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干扰会通过增强或减弱分析信号或背景的方式使得对原子吸收(AA)进行测量过程中出现系统误差。可以将这些干扰为三大类:光谱干扰、化学干扰和物理干扰。

当来自其他元素或分子的信号与分析物信号发生重叠时,就会出现光谱干扰,从而错误地增强或减弱分析物的吸光度。这种干扰可以使用塞曼背景校正法、史密斯-希夫叶背景校正法或氘灯背景校正法来进行校正。

塞曼背景校正法通常会使用磁场将吸收线分为三个极化分量:两个 σ(偏移)和一个 π(未偏移)。可以通过交替使用磁场的方式来分别测量分析物和背景的吸光度,从而使其能够提高复杂基质的准确性。

史密斯-希夫叶背景校正法则是通过使用高电流脉冲空心阴极灯(HCL)来使得发射线变宽并发生自反转,从而使得中心分析线减弱。这将会导致位于线两侧的强发射被背景吸收。在正常电流和高电流的条件下都能够对吸光度进行测量,从而使其能够对分析物和背景信号进行区分。虽然它只需要一个光源,但是该方法的灵敏度会有所降低,特别是当自反转不足或恢复太慢时。

氘(D_2)灯背景校正法使用氘灯作为宽谱光源来校正原子吸收光谱(AAS)中的背景吸收。旋转镜在窄带空心阴极灯(HCL)和宽带氘灯之间交替。氘灯测量的是宽波长范围内的背景吸光度,而空心阴极灯测量的是特定波长下的分析物和背景吸光度。两个信号之间的差值能够得出分析物的吸光度。虽然价格低廉,但其缺乏高精度测量的精确度。

此外,高分辨率光谱仪可以最大限度地减少谱线重叠造成的光谱干扰。有时,可以在进行分析前使用溶剂反复地提取分析物。

当多余的基质成分与分析物相互作用时,就会发生化学干扰,这会降低原子化效率。可以向样品中添加化学改性剂(例如释放剂或络合剂),以增强原子化或防止干扰化合物的形成。常见的化学干扰包括因电离和难熔化合物形成而产生的干扰。

与分析物在相同的温度下电离的元素或化合物可以改变其电离。可以通过添加过量的含有更容易电离的元素的溶液来抑制电离,这能够抑制分析物的电离。

此外,分析物与样品基质中的其他物质之间的化学反应会形成不易雾化的非挥发性化合物。这阻碍了有利于吸收的自由原子的形成。通过添加化学竞争剂或使用极高温度的方式能够避免这种干扰。

校准标准可以用与真实样品相似的样品基质来制备,这有助于弥补基质所产生的化学干扰。

由非化学因素(例如气体流速变化或火焰温度变化)引起的物理干扰会对雾化或原子化过程产生影响。这些干扰可以通过使用内部标准或稀释样品来进行解决。更换样品基质并使用类似基质来制备校准标准可以进一步减少物理干扰。

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Atomic Absorption SpectroscopyInterferenceSpectral InterferenceChemical InterferencePhysical InterferenceZeeman Correction MethodSmith Hieftje MethodDeuterium Background CorrectionHollow Cathode LampAbsorbance MeasurementAnalytical SignalAtomization EfficiencyChemical ModifiersComplex Matrices

来自章节 14:

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