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Portador de por vida medidas en semiconductores a través del método de decaimiento de fotoconductividad de microondas

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April 18th, 2019

DOI :

10.3791/59007-v

April 18th, 2019


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Capítulos en este video

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Title

0:49

Preparation of the Sample and Aqueous Solutions

1:44

Preparation of the Measuring Equipment

3:36

Measurement and Data Processing

5:47

Results: Normalized and Calculated μ-PCD Decay Curves for the n-type 4H-SIC Sample in Air and Aqueous Solutions

6:29

Conclusion

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