في انهيار العزل الكهربائي الموضعي الوقت المعتمد في نقل الكترون المجهر: إمكانية لفهم آلية الفشل في الأجهزة الإلكترونية الدقيقة
8.6K Views
•
09:26 min
•
June 26th, 2015
DOI :
June 26th, 2015
•Explore More Videos
Chapters in this video
0:05
Title
1:35
Sample Preparation
2:30
Focused Ion Beam Thinning in a Scanning Electron Microscope
3:53
Sample Transfer to the Transmission Electron Microscope
4:29
Establishing the Electrical Connection
5:19
In Situ Time-dependent Dielectric Breakdown Experiment
6:50
Computed Tomography
7:22
Results: Failure Mechanism in Microelectronic Devices
8:34
Conclusion
Related Videos
الكشف عن العمليات الدينامية للمواد السائلة في السوائل عن طريق انتقال الإلكترون المجهري الخليوي
12.6K Views
كشف واستعادة البلاديوم والذهب والكوبالت المعادن من منجم الحضري عن طريق مجسات رواية / الممتزات مخصصة للمع النانو المسامات على شكل عجلة عربة
27.9K Views
باستخدام السنكروترون الإشعاع مجهري المعنية بالتحقيق في نطاق متعدد الحزم الإلكترونية الدقيقة ثلاثي الأبعاد
10.0K Views
توصيف شامل العيوب الممتدة في المواد أشباه الموصلات من خلال مجهر المسح الإلكتروني
13.4K Views
فخ تحميل البصري للعازل المجهرية الدقيقة في الهواء
8.9K Views
أسلوب للحصول على مقاطع سامسونج المسلسل من الكائنات المجهرية في مجهر إلكتروني
13.9K Views
أساليب الموقع السابقين والتحقيق في عين المكان للتحولات الهيكلية: حالة بلورة نظارات معدنية
8.4K Views
الطباعة الحجرية شعاع الإلكترون نانومتر ذات الأرقام المفردة مع مجهر إلكتروني انتقال المسح ضوئي لتصحيح الانحراف
10.0K Views
تطبيق عامل اقتران لتحسين خصائص عازلة من نانوكومبوسس القائم على البوليمر
5.7K Views
في الموقع الإرسال المجهري الإلكتروني مع التحيز وتصنيع العارضة غير المتماثلة على أساس مختلط على مراحل A-VOx
3.9K Views
Copyright © 2025 MyJoVE Corporation. All rights reserved