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マイクロ電極へのエッチングナノアーキテクチャへの集束イオンビームリソグラフィー

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13:49 min

January 19th, 2020

DOI :

10.3791/60004-v

January 19th, 2020


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Title

0:51

Aligning the Focus Ion Beam (FIB) to the Silicon Probes

9:46

Writing an Automated Process for Etching

11:28

Results: FIB Etched Nano-architecture on the Surfaces of Intracortical Probes and Microelectrodes Affects Neuron Density and Electrophysiology

13:08

Conclusion

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