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David Nackashi has not added Biography.
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Quantitative electrochemical measurements using in situ ec-S/TEM devices.
Microscopy and microanalysis : the official journal of Microscopy Society of America, Microbeam Analysis Society, Microscopical Society of Canada Apr, 2014 | Pubmed ID: 24618013
Protochips, Inc.
Madeline Dressel Dukes1,
Nynke Albertine Krans1,
Katherine Marusak1,
Stamp Walden1,
Tim Eldred1,
Alan Franks1,
Ben Larson1,
Yaofeng Guo1,
David Nackashi1,
John Damiano1
1, Protochips, Inc.
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