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使用Quattro-Parallel 悬臂阵列的主动探针原子力显微镜,用于高通量大规模样品检测

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05:04 min

June 13th, 2023

DOI :

10.3791/65210-v

June 13th, 2023


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Instrument Calibration, Experimental Setup, and Parameter Tuning for Semiconductor Wafer Topography Imaging with AFM

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