Un nuevo método para
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June 2nd, 2017
DOI :
June 2nd, 2017
•Capítulos en este video
0:05
Title
6:50
Conclusion
5:52
Results: In Situ Electromechanical Characterization of a Single-crystal Copper Specimen
0:45
Microfabrication of Silicon Frames
2:13
Laser Patterning of Metal Copper Specimens
3:38
Microdevice-based Electromechanical Testing Systems (MEMTS) Assembly
4:38
In Situ Transmission Electron Microscopy (TEM) Experiments
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