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Utilisation de rayonnement synchrotron Microtomographie d'enquêter sur Multi-échelle Forfaits microélectroniques en trois dimensions

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08:46 min

April 13th, 2016

DOI :

10.3791/53683-v

April 13th, 2016


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Chapitres dans cette vidéo

0:05

Title

1:28

Steps for Performing Tomography Scans at Beamline 8.3.2 (ALS, LBNL)

4:02

Setting up the Scan Parameters Using the Data Acquisition Computer

4:54

Results: Multi-scale Features Imaged in an Entire Micro-electronic Package Using Synchrotron Radiation Microtomography

6:11

Conclusion

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