Damos las gracias a M. Hempenius y E. Benetti para un debate fructífero, Y. Yu para una revisión cuidadosa de la receta, M. Vlot para el diseño de la imagen de la figura 1, C. Padberg y K. Smit para soporte técnico. EK reconoce la Organización Holandesa para la Investigación Científica (NWO, TOP Subvención 700.56.322, macromolecular Nanotecnología con Estímulo Polímeros Responsive) de apoyo financiero. SdB ha sido apoyado por la Fundación para la Investigación Fundamental de la Materia (FOM), que es apoyado financieramente por la Organización Holandesa para la Investigación Científica (NWO).

NOTA: La Figura 2 ilustra el procedimiento de preparación de la muestra. Sustratos cepillos de polímero fueron injertados a partir de silicio (Si) (ruta (a)), a partir de sustratos recubiertos de oro (100 nm de oro evaporado sobre oblea de Si que tiene una capa de adhesión Cr 10 nm, ruta (b)), y de sondas de AFM coloidales de oro (6 m de diámetro, ruta (c)) por la superficie de transferencia de átomo inició la polimerización por radicales (SI-ATRP) 24. Las mediciones de AFM se realizaron en un multimodo AFM con la cabeza de bajo ruido, vertical acoplan escáner y una célula de líquido. 1. Preparación de muestras <ol><li> Preparación de la superficie <ol><li> Iniciador deposición sobre superficies de silicio. <ol><li> Limpie los sustratos de silicio con cloroformo, después solución de pirañas, y después con agua purificada, etanol y cloroformo. </li><li> Coloque los sustratos secos en un desecador en torno a un vial que contiene 50 l (3-aminopropil) trietoxisilano. </li><li> Evacuar el ingenio desecadorja bomba rotativa durante 15 minutos y cerrarla posteriormente. Deje que la deposición de vapor proceder O / N. </li><li> Preparar una solución de 40 ml de tolueno (desgasificado) y 40 l de trietilamina en un matraz Erlenmeyer. </li><li> Coloque los sustratos en el matraz y gota a gota añadir 40 l 2-bromo-2-metilpropionilo. Mantenga los sustratos en la solución, para evitar la deposición de cristales de sal formados en solución. </li><li> Agitar la solución durante 4 horas. </li><li> Enjuagar los sustratos con tolueno y etanol. A continuación, coloque los soportes en los viales de polimerización. </li></ol></li><li> Iniciador deposición sobre superficies de oro <ol><li> Preparar una solución monocapa: disolver el ácido 2-bromo-2-metil-propiónico 11- [11- (2-bromo-2-metil-propioniloxi) -undecyldisulfanyl] -undecyl éster en 20 ml de cloroformo desgasificado (0,2 mM). </li><li> Ca. Transferencia 1,5 ml solución monocapa en un pequeño frasco que se sonrojó previamente con argón. </li><li> Limpie los sustratos de oro recubierto con cloroformo ysolución de pirañas. Y después con agua purificada, etanol y cloroformo. </li><li> Sumerja los sustratos limpios en la solución de monocapa y cerrar el frasco. Tienda O / N en un lugar oscuro. </li><li> Limpie las sondas coloidales de oro con etanol y cloroformo sumergiéndolos en los disolventes. </li><li> Sumergir las sondas coloidales en el vial que contiene la solución monocapa. Cierre con firmeza y mantenerlo en un lugar oscuro O / N. </li><li> Retire los sustratos de la solución, se lava con cloroformo y etanol. A continuación, transferir los sustratos recubiertos de iniciador en el matraz de polimerización. </li><li> Retire las sondas coloidales de la solución monocapa, lavar con cloroformo y etanol. A continuación, transferir cada sonda por separado en el vial de polimerización. </li></ol></li></ol></li><li> Polimerización <ol><li> SI-ATRP de PMMA <ol><li> Purgar el frasco y viales, que contiene los sustratos iniciador cubierto (ambos de Si y oro) y las sondas coloidales con Argdurante 30 min. </li><li> Disolver 10 g de metacrilato de metilo (MMA) en el medio de ATRP (mezcla / agua 10 ml de metanol con una relación de 5: 1) y desgasificar la solución durante 2 horas. </li><li> Añadir 145 mg CuBr y 320 mg de 2,2-bipiridina en un matraz equipado con una barra de agitación magnética, y deoxygenize por 3 ciclos de relleno-Ar vacío. </li><li> Transferir la solución de monómero desgasificado en el matraz (que contiene el cobre) y se agita durante otros 15 min hasta que se observa una solución marrón clara. </li><li> Adjuntar una aguja a una jeringa de 2 ml y lavar la aguja y la jeringa con argón 2-3 veces. </li><li> Retirar solución de polimerización 1 ml con la jeringa e inyectar el contenido en el pequeño vial de reacción, que contiene la sonda coloide. </li><li> Retirar la solución restante con la jeringa e inyectar el contenido en el vial de reacción, que contiene los sustratos planos. Agregue suficiente solución para sumergir cada muestra por completo. </li><li> Llevar a cabo la polimerización durante 40 horas a temperatura ambiente. </li><li> Remover las muestras de la solución de polimerización y se lava con etanol y cloroformo en múltiples ciclos. La coloración de la muestra indica la presencia del cepillo. </li><li> Finalmente, se secan los sustratos bajo una corriente de nitrógeno. </li><li> Mantenga sustratos planos en una caja de nitrógeno. Tienda cepillo polímero sondas modificado en tolueno. </li></ol></li><li> SI-ATRP de PNIPAM 10 <ol><li> Purgar el matraz y viales, que contiene los sustratos iniciador de cubierta (tanto de Si y oro) y las sondas de coloides con argón durante 30 min. </li><li> Disolver 5,6 g -isopropylacrylamide N y 320 l PMDETA en el medio de ATRP (1,6 ml de agua y 18 ml de metanol) y desgasificar la solución durante 2 horas. </li><li> Añadir 76 mg CuBr en un matraz equipado con una barra de agitación magnética, y deoxygenize por 3 ciclos de relleno-Ar vacío. </li><li> Transferir la solución de monómero desgasificado en el matraz que contiene el cobre. Agitar durante otros 15 min hasta que se observó una solución de color verde claro. </li&gt; <li> Adjuntar una aguja a una jeringa de 2 ml y lavar la aguja y la jeringa con argón 2-3 veces. </li><li> Retirar solución de polimerización 1 ml con la jeringa e inyectar el contenido en el pequeño vial de reacción, que contiene la sonda coloide. Repita para todas las sondas. </li><li> Retirar la solución restante con la jeringa e inyectar el contenido en el matraz de reacción, que contiene los sustratos planos. Agregue suficiente solución para sumergir cada muestra por completo. </li><li> Llevar a cabo la polimerización durante 2 horas a RT. </li><li> Retire las muestras de la solución de polimerización y se lava con etanol y agua a través de múltiples ciclos. El color que aparece de la muestra indica la presencia del cepillo. </li><li> Sumergir la muestra en solución M EDTA 0,1 y mantenerlo en la solución de O / N para eliminar todo el cobre. Lavar con agua purificada y etanol. </li><li> Mantenga los sustratos planos en una caja de nitrógeno. Guarde el cepillo PNIPAM sondas modificadas en agua purificada. </li></ol></li></ol></li><li> Caracterización Brush, Fourier Transform Infrared (Figura 3) NOTA: El modo FTIR Uso pastoreo de ángulo para cepillos de polímero de sustrato de oro y el modo de transmisión FTIR para cepillos de polímero sobre sustrato de Si. Seque cuidadosamente todas las muestras. Cualquier contaminación del agua y disolventes pueden causar daños graves del detector. <ol><li> Poner en marcha el equipo de acuerdo con el manual proporcionado por el fabricante. </li><li> Ajuste los siguientes parámetros para la medición de la muestra: rango de entre 900 y 3700 cm-1 con una resolución de 4 cm -1 y promedio 32 exploraciones en cada medición. </li><li> Limpiar un sustrato en blanco de acuerdo con el protocolo utilizado para la preparación de la muestra, se secan cuidadosamente y colocarlo a la cámara de medición. </li><li> Aplicar vacío durante 4 hr. A continuación, grabar una exploración de fondo. </li><li> Retire la muestra en blanco y coloque la muestra seca cepillo recubierto de polímero en la cámara de muestra. </li><li> Aplicar vacío en el samplcámara E y registrar una muestra de barrido cada 30 min durante 5 h. </li><li> Identificar todos los picos en los espectros para confirmar composición química del cepillo de polímero. (Sólo analizar las exploraciones con una línea de base recta.) </li></ol></li></ol> 2. Medición AFM <ol><li> Rayar el sustrato cubierto cepillo de PMMA cuidadosamente con una aguja, enjuague con un buen disolvente para eliminar el exceso de polímero y secarlo. </li><li> Montar las muestras en el instrumento AFM y montar la sonda en la célula líquido. </li><li> Alinear el láser en el extremo del voladizo. </li><li> Con el uso de la cámara, alinee la punta por encima de un rasguño. </li><li> Antes de acercarse y participar de la punta, ajuste el tamaño de escaneo 0 nm. A continuación, enganchar la punta a la superficie. </li><li> Ir a &quot;modo de rampa&quot; y determinar la sensibilidad de desviación a través de las curvas de fuerza a distancia. Calibrar la constante normal de primavera usando la &#39;sintonía térmico &quot;como se aplica en el software y el resorte de torsión constante of voladizo utilizando el método de Wagner et al. 25 <ol><li> Captura el ruido térmico de torsión del voladizo en aire durante 2 seg usando la captura de datos de alta velocidad en el software (6,25 MHz). </li><li> Convertir el ruido térmico en la densidad espectral de potencia (V 2 / Hz), utilizando la transformada de Fourier. </li><li> Determinar la resonancia fundamental y el factor de calidad del voladizo en el aire utilizando el pico de resonancia de la densidad espectral de potencia y la ecuación para un oscilador armónico simple incluyendo el ruido de línea de base (eq. 2 de la Ref. 25). </li><li> Calcular la constante de resorte de torsión utilizando las dimensiones inplane del voladizo (longitud y anchura), la densidad y viscosidad del medio (aire) que rodea y el factor de calidad y la frecuencia de resonancia determinadas en el paso 2.6.3 usando el método de Sader 26. NOTA: Se utilizó la herramienta proporcionada en el sitio web de John Sader: www.ampc.ms.unimelb.edu.au/afm/calibration.html. </li><li> Californialculate la torsión sensibilidad deflexión angular del voladizo utilizando eq. 6 y 7 de Ref. 25. </li><li> Convertir la constante de resorte de torsión y la sensibilidad de deflexión en la constante de resorte y la deflexión lateral de sensibilidad utilizando el tamaño del coloide, el espesor de la voladizo y eq. 8 de Ref. 25. NOTA: la señal del detector ahora se puede convertir en una fuerza a través de: fuerza [N] = constante elástica lateral [N / m] * sensibilidad de desviación lateral [m / V] * señal del detector [V]. </li></ol></li><li> Mida la altura del cepillo del cepillo seco por imágenes del cepillo en un cero en el punto de ajuste más bajo posible desviación. Determine la altura del cepillo desde la línea de escáneres de la imagen capturada. </li><li> Solvato el cepillo en acetofenona aplicando suavemente a la superficie con una jeringa. NOTA: El color de los cambios de muestra como se evapora el disolvente. Esto permite siguiendo el proceso de secado. </li><li> Montar la muestra a la AFM. Alinear la señal láser vertical-1.0 V. Ajuste el punto de ajuste de desviación a 0 V y enganchar el voladizo y la superficie. NOTA: Después de lo que el voladizo en contacto con la superficie, la acetofenona se mueve en el cepillo en el coloide crear un puente capilar entre la punta y la superficie. </li><li> Ajuste el tamaño de escaneo de 40 micras, desactivar los ejes de barrido lento y ajuste el formato de imagen a 1: 4. Registre la altura y los canales de imagen fricción (tanto traza y de retroceso). </li><li> Cuando se capturan las imágenes retirar el voladizo. </li><li> Aplicar una gota de agua sobre la superficie de arbustos PNIPAM, para solvatar el cepillo PNIPAM. </li><li> Levante la cabeza y volver a colocar rápidamente la superficie de PMMA por la superficie PNIPAM solvatada para crear el sistema inmiscible. Ser rápido en el intercambio de las superficies, para evitar la evaporación de la acetofenona de la brocha PMMA en la sonda coloidal. </li><li> Involucrar a la punta y la superficie, y grabar imágenes con los mismos parámetros de la anterior. </li></ol>

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J. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=Transient+forces+in+flowing+soft+matter.">Transient forces in flowing soft matter.</a> Soft Matter. 5, 4401-4411 (2009).</li><li>Chen, M., Briscoe, W. H., Armes, S. P., Klein, J. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=Lubrication+at+Physiological+Pressures+by+Polyzwitterionic+Brushes.">Lubrication at Physiological Pressures by Polyzwitterionic Brushes.</a> Science. 323, 1698-1701 (2009).</li></ol>

The authors have nothing to disclose.

Los resultados presentados muestran que la fricción, para los sistemas de cepillos inmiscibles solvatadas individualmente, se reduce fuertemente en comparación con los sistemas tradicionales miscibles de dos de los mismos cepillos solvatadas. La absorbancia preferido de los diferentes disolventes en los dos cepillos evita que los cepillos de interdigitación y en consecuencia, una fuente importante de desgaste y degradación en el cepillo de fricción de polímero se elimina. Por consiguiente, el método presentado es fundamentalmente diferente de deslizamiento hidrófila seca en cepillos hidrófobas, donde la fricción será determinado por las interacciones del cepillo específico 27. De hecho, al cizallamiento PMMA en PNIPAM (colapsado altura de 166 nm), sin disolventes, encontramos que la fricción era 50% mayor en comparación con PMMA secar en PMMA (colapsado altura de 236 m). Como ya se ha señalado en breve en las notas de la sección &#39;Protocolo&#39;, hay un par de puntos cruciales que deben tenerse en cuenta al realizarestos experimentos particulares: En primer lugar, acetofenona es un mejor disolvente para PNIPAM que el agua. Por lo tanto, se debe tener cuidado de que acetofenona no entra en el cepillo PNIPAM mojando el cepillo PNIPAM con abundante agua. Desde acetofenona y el agua no se mezclan, la acetofenona ahora no entrar en el cepillo PNIPAM. Es por eso que no nos sumergimos nuestro sistema completamente en acetofenona, pero en vez creado un capilar acetofenona para el sistema mezclable. Otra razón para la inmersión incompleta es que los resultados de una inmersión completa en la hidrodinámica demasiado fuertes, que sólo medimos la resistencia Stokes en el coloide y voladizo. En segundo lugar, en los experimentos de AFM se acoplan las constantes de resorte de torsión y normales. Voladizos con una constante elástica baja normal también tendrán una constante de resorte torsional relativamente baja y viceversa. Esto limita el menor coeficiente de fricción medible a&gt; 10 -3. Por lo tanto, con el fin de medir la reducción de la fricción completa, la fricción para el MIScible sistema tiene que ser alta. Esto se logra mediante el uso de largos cepillos de alta densidad y una velocidad relativamente alta cizalla de típicamente 100 m / seg. Por otra parte, el capilar entre los cepillos también aumenta las fuerzas de fricción. Se midió el coeficiente de fricción más bajo, para un sistema inmiscible 22, de μ = 0.003 bajo una tensión normal estimado de 200 kPa. Usando las mismas condiciones experimentales, se encontró que μ = 0,15 para el sistema miscible. Tenga en cuenta que los experimentos se realizaron en un ambiente controlado de laboratorio y que las superficies utilizadas en la industria no son tan ideal como utilizado en los experimentos presentados. La mayoría de las superficies tienen una distribución no uniforme de rugosidad 28 y por lo tanto muchas asperezas de diferentes formas y tamaños. Durante la colisión de dos asperezas cepillo-cojinete, la fricción se compone de diferentes canales de disipación 29. Al lado de estado estacionario mecanismos de disipación, como interdigitación y el flujo de disolvente, habrá efectos de histéresis en la forma 30 debido al tiempo de relajación lenta de los polímeros y disolvente. Además, los capilares se forman y se rompen. En los sistemas de cepillo miscible usado tradicionalmente, interdigitación transitoria 31 amplifica histéresis shape- y capilar. Con el sistema inmiscible que aquí se presenta, interdigitación transitoria se elimina también. Por otra parte, la histéresis capilar puede ser evitado mediante la aplicación de dos disolventes inmiscibles. Por lo tanto, también para las superficies ásperas más común, la fricción y el desgaste se reducirá el uso de sistemas de cepillo 22 inmiscible. La fuente principal de fricción que queda es la deformación cepillo. Anclaje polímeros polyzwitterionic, que son conocidos por su baja fricción intrínseca 32, sobre una de las superficies puede minimizar el último. En tales sistemas la presión osmótica del disolvente es alta resultante en poca deformación cepillo bajo altas cargas normales. Lapresentado método de los sistemas de cepillo inmiscibles se puede aplicar en casi cualquier sistema donde la baja fricción es deseable. Las funciones método bien bajo altas presiones. Sin embargo, se debe tener cuidado de que la temperatura se mantiene alrededor de RT. Las altas temperaturas dañan los polímeros, lo que provocará el flujo de líquido fuera del contacto y en consecuencia, de alta fricción. Ejemplos de aplicación potencial son: jeringas, sistemas de pistones, cojinetes de ejes y bisagras.

Lubricantes Perfect reducen la fricción y el desgaste de los sólidos en movimiento relativo, incluso cuando las cargas normales son altos. Para lograr esto, el lubricante debe permanecer en contacto durante el deslizamiento y en reposo. Sin embargo, bajo una carga normal positiva, líquidos simples, de baja viscosidad se aprietan rápidamente fuera de la zona de contacto y aceites aún mayor viscosidad son expulsados ​​finalmente. Sin embargo, los contactos biológicos, por ejemplo, en las articulaciones humanas, siguen lubricados con fluidos de baja viscosidad en todo momento. Naturaleza da cuenta de tales lubricación eficaz usando cadenas de azúcar unidas a superficies sólidas 1. Las cadenas de azúcar hidrófilos mantener un líquido acuoso en el contacto siempre que la presión normal no exceda de la presión osmótica del disolvente 2. Por lo tanto, una gran cantidad de esfuerzo se ha dirigido hacia imitando lubricantes biológicos mediante el injerto de polímeros a superficies sólidas que forman los llamados cepillos de polímero 3-12. Cuando dos de polímero opuestocepillos se ponen en contacto, los segmentos de las cadenas de polímero en un lado se pueden mover en los segmentos de la cadena de cepillo en el lado opuesto. Este efecto se denomina interdigitación 13. Cuando los cepillos están en movimiento de deslizamiento relativo, interdigitación es la principal fuente de desgaste 14 y la fricción 15-17. De hecho, hace poco, las relaciones de fricción deslizante de velocidad para cepillos de polímero se han derivado 18. Estas leyes de escala se basan en interdigitación y el consiguiente estiramiento y flexión de los polímeros sobre la corredera. Las características principales de acuerdo con los resultados de los experimentos superficiales aparatos fuerzas 19 y de dinámica molecular (MD) simulaciones 20. En este último el grado de solapamiento se puede cuantificar directamente. Además, se demostró que el solapamiento entre las escobillas de polielectrolitos se puede ajustar mediante la aplicación de un campo eléctrico 21. Por lo tanto, si interdigitación se puede evitar, la fricción y el desgaste en estos sistemas serían significativos llevadosTLY reducida. En una publicación reciente 22 hemos demostrado a través de simulaciones MD de que dos sistemas de cepillo de polímero solvatadas inmiscibles evitar el solapamiento entre los cepillos. Por otra parte, al deslizamiento de los cepillos, se encontró una disminución de la fuerza de fricción en dos órdenes de magnitud en comparación con los sistemas tradicionales de pincel miscibles, en excelente acuerdo con nuestra microscopía de fuerza atómica (AFM) mediciones. Aquí, se explica en detalle cómo configurar los experimentos de AFM de Ref. 22. El principio básico se esboza en la Figura 1. En las dos superficies de venta libre, dos cepillos diferentes, cada uno solvatada por su propio disolvente preferido, se necesitan. En esta configuración cada cepillo permanece en su propio disolvente. En consecuencia, los segmentos de polímero de un cepillo no penetran en el otro cepillo. El poli (metacrilato de metilo) (PMMA) se injerta de una sonda AFM coloidal y el cepillo está solvatado por acetofenona. Desde la superficie plana de poli (N -isopropylacrylamide) (PNIPAM) se injerta y solvatados en agua. Para comparar el sistema actual a los sistemas miscibles tradicionales, se realiza una segunda contra-superficie plana que lleva un cepillo de PMMA solvatada en acetofenona. La fuerza de fricción de deslizamiento medido sobre el sistema inmiscible de PMMA en PNIPAM es de aproximadamente 1% de la fricción para el sistema de PMMA miscible en PMMA. Tenga en cuenta que el uso de estos sistemas de cepillo particulares es sólo un ejemplo. El método presentado es genérico y funciona debido a la absorbancia preferido de los disolventes en los diferentes cepillos. Por lo tanto, se espera que más tipos de cepillos de ser aplicable, siempre que los disolventes elegidos DE-mezcla en los dos cepillos. El efecto se amplifica mediante el uso de dos disolventes no mezcla (como acetofenona y agua) de tal manera que se crea un fluido-on-líquido-deslizamiento resbaladizo adicional interfaz de 22,23.

<table border="0" cellpadding="0" cellspacing="0" width="974">
	<tbody>
		<tr height="42">
			<td height="42" style="height:42px;width:241px;">Name of Material/ Equipment</td>
			<td style="width:108px;">Company</td>
			<td style="width:105px;">Catalog Number</td>
			<td style="width:520px;">Comments/Description</td>
		</tr>
		<tr height="21">
			<td height="21" style="height:21px;width:241px;"></td>
			<td style="width:108px;"></td>
			<td style="width:105px;"></td>
			<td></td>
		</tr>
		<tr height="21">
			<td height="21" style="height:21px;">Methyl methacrylate</td>
			<td style="width:108px;">Sigma-Aldrich</td>
			<td>M55909&#160;</td>
			<td>Monomer for PMMA synthesis, cleaned by pressing through a basic alumina column</td>
		</tr>
		<tr height="21">
			<td height="21" style="height:21px;">3-aminopropyl)triethoxysilane</td>
			<td style="width:108px;">Sigma-Aldrich</td>
			<td>440140</td>
			<td>vapor deposited silane monolayer</td>
		</tr>
		<tr height="21">
			<td height="21" style="height:21px;width:241px;">triethylamine</td>
			<td style="width:108px;">Sigma-Aldrich</td>
			<td>T0886</td>
			<td>Reagent for the ATRP initiator moiety coupling.</td>
		</tr>
		<tr height="21">
			<td height="21" style="height:21px;">2-bromo-2-methylpropionyl</td>
			<td style="width:108px;">Sigma-Aldrich</td>
			<td>252271</td>
			<td>ATRP initiator moiety.</td>
		</tr>
		<tr height="21">
			<td height="21" style="height:21px;width:241px;">toluene</td>
			<td style="width:108px;">&#160;Biosolve</td>
			<td style="width:105px;">20150501</td>
			<td>Coupling medium for ATRP moiety</td>
		</tr>
		<tr height="21">
			<td height="21" style="height:21px;">CuBr</td>
			<td style="width:108px;">Sigma-Aldrich</td>
			<td>212865</td>
			<td>ATRP catalyst.</td>
		</tr>
		<tr height="21">
			<td height="21" style="height:21px;">2,2&#8242;-Bipyridyl</td>
			<td style="width:108px;">Sigma-Aldrich</td>
			<td>14453</td>
			<td>Cu complexing ligand for ATRP of MMA</td>
		</tr>
		<tr height="21">
			<td height="21" style="height:21px;">N,N,N&#8242;,N&#8242;&#8242;,N&#8242;&#8242;-Pentamethyldiethylenetriamine</td>
			<td style="width:108px;">Sigma-Aldrich</td>
			<td>369497</td>
			<td>Cu complexing ligand for ATRP of NIPAM</td>
		</tr>
		<tr height="21">
			<td height="21" style="height:21px;">acetic acid 98-100%</td>
			<td style="width:108px;">Merck</td>
			<td>8187551000</td>
			<td>For&#160; cleaning CuBr.</td>
		</tr>
		<tr height="21">
			<td height="21" style="height:21px;">Sulfuric acid</td>
			<td style="width:108px;">Sigma-Aldrich</td>
			<td>320501</td>
			<td>For the preparation of Piranha solution</td>
		</tr>
		<tr height="21">
			<td height="21" style="height:21px;width:241px;">Hydrogen peroxide 33%</td>
			<td style="width:108px;">&#160;Merck</td>
			<td style="width:105px;">&#160;1.07210.1000</td>
			<td>For the preparation of Piranha solution</td>
		</tr>
		<tr height="21">
			<td height="21" style="height:21px;">Ethanol</td>
			<td style="width:108px;">&#160;Merck</td>
			<td style="width:105px;">1.00983.1000</td>
			<td>For cleaning substrates.</td>
		</tr>
		<tr height="21">
			<td height="21" style="height:21px;">Basic aluminum oxide 60&#160;</td>
			<td style="width:108px;">&#160;Merck</td>
			<td style="width:105px;"></td>
			<td>For cleaning monomers.</td>
		</tr>
		<tr height="21">
			<td height="21" style="height:21px;">Chloroform</td>
			<td style="width:108px;">&#160;Biosolve</td>
			<td style="width:105px;">3080501</td>
			<td>For monolayer deposition and substrate cleaning.</td>
		</tr>
		<tr height="21">
			<td height="21" style="height:21px;width:241px;">Methanol</td>
			<td style="width:108px;">&#160;Biosolve</td>
			<td style="width:105px;">13680501</td>
			<td>For polymerization medium.</td>
		</tr>
		<tr height="21">
			<td height="21" style="height:21px;">Acetophenone</td>
			<td style="width:108px;">Acros Organics</td>
			<td>&#160;102410010</td>
			<td>For AFM measurement environment.</td>
		</tr>
		<tr height="21">
			<td height="21" style="height:21px;">N-isopropyl acrylamide</td>
			<td style="width:108px;">Acros Organics</td>
			<td>412780250</td>
			<td>Monomer for PNIPAM synthesis, recrystallized from toluene/hexane</td>
		</tr>
		<tr height="21">
			<td height="21" style="height:21px;">Poly(ethylene glycol) methacrylate&#160;</td>
			<td style="width:108px;">Sigma-Aldrich</td>
			<td>409529</td>
			<td>Monomer for Si-POEGMA synthesis, cleaned by pressing through a basic alumina column.</td>
		</tr>
		<tr height="84">
			<td height="84" style="height:84px;">MilliQ water</td>
			<td style="width:108px;">MilliQ Advantage A 10 purification system&#160;</td>
			<td style="width:105px;"></td>
			<td style="width:520px;">ATRP medium, AFM measurement environment 
			and for substrate cleaning.</td>
		</tr>
		<tr height="21">
			<td height="21" style="height:21px;">Silicon substrates&#160;</td>
			<td style="width:108px;"></td>
			<td style="width:105px;"></td>
			<td></td>
		</tr>
		<tr height="21">
			<td height="21" style="height:21px;width:241px;">Gold coated substrates</td>
			<td style="width:108px;"></td>
			<td style="width:105px;"></td>
			<td></td>
		</tr>
		<tr height="21">
			<td height="21" style="height:21px;width:241px;">AFM probe, CP-FM-Au,&#160;</td>
			<td style="width:108px;">SQube</td>
			<td style="width:105px;"></td>
			<td>AFM measurement</td>
		</tr>
		<tr height="21">
			<td height="21" style="height:21px;width:241px;"></td>
			<td style="width:108px;"></td>
			<td style="width:105px;"></td>
			<td></td>
		</tr>
		<tr height="42">
			<td height="42" style="height:42px;width:241px;">dithiodiundecane-11,1-diybis[2-bromo-2-methlpropanoate] (DTPR)</td>
			<td style="width:108px;"></td>
			<td style="width:105px;"></td>
			<td style="width:520px;">Initiator, for Si-ATRP on gold surfaces. 
			Synthesized according to Macromolecules, 2000, 33,597.</td>
		</tr>
		<tr height="21">
			<td height="21" style="height:21px;width:241px;"></td>
			<td style="width:108px;"></td>
			<td style="width:105px;"></td>
			<td></td>
		</tr>
		<tr height="20">
			<td height="20" style="height:20px;">Atomic Frorce Microscope</td>
			<td colspan="2">Bruker Multimode V controller</td>
			<td></td>
		</tr>
	</tbody>
</table>

preparation and friction force microscopy measurements of immiscible, opposing polymer brushes

Cepillos de polímero solvatadas son bien conocidos para lubricar los contactos de alta presión, debido a que pueden sostener una carga normal positivo, mientras que el mantenimiento de baja fricción en la interfaz. Sin embargo, estos sistemas pueden ser sensible al desgaste debido a la interdigitación de los cepillos opuestos. En una publicación reciente, hemos demostrado a través de simulaciones de dinámica molecular y experimentos de microscopía de fuerza atómica, que el uso de un sistema de cepillo de polímero inmiscible concluido el sustrato y las superficies deslizantes, respectivamente, se puede eliminar tal interdigitación. Como consecuencia, el desgaste en los contactos se reduce. Por otra parte, la fuerza de fricción es dos órdenes de magnitud inferior en comparación con los sistemas tradicionales de cepillos de polímero miscible. Por tanto, este nuevo sistema propuesto tiene un gran potencial para su aplicación en la industria. Aquí, la metodología para la construcción de un sistema de cepillo de polímero inmiscible de dos cepillos diferentes, cada uno por su propia solvatadas disolvente preferido es presentado. El procedimiento de cómo injertar poly (N -isopropylacrylamide) (PNIPAM) a partir de una superficie plana y poli (metacrilato de metilo) (PMMA) de un microscopio de fuerza atómica (AFM) de la sonda coloidal se describe. PNIPAM se solvatados en agua y PMMA en acetofenona. A través de mediciones de AFM fuerza de fricción, se muestra que la fricción para este sistema es, en efecto redujo en dos órdenes de magnitud en comparación con el sistema de PMMA miscible en PMMA solvatada en acetofenona.

La figura 4 muestra trazas representativas de fuerza AFM al deslizarse tanto el los sistemas de cepillo de polímero inmiscibles y miscibles. La fuerza de rozamiento F se normalizó por la fuerza de fricción en estado estacionario deslizante F sym para la simétrica, sistema mezclable. La altura del cepillo hinchado en estos experimentos fue 1010 nm para PMMA y 532 nm para PNIPAM. Las huellas de fuerza son capturados después de seguir el procedimiento descrito en la sección Protocolo. En estos experimentos la superficie se mueve adelante y atrás con una velocidad v de 80 m / seg mientras se aplica una carga normal de 30 nN. La diferencia en la fuerza de fricción para la miscible (panel izquierdo) y los sistemas de cepillo inmiscibles (panel derecho) se puede observar claramente. La fuerza de fricción en estado estacionario en el panel de la izquierda es 90x mayor que la fuerza de fricción en estado estacionario en el panel derecho. Para el sistema inmiscible en la fuerza de fricción medido es típicamente 0,5-2% de la fuerza de fricción f medidoo el sistema miscible. Aunque la reducción exacta de fricción depende de la densidad del injerto, grado de polimerización, cantidad de disolvente, y (débilmente) en la carga normal y la velocidad de deslizamiento, es siempre alrededor de dos órdenes de magnitud. Si aumentamos la velocidad de deslizamiento para el sistema descrito anteriormente por un factor 5 (a 400 m / seg), la reducción de la fricción disminuye en un 2%. Si aumentamos la carga normal por un factor de 10 (a 300 nN), la reducción de la fricción se reduce en 3%. <img alt="Figura 1" src="/files/ftp_upload/52285/52285fig1highres.jpg" /> Figura 1. boceto esquemático de la configuración. El panel izquierdo muestra el sistema miscible, donde los mismos polímeros se injertan de la superficie y el coloide. Los cepillos están solvatados en un líquido de una fase. El panel derecho muestra el sistema inmiscibles de dos cepillos de polímeros diferentes. Cada cepillo se solvata en su propio líquido preferido. En la tradicionalsistemas miscibles los polímeros de los cepillos opuestos se solapen. Para el sistema inmiscibles, cepillos opuestos no se entrelazan de tal manera que la fricción y el desgaste durante el deslizamiento se reduce. <img alt="Figura 2" src="/files/ftp_upload/52285/52285fig2highres.jpg" width="700px" /> Figura 2. Modelo esquemático del procedimiento de preparación de la muestra como se describe en la sección de protocolos. De izquierda a derecha se muestra el procedimiento de preparación de cepillo a través de la deposición de iniciador de polimerización radical y la superficie iniciado transferencia de átomo (ATRP SI). Camino (A) describe los cepillos injertadas de superficies de silicio, (B) cepillos injertadas de oro recubiertas superficies de silicio y (C) cepillos injertadas de coloides de oro en las sondas de microscopía de fuerza atómica. <a href="https://www.jove.com/files/ftp_upload/52285/52285fig2highres.jpg" target="_blank">Por favor, haga clic aquí para ver al</a>Arger versión de esta figura. <img alt="Figura 3" src="/files/ftp_upload/52285/52285fig3highres.jpg" /> Figura 3. FTIR espectros del PMMA (azul) y PNIPAM (verde) cepillos de silicio (líneas gruesas) y el oro (líneas delgadas). Los datos se obtuvieron a partir Suppl. Mat. de Ref. 22. números de onda de PMMA (cm - 1): 3,050-2,990 (CH vibración de tensión), 1730 C = O (enlace doble vibración de tensión), 1450 (CH 3 y CH 2 deformación vibraciones), 1,260-1,040 (vibración enlace sencillo COC estiramiento ), 880-960 (COC enlace simple deformación de vibración). En 1730 cm - 1 el pico de vibración de tensión característica de la grupo C = O es evidente números de onda de PNIPAM (cm -1): 3289 (NH simétricas y vibración de tensión asimétrica), 3078, 2971, 2933, 2874 (CH asimétrica y simétrica de estiramiento. vibración en -CH &lt;sub&gt; 2 -), 1635 (C = O vibración de tensión), 1535 (amida II), 1458 (CH asimétricos deformaciones de flexión), 1386 (CH simétricas deformaciones de flexión), 1,366-1,170 (CN vibraciones asimétricas de estiramiento). En 1635 y 1535 cm - 1 los picos característicos de estiramiento de vibración del grupo amida son evidentes. <img alt="Figura 4" src="/files/ftp_upload/52285/52285fig4highres.jpg" width="700px" /> Figura 4. Averaged, se filtra y se alisó los rastros de fuerza sobre arrastrando el miscible (izquierda) y (derecha) sistemas inmiscibles (ajustado de la Ref. 22). La superficie se mueve hacia atrás y hacia adelante por 40 micras, con una velocidad de barrido de 1 Hz y carga normal de 30 nN.

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Preparation and Friction Force Microscopy Measurements of Immiscible, Opposing Polymer Brushes

The methodology to perform friction force microscopy experiments for contacting brushes is presented: Two polymer brushes that are grafted from (a) substrates and (b) colloidal probes are slid to show that, by using two contacting immiscible brush systems, friction in sliding contacts is reduced compared to miscible brush systems.

Preparación y Fricción Fuerza Microscopía mediciones de inmiscibles, opuestos polímero Cepillos

Solvated polymer brushes are well known to lubricate high-pressure contacts, because they can sustain a positive normal load while maintaining low ...

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13.9K vistas.  Forschungszentrum Jülich. The methodology to perform friction force microscopy experiments for contacting brushes is presented: Two polymer brushes that are grafted from (a) substrates and (b) colloidal probes are slid to show that, by using two contacting immiscible brush systems, friction in sliding contacts is reduced compared to miscible brush systems.

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Atomic Force Microscopy of Red-Light Photoreceptors Using PeakForce Quantitative Nanomechanical Property Mapping

Atomic force microscopy (AFM) uses a pyramidal tip attached to a cantilever to probe the force response of a surface. The deflections of the tip can be measured to ~10 pN by a laser and sectored detector, which can be converted to image topography. Amplitude modulation or &#8220;tapping mode&#8221; AFM involves the probe making intermittent contact with the surface while oscillating at its resonant frequency to produce an image. Used in conjunction with a fluid cell, tapping-mode AFM enables the imaging of biological macromolecules such as proteins in physiologically relevant conditions. Tapping-mode AFM requires manual tuning of the probe and frequent adjustments of a multitude of scanning parameters which can be challenging for inexperienced users. To obtain high-quality images, these adjustments are the most time consuming.
PeakForce Quantitative Nanomechanical Property Mapping (PF-QNM) produces an image by measuring a force response curve for every point of contact with the sample. With ScanAsyst software, PF-QNM can be automated. This software adjusts the set-point, drive frequency, scan rate, gains, and other important scanning parameters automatically for a given sample. Not only does this process protect both fragile probes and samples, it significantly reduces the time required to obtain high resolution images. PF-QNM is compatible for AFM imaging in fluid; therefore, it has extensive application for imaging biologically relevant materials.
The method presented in this paper describes the application of PF-QNM to obtain images of a bacterial red-light photoreceptor, RpBphP3 (P3), from photosynthetic R. palustris in its light-adapted state. Using this method, individual protein dimers of P3 and aggregates of dimers have been observed on a mica surface in the presence of an imaging buffer. With appropriate adjustments to surface and/or solution concentration, this method may be generally applied to other biologically relevant macromolecules and soft materials.

A method for investigating the structure of a protein photoreceptor using atomic force microscopy (AFM) is described in this paper. PeakForce Quantitative Nanomechanical Property Mapping (PF-QNM) reveals intact protein dimers on a mica surface.

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Atomic force microscopy (AFM) has become a well-established technique for nanoscale imaging of samples in air and in liquid. Recent studies have shown that when operated in amplitude-modulation (tapping) mode, atomic or molecular-level resolution images can be achieved over a wide range of soft and hard samples in liquid. In these situations, small oscillation amplitudes (SAM-AFM) enhance the resolution by exploiting the solvated liquid at the surface of the sample. Although the technique has been successfully applied across fields as diverse as materials science, biology and biophysics and surface chemistry, obtaining high-resolution images in liquid can still remain challenging for novice users. This is partly due to the large number of variables to control and optimize such as the choice of cantilever, the sample preparation, and the correct manipulation of the imaging parameters. Here, we present a protocol for achieving high-resolution images of hard and soft samples in fluid using SAM-AFM on a commercial instrument. Our goal is to provide a step-by-step practical guide to achieving high-resolution images, including the cleaning and preparation of the apparatus and the sample, the choice of cantilever and optimization of the imaging parameters. For each step, we explain the scientific rationale behind our choices to facilitate the adaptation of the methodology to every user's specific system.

We present a method for achieving sub-nanometer resolution images with amplitude-modulation (tapping mode) atomic force microscopy in liquid. The method is demonstrated on commercial atomic force microscopes. We explain the rationale behind our choices of parameters and suggest strategies for resolution optimization.

Resolución de imagen subnanométrica con modulación de amplitud en microscopía de fuerza atómica en Líquido

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A method for producing simple and efficient thermally-activated delayed fluorescence organic light-emitting diodes (OLEDs) based on guest-host or exciplex ...

Generating Lap Joints Via Friction Stir Spot Welding on DP780 Steel

Friction stir spot welding (FSSW), a derivative of friction stir welding (FSW), is a solid-state welding technique that was developed in 1991. An industry application was found in the automotive industry in 2003 for the aluminum alloy that was used in the rear doors of automobiles. Friction stir spot welding is mostly used in Al alloys to create lap joints. The benefits of friction stir spot welding include a nearly 80% melting temperature that lowers the thermal deformation welds without splashing compared to resistance spot welding. Friction stir spot welding includes 3 steps: plunging, stirring, and retraction. In the present study, other materials including high strength steel are also used in the friction stir welding method to create joints. DP780, whose traditional welding process involves the use of resistance spot welding, is one of several high strength steel materials used in the automotive industry. In this paper, DP780 was used for friction stir spot welding, and its microstructure and microhardness were measured. The microstructure data showed that there was a fusion zone with fine grain and a heat effect zone with island martensite. The microhardness results indicated that the center zone exhibited a greater degree of hardness compared with the base metal. All data indicated that the friction stir spot welding used in dual phase steel 780 can create a good lap joint. In the future, friction stir spot welding can be used in high-strength steel welding applied in industrial manufacturing processes.

Here, we present a friction stir spot welding (FSSW) protocol on dual phase 780 steel. A tool pin with high-speed rotation generates heat from friction to soften the material, and then, the pin plunges into 2 sheet joints to create the lap joint.

Generación de juntas de vuelta a través de soldadura por punto de agitación por fricción en acero DP780

Friction stir spot welding (FSSW), a derivative of friction stir welding (FSW), is a solid-state welding technique that was developed in 1991. An industry ...

X-ray Beam Induced Current Measurements for Multi-Modal X-ray Microscopy of Solar Cells

X-ray beam induced current (XBIC) measurements allow mapping of&#160;the nanoscale performance of electronic devices such as solar cells. Ideally, XBIC is employed simultaneously with other techniques within a multi-modal X-ray microscopy approach. An example is given herein combining XBIC with X-ray fluorescence to enable point-by-point correlations of the electrical performance with chemical composition. For the highest signal-to-noise ratio in XBIC measurements, lock-in amplification plays a crucial role. By this approach, the X-ray beam is modulated by an optical chopper upstream of the sample. The modulated X-ray beam induced electrical signal is amplified and demodulated to the chopper frequency using a lock-in amplifier. By optimizing low-pass filter settings, modulation frequency, and amplification amplitudes, noise can efficiently be suppressed for the extraction of a clear XBIC signal. A similar setup can be used to measure the X-ray beam induced voltage (XBIV). Beyond standard XBIC/XBIV measurements, XBIC can be measured with bias light or bias voltage applied such that outdoor working conditions of solar cells can be reproduced during in-situ and operando measurements. Ultimately, the multi-modal and multi-dimensional evaluation of electronic devices at the nanoscale enables new insights into the complex dependencies between composition, structure, and performance, which is an important step towards solving the materials&#39; paradigm.

A setup for X-ray beam induced current measurements at synchrotron beamlines is described. It unveils the nanoscale performance of solar cells and extends the suite of techniques for multi-modal X-ray microscopy. From wiring to signal-to-noise optimization, it is shown how to perform state-of-the-art XBIC measurements at a hard X-ray microprobe.

Mediciones de corriente inducidas por haz de rayos X para microscopía de rayos X multimodal de células solares

X-ray beam induced current (XBIC) measurements allow mapping of&#160;the nanoscale performance of electronic devices such as solar cells. Ideally, XBIC is ...

Hydrogen Charging of Aluminum using Friction in Water

A new method of hydrogen charging of aluminum was developed by means of a friction in water (FW) procedure. This procedure can easily introduce high amounts of hydrogen into aluminum based on the chemical reaction between water and non-oxide coated aluminum.

In order to introduce high amounts of hydrogen in aluminum and aluminum alloys, a new method of hydrogen charging was developed, called the friction in water procedure.

Carga de hidrógeno de aluminio usando fricción en el agua

A new method of hydrogen charging of aluminum was developed by means of a friction in water (FW) procedure. This procedure can easily introduce high ...

Co-localizing Kelvin Probe Force Microscopy with Other Microscopies and Spectroscopies: Selected Applications in Corrosion Characterization of Alloys

Kelvin probe force microscopy (KPFM), sometimes referred to as surface potential microscopy, is the nanoscale version of the venerable scanning Kelvin probe, both of which measure the Volta potential difference (VPD) between an oscillating probe tip and a sample surface by applying a nulling voltage equal in magnitude but opposite in sign to the tip-sample potential difference. By scanning a conductive KPFM probe over a sample surface, nanoscale variations in surface topography and potential can be mapped, identifying likely anodic and cathodic regions, as well as quantifying the inherent material driving force for galvanic corrosion.
Subsequent co-localization of KPFM Volta potential maps with advanced scanning electron microscopy (SEM) techniques, including back scattered electron (BSE) images, energy dispersive spectroscopy (EDS) elemental composition maps, and electron backscattered diffraction (EBSD) inverse pole figures can provide further insight into structure-property-performance relationships. Here, the results of several studies co-localizing KPFM with SEM on a wide variety of alloys of technological interest are presented, demonstrating the utility of combining these techniques at the nanoscale to elucidate corrosion initiation and propagation.
Important points to consider and potential pitfalls to avoid in such investigations are also highlighted: in particular, probe calibration and the potential confounding effects on the measured VPDs of the testing environment and sample surface, including ambient humidity (i.e., adsorbed water), surface reactions/oxidation, and polishing debris or other contaminants. Additionally, an example is provided of co-localizing a third technique, scanning confocal Raman microscopy, to demonstrate the general applicability and utility of the co-localization method to provide further structural insight beyond that afforded by electron microscopy-based techniques.

Kelvin probe force microscopy (KPFM) measures surface topography and differences in surface potential, while scanning electron microscopy (SEM) and associated spectroscopies can elucidate surface morphology, composition, crystallinity, and crystallographic orientation. Accordingly, the co-localization of SEM with KPFM can provide insight into the effects of nanoscale composition and surface structure on corrosion.

Co-localización de la microscopía de fuerza de la sonda Kelvin con otras microscopías y espectroscopias: aplicaciones seleccionadas en la caracterización de la corrosión de aleaciones

Kelvin probe force microscopy (KPFM), sometimes referred to as surface potential microscopy, is the nanoscale version of the venerable scanning Kelvin ...

Optimizing Magnetic Force Microscopy Resolution and Sensitivity to Visualize Nanoscale Magnetic Domains

Magnetic force microscopy (MFM) enables mapping local magnetic fields across a sample surface with nanoscale resolution. To perform MFM, an atomic force microscopy (AFM) probe whose tip has been magnetized vertically (i.e., perpendicular to the probe cantilever) is oscillated at a fixed height above the sample surface. The resultant shifts in the oscillation phase or frequency, which are proportional to the magnitude and sign of the vertical magnetic force gradient at each pixel location, are then tracked and mapped. Although the spatial resolution and sensitivity of the technique increases with decreasing lift height above the surface, this seemingly straightforward path to improved MFM images is complicated by considerations such as minimizing topographical artifacts due to shorter range van der Waals forces, increasing the oscillation amplitude to further improve sensitivity, and the presence of surface contaminants (in particular water due to humidity under ambient conditions). In addition, due to the orientation of the probe's magnetic dipole moment, MFM is intrinsically more sensitive to samples with an out-of-plane magnetization vector. Here, high-resolution topographical and magnetic phase images of single and bicomponent nanomagnet artificial spin-ice (ASI) arrays obtained in an inert (argon) atmosphere glovebox with &lt;0.1 ppm O2 and H2O are reported. Optimization of lift height and drive amplitude for high resolution and sensitivity while simultaneously avoiding the introduction of topographical artifacts is discussed, and detection of the stray magnetic fields emanating from either end of the nanoscale bar magnets (~250 nm long and &lt;100 nm wide) aligned in the plane of the ASI sample surface is shown. Likewise, using the example of a Ni-Mn-Ga magnetic shape memory alloy (MSMA), MFM is demonstrated in an inert atmosphere with magnetic phase sensitivity capable of resolving a series of adjacent magnetic domains each ~200 nm wide.

Magnetic force microscopy (MFM) employs a vertically magnetized atomic force microscopy probe to measure sample topography and local magnetic field strength with nanoscale resolution. Optimizing MFM spatial resolution and sensitivity requires balancing decreasing lift height against increasing drive (oscillation) amplitude, and benefits from operating in an inert atmosphere glovebox.

Optimización de la resolución y sensibilidad de la microscopía de fuerza magnética para visualizar dominios magnéticos a nanoescala

Magnetic force microscopy (MFM) enables mapping local magnetic fields across a sample surface with nanoscale resolution. To perform MFM, an atomic force ...

Atomic Force Microscopy Cantilever-Based Nanoindentation: Mechanical Property Measurements at the Nanoscale in Air and Fluid

An atomic force microscope (AFM) fundamentally measures the interaction between a nanoscale AFM probe tip and the sample surface. If the force applied by the probe tip and its contact area with the sample can be quantified, it is possible to determine the nanoscale mechanical properties (e.g., elastic or Young&#39;s modulus) of the surface being probed. A detailed procedure for performing quantitative AFM cantilever-based nanoindentation experiments is provided here, with representative examples of how the technique can be applied to determine the elastic moduli of a wide variety of sample types, ranging from kPa to GPa. These include live mesenchymal stem cells (MSCs) and nuclei in physiological buffer, resin-embedded dehydrated loblolly pine cross-sections, and Bakken shales of varying composition.
Additionally, AFM cantilever-based nanoindentation is used to probe the rupture strength (i.e., breakthrough force) of phospholipid bilayers. Important practical considerations such as method choice and development, probe selection and calibration, region of interest identification, sample heterogeneity, feature size and aspect ratio, tip wear, surface roughness, and data analysis and measurement statistics are discussed to aid proper implementation of the technique. Finally, co-localization of AFM-derived nanomechanical maps with electron microscopy techniques that provide additional information regarding elemental composition is demonstrated.

Quantifying the contact area and force applied by an atomic force microscope (AFM) probe tip to a sample surface enables nanoscale mechanical property determination. Best practices to implement AFM cantilever-based nanoindentation in air or fluid on soft and hard samples to measure elastic modulus or other nanomechanical properties are discussed.

An atomic force microscope (AFM) fundamentally measures the interaction between a nanoscale AFM probe tip and the sample surface. If the force applied by ...

Determination of the Friction Coefficients of Icy Pavements Under Different Amounts of Snowfall

Ice on road surfaces can lead to a significant decrease in the friction coefficient, thus endangering driving safety. However, there are still no studies that provide exact friction coefficient values for pavements covered in ice, which is detrimental to both road design and the selection of winter road maintenance measures. Therefore, this article presents an experimental method to determine the friction coefficient of icy road surfaces in the winter. A British portable tester (BPT), also known as a pendulum friction coefficient meter, was employed for the experiment. The experiment was divided into the following five steps: the preparation of the equipment, the calculation and analysis of the snowfall, equipment calibration, friction coefficient determination, and data analysis. The accuracy of the final experiment is directly affected by the equipment accuracy, which is described in detail. Moreover, this article suggests a method for calculating the ice thickness for corresponding amounts of snowfall. The results illustrate that even patchy ice formed by very light snowfall may lead to a significant decrease in the friction coefficient of the pavement, thus endangering driving safety. Additionally, the friction coefficient is at its peak when the ice thickness reaches 5 mm, meaning protection measures should be taken to avoid the formation of such ice.

Here, we present a method for determining the friction coefficient of pavements with different ice thicknesses indoors. The complete procedure includes the preparation of the equipment, the calculation and analysis of the snowfall, equipment calibration, friction coefficient determination, and data analysis.

Determinación de los coeficientes de fricción de pavimentos helados bajo diferentes cantidades de nieve

Ice on road surfaces can lead to a significant decrease in the friction coefficient, thus endangering driving safety. However, there are still no studies ...