في انهيار العزل الكهربائي الموضعي الوقت المعتمد في نقل الكترون المجهر: إمكانية لفهم آلية الفشل في الأجهزة الإلكترونية الدقيقة

8.6K Views

09:26 min

June 26th, 2015

DOI :

10.3791/52447-v

June 26th, 2015


Explore More Videos

100 TEM ULK

Chapters in this video

0:05

Title

1:35

Sample Preparation

2:30

Focused Ion Beam Thinning in a Scanning Electron Microscope

3:53

Sample Transfer to the Transmission Electron Microscope

4:29

Establishing the Electrical Connection

5:19

In Situ Time-dependent Dielectric Breakdown Experiment

6:50

Computed Tomography

7:22

Results: Failure Mechanism in Microelectronic Devices

8:34

Conclusion

Related Videos

article

07:37

الكشف عن العمليات الدينامية للمواد السائلة في السوائل عن طريق انتقال الإلكترون المجهري الخليوي

12.6K Views

article

10:31

كشف واستعادة البلاديوم والذهب والكوبالت المعادن من منجم الحضري عن طريق مجسات رواية / الممتزات مخصصة للمع النانو المسامات على شكل عجلة عربة

27.9K Views

article

08:46

باستخدام السنكروترون الإشعاع مجهري المعنية بالتحقيق في نطاق متعدد الحزم الإلكترونية الدقيقة ثلاثي الأبعاد

10.0K Views

article

11:14

توصيف شامل العيوب الممتدة في المواد أشباه الموصلات من خلال مجهر المسح الإلكتروني

13.4K Views

article

08:57

فخ تحميل البصري للعازل المجهرية الدقيقة في الهواء

8.9K Views

article

09:46

أسلوب للحصول على مقاطع سامسونج المسلسل من الكائنات المجهرية في مجهر إلكتروني

13.9K Views

article

08:55

أساليب الموقع السابقين والتحقيق في عين المكان للتحولات الهيكلية: حالة بلورة نظارات معدنية

8.4K Views

article

10:25

الطباعة الحجرية شعاع الإلكترون نانومتر ذات الأرقام المفردة مع مجهر إلكتروني انتقال المسح ضوئي لتصحيح الانحراف

10.0K Views

article

06:34

تطبيق عامل اقتران لتحسين خصائص عازلة من نانوكومبوسس القائم على البوليمر

5.7K Views

article

09:49

في الموقع الإرسال المجهري الإلكتروني مع التحيز وتصنيع العارضة غير المتماثلة على أساس مختلط على مراحل A-VOx

3.9K Views

JoVE Logo

Privacy

Terms of Use

Policies

Research

Education

ABOUT JoVE

Copyright © 2025 MyJoVE Corporation. All rights reserved