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Carrier Lifetime Measurements in Semiconductors through the Microwave Photoconductivity Decay Method

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07:38 min

April 18th, 2019

DOI :

10.3791/59007-v

April 18th, 2019


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Carrier Lifetime

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Title

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Preparation of the Sample and Aqueous Solutions

1:44

Preparation of the Measuring Equipment

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Measurement and Data Processing

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Results: Normalized and Calculated μ-PCD Decay Curves for the n-type 4H-SIC Sample in Air and Aqueous Solutions

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Conclusion

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