Pt/C 燃料電池触媒のテストの準備と再現性とベスト ・ プラクティスに関して科学的なコミュニティの継続的な議論の対象です。提示された作品で白金触媒は、新規触媒システムのためのベンチマークとして使用することができますをテストするステップバイ ステップのチュートリアルを提示していきます。
プロトン交換膜の燃料電池 (PEMFC) 触媒を準備するステップバイ ステップのチュートリアルを紹介、Pt ナノ粒子から成る (NPs) サポート、高表面積炭素の回転ディスク電極 (RDE-TF) 薄膜で彼らのパフォーマンスをテストするには測定。TF RDE の方法論が広く触媒スクリーニング;それにもかかわらず、パフォーマンスを測定は時々 かなりの研究グループによって異なります。これらの不確実性は、新規触媒材料の進歩を阻害し、その結果、何人かの著者は説明可能なベスト プラクティスの方法とベンチマークの重要性。
ビジュアルのチュートリアルは、白金触媒の TF RDE テストの可能な落とし穴を強調表示します。合成および標準の白金触媒の評価試験プロトコールを導入した多結晶 Pt ディスクと共にベンチマーク触媒として使用できます。特に、本研究は、グラッシー カーボン (GC) 電極触媒膜の特性が TF RDE のテストで測定されたパフォーマンスにどのような影響を与えるかを強調表示します。薄く、均一な触媒膜を得るためには、だけでなく触媒調製もインク付着、乾燥のプロシージャが不可欠です。インクの pH の調整が、必要とどのように単純な制御の測定を使用して、フィルムの品質を確認できますをかもしれないことを示しています。TF RDE の再現性のある測定を取得した後は、表面積または Pt 質量決定の反応速度を正規化する必要は Pt (Pt wt % として表される) 触媒担体表面積電気化学的負荷を決定します。表面積測定、いわゆる CO ストリッピング、または水素 underpotential 蒸着 (Hupd) チャージの決定が標準です。白金担による、Pt(II) および紫外-可視計測する Pt(IV) の後続の変換で王水で消化を使用して簡単で、安いプロシージャが登場です。
風力や太陽光発電のような再生可能エネルギー源の使用の増加は、保存、大量の電気エネルギーに再変換する機能を必要とします。この点では、水素などの化学エネルギー キャリアのアプリケーションは有望な経路1です。水の電気分解は、固体効率的に再変換する水素電気に対し過剰な電気エネルギーから水素を生成できます。ただし、自動車などの大規模なアプリケーションに固体の貴重な金属 (PGM) 内容は、コストの削減に大幅に削減する必要があります。科学文献の TF RDE ハーフセル試験3に基づいてこれらの要件を満たす可能性を展示されるいくつかの触媒システム2が掲載されています。
TF RDE 測定 PEMFC 研究で非常に人気となり異なる PEMFC 触媒を比較する標準的な方法として今使用されます。ただし、同じような触媒の酸素還元反応 (ORR) 活動または電気化学的表面領域 (ECSA) で有意差しばしば異なる研究グループ4で報告されます。結果として、いくつかの研究グループの実験手順の改善と PEMFC 触媒5をテストする方法の最もよい練習のプロシージャの定義に取り組んでいます。最初、ロード触媒、電極、iR 補償等からの汚染のような要因は、強調表示された6,7,8;一方、近年、入ってきた性能に及ぼす触媒膜の特性はフォーカス9,10です。たとえば、両方の ORR 活性と ECSA 順番基板として使用されるグラッシー カーボン (GC) 電極触媒膜の均一性に影響を与える触媒インク組成に依存する表示でした。測定触媒インクにイソプロパノール添加時に Pt 表面領域の観測された増加は特に最初の光景を見て驚きだが、カーボン担体の重要性に向かってこれらの結果を指す濡れ。もう一つの重要な (そして相関) 要因は大量輸送です。TF RDE 電解質11,12,13低ガス溶解度による低電流密度に限定されます。したがって、それはしばしばこのような非常に薄い触媒層 (約1 μ m) で反応物質の輸送は、限られた役割を果たしていると見なされます。それにもかかわらず、非常に最近の作品で、インクの pH の調整は、自家製触媒14ORR 活性のかなりの増加につながることが示されました。これらの例は、TF RDE 計測、制御が必要と触媒によってそれが単一の標準プロトコル/レシピのテストを定義することは困難かもしれないことに注意するを強調表示します。
したがって、提示された作品で、合成および標準 Pt/C 燃料電池触媒をテストするためのステップバイ ステップの手順を説明します。TF RDE の電気化学測定法と同様、触媒合成、特性に、インクの準備と調整の手順が含まれます。プロシージャの目的はエラーの実験的落とし穴は、特定のソースに関する意識向上を図ると同様可能な Pt/C ベンチマーク触媒のためのレシピを提供します。
1. 50 wt % 白金触媒の合成
2. Pt NPs と白金触媒のキャラクタリゼーション
3 白金触媒の回転ディスク電極 (RDE) 測定
Pt NPs の暗い茶色、コロイド状懸濁液は、プロトコル セクション 1.1 (図 1、左) から取得されます。コロイド懸濁液は非常に安定にすることができます任意の沈殿せず 1 ヶ月以上保存することです。大きい Pt NPs は、NaOH 濃度18を減少させることによって合成されます。ただし、水酸化ナトリウムの濃度を減少させることによって、コロイド懸濁液がより安定となります。極端な例としては、例えば NaOH (図 1右) なしで Pt 前駆体を加熱すると完全に凝集 Pt NPs が得られます。
図 1: Pt NPs では、EG のコロイド懸濁液の写真。(左)よく分散 Pt NPs は、1.1 のプロトコルに従うことによって得られました。(右)凝集 Pt NPs NaOH 無処理 EG で Pt 前駆体を加熱して得られます。
よく分散した白金触媒は、図 2 aに示すように、セクション 1.2, プロトコルから取得されます。ときより少なく安定したコロイド懸濁液、例えば、大規模 Pt NPs の使用は、カーボン担体上 Pt NPs の重要な集積を観察する可能性があります (図 2 b)。
図 2: 50 wt.% Pt/バルカン触媒の TEM 画像。(、) 2 nm の Pt NPs がカーボン サポートの分散であります。(b) 4 nm Pt NPs は炭素担体上に凝集しました。
紫外-可視計測王水(プロトコル 2.4) で Pt 濃度の定量のための代表の結果は、図 3 aに表示されます。王水サンプルに新規2を追加すると、王水で Pt は Pt(IV) から Pt(II)、黄色着色されたソリューションにつながるに減る。図 3 bは、図 3 aのスペクトルから得られた検量線です。この検量線からサンプル混合物で Pt 濃度は 3.68 ppm として判断されます。
図 3: 紫外-可視計測王水で Pt 濃度の定量のための代表の結果。新規2 Pt 標準溶液 (5-20 μ L) を追加する前後に王水サンプル (、) 紫外-可視スペクトル。(b) 校正曲線は 402 で吸光度の違いをプロットすることによって得られる nm および 680 で吸光度 Pt 添加濃度に対して nm。サンプル ソリューション内 Pt 濃度が検量線の x 切片の値から決定されます。この図の拡大版を表示するのにはここをクリックしてください。
図 4 a bは、3.2 プロトコルに従って GC 電極上に作製した薄膜の均一系触媒の代表的な例です。GC 電極の表面全体が均一に任意の重要な集積なし触媒膜によって覆われています。図 4 cd は、空気触媒インクの乾燥による典型的な不均質触媒薄膜は。触媒は GC 電極の端の塊、いわゆるコーヒー リング19を形成します。
図 4: 写真と SEM GC 電極上に作製した薄膜の均質および不均質触媒のイメージ。(a、b)同質な触媒薄膜プロトコルに従うことによって作製しました。(c, d)不均質触媒薄膜乾燥空気触媒インクにより作製した「コーヒー リング」。(、)、(c) 薄膜触媒の全体写真があります。(b) と (d) が触媒の SEM 画像薄膜 GC ディスクの端で撮影します。
図 5は、H2飽和 RHE (プロトコル 3.3.5) に対して潜在的な参照電極の校正用電解液中における測定繰返しボルタモ グラムの例です。電位、電流密度が 0 mA cm-2正行くスキャンおよび否定的な行くスキャンの両方の平均値は、「0 V vs. RHE」として定義されます。
図 5: H2で繰返しボルタモ グラム飽和可能性の校正用電解液 RHE (50 mV s-1、1600 rpm) に対する参照電極。ここで電流密度は 0 mA cm-2両方スキャン肯定的なつもりで、可逆水素電極 (RHE) 対 0 V として定義されますスキャン負行く電位の平均 (赤点線を参照)。
図 6に示すように、サイクリックボルタモ Ar 飽和電解質と線形スイープ電位 (LSV) の O2飽和 50 wt %rde 測定 (プロトコル 3.3.7 と 3.3.8) Pt/バルカン触媒電解液。プロトコル手順 3.4.6 で十分な清掃サイクル後図 6aで赤の CV が得られます。触媒を十分にされないために、約 0.8 V Pt 酸化ピークの肩がよく洗浄触媒 (図 6 a, グレー CV) のそれよりより少なく鋭いです。O2飽和電解質で LSV の形状は、触媒薄膜 (図 6 b) の質に非常に敏感です。約-6 mA cm-2、および約 0.8 V LSV 曲線の肩に薄膜は、図 4 aO2拡散限界電流密度 (0.8 V) 以下のような均一な触媒を観察するときは、(図 6 b赤) を鋭いです。その一方で、O2の拡散限界電流密度が小さい LSV 曲線の肩が少ないシャープなとき触媒薄膜は不均質、図 4 cと同じくや GC 電極の表面が覆われていない完全に、触媒薄膜。
図 6: 50 wt %pt/バルカン触媒の「良い」と「悪い」のバラメーターの代表的な例です。Ar の (、) 環状のバラメーター飽和電解質 (50 mV s-1) です。(b) o LSVs2 ・飽和電解質 (1,600 rpm、50 mV/s、肯定的行くスキャン、バック グラウンド減算、iR 補償)。この図の拡大版を表示するのにはここをクリックしてください。
図 7に示すが、繰返しボルタモ グラム示された Hupd領域と Ar 飽和電解質に記録された (、) と CO 示されるストリップの料金 (b) ボルタモ グラムを除去します。50 wt %pt/バルカン触媒の両方の測定値が得られました。ピークの下の領域から Pt 表面積 (ECSA) の計算、ステップ 3.4.1 を参照してください。
図 7: 代表的な繰返しボルタモ グラム (a) と (b) の 50 wt %pt/バルカン触媒 (50 mV s-1) CO ストリッピング ボルタモ グラム。Hupd電荷と CO ストリッピングの料金は、それぞれの空の青、ピンク、強調表示されます。この図の拡大版を表示するのにはここをクリックしてください。
50 wt %pt/バルカン触媒 (ECSA、ORR 特定の活動および質量 0.9 VRHE) の RDE の測定結果を表 1にまとめます。商業 Pt/C 触媒同様 Pt 粒子サイズと白金担持と同様の結果は、同様の表のとおりです。
Pt 粒子サイズ | ECSA | ORR 特定活動 | ORR 集団活動 | |
[nm] | [m2 g-1Pt] | [Μ A cm-2Pt] | [G-1Pt] | |
50 wt.% Pt/バルカン | 2 | 102 ± 3 | 852 ± 66 | 879 ± 82 |
46 wt.% Pt/C (TKK) | 2-3 | 93 ± 3 | 738 ± 30 | 683 ± 31 |
表 1: 50 wt %pt/バルカン触媒および商業 46 wt % 白金触媒の TF RDE 測定の結果のサマリー 。測定値の標準偏差が表示されます。ECSA 電気化学的面積、ORR を = = 酸素還元反応、TKK 田中貴金属工業を =。
TF RDE 法による高度測定高表面積触媒 ORR 活性が触媒薄膜6,9,10,14,19 の均一性に依存することが知られています。.いくつかのグループは GC 電極に均一系触媒薄膜の作製方法を報告しているし、研究者の乾燥方法を最適化する必要があります慎重にこの研究領域20を入力するとき。固定方法複数の電極を同時に準備できる利点がある一方、触媒の厚いフィルムのコーティングで柔軟性を可能回転方法19を使用しています。静止乾燥方式の例として篠崎ら最近均一触媒薄膜は IPA 雰囲気10触媒インクを乾燥することによって作製したと報じた。このプロトコルでは触媒薄膜の作製は、彼らの方法に基づいています。ただし、触媒インクは、静止した大気 (プロトコル 3.3.2) ではなく加湿気流で乾燥されます。この修正法の利点は、乾燥状態には IPA と、バブラー水の比率を変更することで簡単に調整できることです。図 8は、加湿の状態を変更することで触媒の薄い膜の均一性を最適化することを示します。
図 8: 乾燥条件と GC 電極上に作製した薄膜を触媒の写真。イソプロパノール (IPA) と H2O、バブラーの間の比率は、乾燥条件を最適化するために変更されました。(a) 100% の IPA、IPA (b) 90%/10% H2O, (c) 80 %ipa/20% H2O, (d) 70 %ipa/30% H2O を (c) 特徴最高の乾燥条件にこの場合は、最も均一系触媒として薄膜は GC 電極上への作製。この図の拡大版を表示するのにはここをクリックしてください。
また触媒インクの pH が文学14で報告された薄膜均一系触媒を取得するように最適化する重要なパラメーターであることがわかった。図 9異なる pH と触媒インクの様々 な安定性を示します。1.3.3 プロトコルで Pt NPs の洗浄に塩酸を使用するので通常触媒インクが koh 添加せず酸性になります。酸性触媒インクが特に安定していないと Pt/C 触媒粒子のほとんどは 1 週間、超音波処理後底に沈殿します。いくつかの沈殿物が底に見られているにもかかわらず、中立インクは酸性のインクよりも安定です。アルカリ インクは最も安定した、沈殿物は、超音波処理後 1 週間見られない。この pH 依存性触媒インクの安定性は、pH14の増加とともに大きくなるゼータ電位、大きさによって説明されます。
図 9: 異なる pH と触媒インクの写真:(左) pH ≒ 4、(中央) pH ≒ 7、(右) pH ≒ 10。写真は、超音波処理後 1 週間が取得されます。酸性のインクの分散は中性とアルカリ性のインクよりもはるかに少ない安定しました。
触媒インクの安定性だけでなくだけでなく、得られた触媒薄膜の均一性は触媒インクの pH に依存します。酸性のインクが使用される (図 10 a, d)、高凝集触媒薄膜が得られました。SEM 画像が触媒の薄膜にいくつかの塊があることを明らかにする中立的なインクからアルカリ インク (図 10 b、c) を作製した触媒薄膜との間に目に見える差はない、大きな塊、アルカリ インク (図 10e, f) から得られる触媒薄膜に表示されないに対し、中立的なインクから取得されます。
図 10: 触媒膜の写真転送紙 (c)、SEM に GC 電極 (d-f) 触媒膜のイメージ。(d)酸性から作製した触媒膜 (pH ≒ 4) インク、中立 (pH ≒ 7) インクから (b, e) 触媒膜とアルカリから (c, f) 触媒膜 (pH ≒ 10) インク。この図の拡大版を表示するのにはここをクリックしてください。
触媒フィルム品質に加えてスキャン率4とセル抵抗の補償 ORR 活性定量8に影響します。測定体制で iR 補償なしセル抵抗は通常約 30 Ω です。それが電気化学測定装置 (図 11 a, b) の iR 補償による未満 3 Ω に減少します。O の2飽和電解質と iR 補償なしで測定 LSVs は図 11 cに比較されます。0.9 VRHE、ORR 活動が評価される周辺細胞の抵抗による顕著な潜在的なシフトを見てください。LSV のスキャン レートとしては、50 mV s-1、5を好む 20 mV s-1膜電極アセンブリ (Mea) はしばしば4定常条件の下でテストされその他のグループを選んだ。一般に、それ記述できます TF RDE 研究ほどスキャン レートより多くの測定になる可能な汚染を受けやすい。MEA のテストでかなりより高い電流が適用されます。特に、車載用高出力性能は特に興味深い21。オンライン iR 補償が適用されない場合重大なエラーにつながる可能性をスキャンします。
これらの違いのため直接 TF RDE 測定に基づく MEA の性能予測を慎重に取られるべき。TF RDE は、MEA のテストに代わるものではなく、スクリーン テスト固有の ORR 活性 PEMFC 触媒の高速化手法として見てはなりません。
図 11: 測定に及ぼす iR 補償します。(a、b)IR 補償なし「EC4 DAQ」プログラムのインタ フェースのスクリーン ショット。(c) LSVs は O2飽和電解質 iR 補償 (赤) と iR 補償 (グレー) (50 mV s-1, バック グラウンド減算 1,600 rpm) で測定されます。この図の拡大版を表示するのにはここをクリックしてください。
全体のプロシージャは集計されて図 12。議論の標準的な解析のメソッドに加えて得られたコロイド Pt NPs と白金触媒も調査できる小角 x 線散乱法 (SAXS)22や x 線吸収分光法などより高度な方法で(XAS)23。
図 12: 実験手順の概要です。対応する評価方法と各実験手順このプロトコルで制御可能なパラメーターが表示されます。TEM = 透過型電子顕微鏡、小角 x 線散乱小角 x 線散乱、EXAFS を = = 拡張 x 線吸収微細構造、XANES = x 線吸収微細構造、誘導結合プラズマ質量誘導結合プラズマ質量分析法、DL = 動的光散乱法、CCD を = =電荷結合素子、SEM 電子顕微鏡を =。この図の拡大版を表示するのにはここをクリックしてください。
著者が明らかに何もありません。
分析的と修士ブロック奨学金の形で Villum 財団からの支援を認めます。インホーフと修士を認めるトヨタ中央研究所、(株) 金資金を受けている欧州連合のホライゾン 2020年研究からからのサポートと革新プログラム マリー ・ スクウォドフスカ = キュリーの下で許諾契約なし 703366。
Name | Company | Catalog Number | Comments |
Ethylene glycol | Sigma-Aldrich | 293237-1L | 99.8% |
Sodium hydroxide | Fisher Chemical | AC134070010 | 98% |
Hexachloroplatinic(IV) acid hexahydrate | Alfa Aesar | 11051 | 99.9% |
Hydrochloric acid | Merck | 1003171000 | 37% |
Nitric acid | Any | 60% | |
Sulfuric acid | Any | 96% | |
Perchloric acid | Merck | 1005170250 | 70%, Suprapur |
Potassium hydroxide hydrate | Merck | 1050020500 | 99.995%, Suprapur |
Tin(II) chloride dihydrate | Sigma-Aldrich | 31669-100G | >98% |
Platinum standard for AAS | Sigma-Aldrich | 47037-100ML | 1000 mg/L ±4 mg/L |
Acetone | Alfa Aesar | 30698 | 99.5+% |
Isopropanol | Alfa Aesar | 36644 | 99.5% |
Carbon black | Cabot | Vulcan XC 72R | |
46 wt.% Pt/C | Tanaka Kikinzoku Kogyo | TEC10E50E | |
Ar gas | Air Liquide | 99.999% | |
O2 gas | Air Liquide | 99.999% | |
CO gas | Air Liquide | 99.97% | |
H2 gas | Air Liquide | 99.999% | |
Microwave reactor | CEM | Discover SP | |
Centrifuge | Corning | 6759 | |
Rotary evaporator | KNF | RC600 | |
Ultrasonic bath | Qualilab | USR 54 H | 35 kHz, 160/320 W |
Filter paper | Albet | DP595 055 | Retention rate 4-7 µm, φ55 mm |
Crucible | VWR | 459-0202 | 12 mL |
Lid for crucible | VWR | 459-0216 | φ35 mm |
pH meter | VWR | Symphony SP70P | |
Glass electrode (for pH meter) | Mettler Toledo | InLab Routine | |
Light scattering | Anton Paar | Litesizer | |
TEM microscope | FEI | Tecani Spirit | |
TEM grid | Quantifoil | N1-C73nCu20-01 | Classic carbon film, Cu 200 mesh |
TEM grid | Quantifoil | Classic holey carbon film, Cu 200 mesh | |
TEM grid | Quantifoil | N1-C74nCu20-01 | Classic lacey carbon film, Cu 200 mesh |
UV-vis spectrophotometer | Varian | CARY 5E | |
Saturated calomel electrode | Schott | B3510+ | |
Perfluorinated membrane | Fuel Cell Store | 591239 | Nafion 117 |
RDE rotator | Raiometer Analytical | EDI101 | |
Potentiostat | Nordic Electrochemisty | ECi 200 | |
Control and data acquisition program | Nordic Electrochemisty | EC4 DAQ | |
Data analysis program | Nordic Electrochemisty | EC4 VIEW |
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