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Die Quantifizierung von Wasserstoffkonzentrationen in Oberflächen- und Grenzflächenschichten und Schüttgüter durch Tiefenprofilierung mit Kernreaktionsanalyse

26.2K Views

14:11 min

March 29th, 2016

DOI :

10.3791/53452-v

March 29th, 2016


Transkript

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Technik

Kapitel in diesem Video

0:05

Title

1:29

Single Crystal Surface Preparation for Nuclear Reaction Analysis (NRA) in Ultra-high Vacuum

8:07

Surface Hydrogen Nuclear Reaction Analysis Measurements

9:24

Bulk and Interface Hydrogen Nuclear Reaction Analysis: Preparation and Measurement

11:02

Results: Nuclear Reaction Analysis Hydrogen Depth Profiles for Single Crystal Palladium and from Silicon Dioxide Films on Silicon

12:50

Conclusion

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