Fasci ionici focalizzati

Panoramica

Fonte: Sina Shahbazmohamadi e Peiman Shahbeigi-Roodposhti-Roodposhti, School of Engineering, Università del Connecticut, Storrs, CT

Man mano che i microscopi elettronici diventano più complessi e ampiamente utilizzati nei laboratori di ricerca, diventa più necessario introdurre le loro capacità. Il fascio iondo focalizzato (FIB) è uno strumento che può essere impiegato per fabbricare, tagliare, analizzare e caratterizzare materiali su scala mico- e nano-scale in un'ampia varietà di campi dalla nanoelettronica alla medicina. I sistemi FIB possono essere pensati come un fascio di ioni che può essere utilizzato per fresare (sputter), depositare e immaginare materiali su micro e nanoscala. Le colonne ioniche dei BB sono comunemente integrate con le colonne elettroniche dei microscopi elettronici a scansione (SEM).

L'obiettivo di questo esperimento è quello di introdurre lo stato dell'arte nelle tecnologie a fascio ionica focalizzato e di mostrare come questi strumenti possono essere utilizzati per fabbricare strutture piccole quanto le membrane più piccole che si trovano nel corpo umano.

Procedura

1. Fabbricazione di un filtro perforato da una membrana di ossido di silicio spessa 300 nm paragonabile in scala al citoplasma endoteliale dei reni

  1. Caricare la membrana preparata nella camera FIB. Le membrane sono spesso preparate da professionisti (durante la creazione di ponti di Wheatstone) e possono essere acquisite presso siti di fabbricazione di semiconduttori. Per prepararne uno da soli, è necessario utilizzare la fotolitografia. I dettagli di questo processo possono essere visti nel video di fotolitogra

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Tags
Focused Ion BeamFIBFabricateTrimAnalyzeCharacterizeMicro And Nano ScalesElectronicsMedicineBeam FormationLiquid Metal IonsVacuumElectromagnetic LensesSputteringImagingSite specific SputteringMillingGallium IonsFilamentVoltage ApplicationKinetic Energy Transfer

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0:08

Overview

1:08

Principles of Focused Ion Beams

4:42

Preparing and Loading the Sample

5:33

Preparing the FIB-SEM

6:36

Milling and Imaging

7:33

Results

8:01

Applications

8:56

Summary

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