JoVE Logo

Sign In

לימודי ממוקדות באמצעות פנים בלוק טורי וקרן יון ממוקדת סריקה אלקטרון מיקרוסקופ

9.1K Views

09:09 min

August 10th, 2019

DOI :

10.3791/59480-v

August 10th, 2019


Transcript

Explore More Videos

150

Chapters in this video

0:04

Title

0:51

Sample Fixation and Processing for Electron Microscopy

3:51

Prepare Embedded Samples for Imaging

5:03

Imaging in the SBF-SEM (Serial Block Face Scanning Electron Microscopy) and Data Processing

6:22

Imaging in the FIB-SEM (Focused Ion Beam SEM)

7:49

Results: SBF-SEM and FIB-SEM Data

8:46

Conclusion

Related Videos

article

08:57

אלומת יונים ממוקדת כרסום מיקרוסקופיית אלקטרונים של רקמת המוח

27.9K Views

article

09:46

שיטה להשגת טורי זגוגית מקטעים של מיקרואורגניזמים במשחק במיקרוסקופ אלקטרונים הילוכים

14.1K Views

article

11:19

הדמיה הירארכי עם מודאלים מרובים סעיפים טורי למציאת מטרות תאיות ספציפיים בתוך כמויות גדולות

10.4K Views

article

07:47

ניתוח של המוח המיטוכונדריה באמצעות מיקרוסקופ סידורי בלוק פן אלקטרונים סורק

14.0K Views

article

11:16

מיקרוסקופיית אלקטרונים סריקה טורית של פרצוף בלוק (SBEM) לחקר קוצים דנדריטים

3.7K Views

article

שחזור וניתוח תלת מימד של מבנים עצביים תת-תאיים דקים באמצעות נתוני מיקרוסקופ אלקטרונים לסריקת קרן יונים ממוקדת

1.0K Views

article

שחזור וניתוח תלת מימד של מבנים עצביים תת-תאיים דקים באמצעות נתוני מיקרוסקופ אלקטרונים לסריקת קרן יונים ממוקדת

1.0K Views

article

08:04

הכנה תצפית של דגימות ביולוגיות העבה ידי סריקת הילוכים אלקטרונים טומוגרפיה

9.2K Views

article

09:47

זרימת עבודה טומוגרפיה של מערך לרכישה ממוקדת של מידע אודות אמצעי אחסון באמצעות סריקת מיקרוסקופיית אלקטרונים

4.7K Views

article

09:21

סריקת בלוק-פנים טורית מיקרוסקופ אלקטרונים (SBF-SEM) של דגימות רקמה ביולוגית

7.5K Views

JoVE Logo

Privacy

Terms of Use

Policies

Research

Education

ABOUT JoVE

Copyright © 2025 MyJoVE Corporation. All rights reserved