辨率是否可以区分绘制表面RGB图像上的不同笔触。运行 PointSel（隔离的测量点选择代码）以手动选择测试样品表面上的一些参考光谱。在终端窗口中键入命令行（包括分号），然后按 Enter 运行代码。

通过单击交互式窗口选择测量点，该窗口逐个显示视野的二维RGB图像。运行SAM_Standard，标准SAM映射评估代码以使用整个光谱提取SAM映射。键入命令行，在终端窗口中键入分号，然后按 Enter 运行代码。

SAM 地图将另存为当前工作文件夹中的 PNG 图像。检查获得的相似性图是否显示了用于实现测试样本的笔触的详细信息。如果没有，请通过重新调整测试样品表面和采集设备之间的距离来重新启动该过程。

根据测试样品获得的评估，设定被调查油漆表面与采集设备之间的距离。通过组织、读取和管理超立方体来执行高光谱数据的 IO。运行 HS FileLister 代码，将包含超立方体的文件列表和相关信息存储到两个变量中，供算法使用。

运行HS_Crop PNG 代码以选择要在数据分析中使用的每个 FOV 部分。接下来，运行 PointSel 代码并在显示的交互式窗口中单击，以将参考光谱标识为监测区域表面上的孤立测量点。在终端窗口中键入命令行（包括分号），然后按 Enter 运行 ReticularSel（Reticular 选择代码）。

这会自动选择参考光谱作为叠加到被监测区域表面的测量点的常规网状。这种选择方法使得分析非常耗时，因为参考文献的数量很大。在终端窗口中键入命令行（包括分号），然后按 Enter 运行 SaveImPoint。

这会将所选测量点的位置保存到叠加到视野图片中。运行Spectra_Importer，外部引用导入器代码以创建一个变量，其中包含来自数据集和数据库的引用，独立于在 quarto stato 上获取的超立方体。请注意，与使用高光谱相机获得的光谱相比，光谱的大小不同。

运行 SAM 完整代码以评估相似性映射。在对话框中输入所需的预处理选项输入零或一的代码。零要求仅对光谱归一化，或一表示要求在归一化后派生光谱一次。

通过键入用空格分隔的数字，在对话框中输入与引用矩阵的所需列相对应的数字序列。按回车键继续。将该方法设置为零，无需操作数据。

一种是在开始分析之前需要手动选择要考虑的光谱的波长范围，另一种是要求算法根据特定标准和在评估SAM图之前对数据进行排序。为了选择SAM分析的末端构件，该算法要么通过手动选择一些孤立的测量点来检索超立方体中的参考光谱，要么自动对绘画表面进行采样，从而在一个或多个FOV内提供特定的测量点选择。该算法还可以将超立方体与外部光谱进行比较，例如便携式FORS微型光谱仪获得的光谱。

当预处理的参考出现在交互式窗口中时，可以手动选择要分析的一个或多个波长间隔。在自动选择中，该算法根据此标准计算所需参考和排序光谱内的最大方差。如果最大方差对应于第n个波长，则每个预处理光谱的第n个分量的内容将被移动到重新排列的超向量的第一个位置，依此类推。

在自动操作之后，该算法将浮动阈值应用于方差值，并在递增的阈值处评估 SAM 映射，从而生成总共两个 n 加一组映射，其中 n 是阈值假定的值数。获得的相似性地图为映射区域的细节提供了新的见解。它们可以帮助比较样品和参考文献。

定制分析并利用任何频谱作为参考的可能性，扩大了用户的视野，但同时要求用户仔细评估他们的选择这种方法允许使用频谱操纵作为分析工具，因此计算机视觉和统计研究可以帮助加深对这个问题的可能性的认识。