Transmisyon Elektron Mikroskobu Situ Zamana bağlı Dielektrik Dağılımı In: Bir imkanı Mikroelektronik aygıtlar Başarısızlık Mekanizması Anlayın
Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.
8.7K Views
•
09:26 min
•
June 26th, 2015
DOI :
June 26th, 2015
•Bu videodaki bölümler
0:05
Title
1:35
Sample Preparation
2:30
Focused Ion Beam Thinning in a Scanning Electron Microscope
3:53
Sample Transfer to the Transmission Electron Microscope
4:29
Establishing the Electrical Connection
5:19
In Situ Time-dependent Dielectric Breakdown Experiment
6:50
Computed Tomography
7:22
Results: Failure Mechanism in Microelectronic Devices
8:34
Conclusion
İlgili Videolar
07:37
Sıvı Hücre Transmisyon Elektron Mikroskobu kullanarak Sıvılarda Malzemelerin Dinamik Süreçler Revealing
12.6K Views
08:11
Sinkrotron merkezli Sert X-ışını Microtomography kullanılması Akü Arıza Analizi
8.8K Views
08:46
Çok ölçekli Üç boyutlu Mikroelektronik paketleri Soruşturma Sinkrotron Radyasyon Microtomography kullanma
10.0K Views
11:14
Bir Tarama Elektron Mikroskobu tarafından Yarıiletken Malzemelerin Genişletilmiş Kusur Kapsamlı Karakterizasyonu
13.6K Views
10:29
Tarama Transmisyon Elektron Mikroskobu kullanılarak Sıvı Nano-ölçekli Nesnelerin dinamik Süreçlerinin İncelenmesi
12.6K Views
07:15
Için yeni bir yöntem
9.1K Views
11:33
Tüm elektronik Nanosecond çözüldü tarama tünelleme mikroskobu: tek Dopant şarj Dynamics incelenmesi kolaylaştırılması
9.4K Views
09:49
Karışık Fazlı a -VOx'e Dayalı Asimetrik Çapraz Çubukların Önyargılı ve İmalatlı Yerinde İletim Elektron Mikroskopisi
4.0K Views
08:31
Sample Preparation and Experimental Design for In Situ Multi-Beam Transmission Electron Microscopy Irradiation Experiments
1.6K Views
07:24
Kristal Malzemelerdeki Fonksiyonel Dopant/Nokta Kusurlarının Elektron Kanalize-Geliştirilmiş Mikroanaliz ile Nicel Atomik Saha Analizi
5.5K Views
JoVE Hakkında
Telif Hakkı © 2020 MyJove Corporation. Tüm hakları saklıdır