Войдите в систему

Измерения жизни несущей в полупроводниках методом микроволновой фотопроводимости распада

29.8K Views

07:38 min

April 18th, 2019

DOI :

10.3791/59007-v

April 18th, 2019


Транскрипт

Смотреть дополнительные видео

146

Главы в этом видео

0:04

Title

0:49

Preparation of the Sample and Aqueous Solutions

1:44

Preparation of the Measuring Equipment

3:36

Measurement and Data Processing

5:47

Results: Normalized and Calculated μ-PCD Decay Curves for the n-type 4H-SIC Sample in Air and Aqueous Solutions

6:29

Conclusion

Похожие видео

article

15:58

Measurement of Coherence Decay in GaMnAs Using Femtosecond Four-wave Mixing

5.7K Views

article

10:35

Использование Микроволновая печь и макроскопических образцов диэлектрических твердых тел для изучения фотонных свойства неупорядоченных фотонных запрещенной зоны материалов

12.2K Views

article

14:01

Создание Записать-эффективность SNS солнечных батарей методом термического испарения и осаждения атомного слоя

42.7K Views

article

09:15

Свет Enhanced плавиковой кислоты пассивация: чувствительного метода для обнаружения объемного кремния дефекты

9.2K Views

article

10:26

Изготовление и характеристика сверхпроводящие резонаторы

10.4K Views

article

11:14

Исчерпывающая характеристика протяженных дефектов в полупроводниковых материалах на растровом электронном микроскопе

13.6K Views

article

07:41

Расширенный Композиционный анализ Nanoparticle-полимерных композитов с использованием прямого флуоресцентной томографии

7.6K Views

article

11:30

Рекомбинация Динамика в тонкопленочных фотоэлектрических материалов с помощью времяразрешенные СВЧ проводимости

11.6K Views

article

08:31

Свечение резонанс переноса энергии по изучению конформационных изменений мембранных белков выражается в клетках млекопитающих

12.0K Views

article

08:23

Оптимизация эксплуатационных параметров анализа длины теломер TAGGG

2.6K Views

JoVE Logo

Исследования

Образование

О JoVE

Авторские права © 2025 MyJoVE Corporation. Все права защищены