Fonte: Faisal Alamgir, School of Materials Science and Engineering, Georgia Institute of Technology, Atlanta, GA
L'imaging di strutture microscopiche di materiali solidi e l'analisi dei componenti strutturali ripresi è nota come materialografia. Spesso, vorremmo quantificare la microstruttura tridimensionale interna di un materiale utilizzando solo le caratteristiche strutturali evidenziate da una superficie bidimensionale esposta. Mentre i metodi tomografici basati sui raggi X possono rivelare microstrutture sepolte (ad esempio le scansioni TC con cui abbiamo familiarità in un contesto medico), l'accesso a queste tecniche è piuttosto limitato a causa del costo della strumentazione associata. La materialografia basata sul microscopio ottico fornisce un'alternativa molto più accessibile e di routine alla tomografia a raggi X.
Nella Parte 1 della serie Materialography, abbiamo trattato i principi di base alla base della preparazione del campione. Nella Parte 2, esamineremo i principi alla base dell'analisi delle immagini, compresi i metodi statistici che ci consentono di misurare quantitativamente le caratteristiche microstrutturali e tradurre le informazioni da una sezione trasversale bidimensionale alla struttura tridimensionale di un campione di materiale.
Nella Figura 1 vediamo una sezione trasversale di un materiale poroso con una griglia sovrapposta ad esso. I punti di intersezione possono essere utilizzati per determinare p>. Il numero di punti di intersezione che si trovano su regioni scure (pori) è diviso per il numero totale di punti di intersezione per ottenere Pp e raccog.
Questi sono metodi standard per analizzare sezioni trasversali bidimensionali nei materiali al fine di estrarre informazioni tridimensionali. Abbiamo esaminato in particolare la stima della frazione volumetrica dei pori in un materiale e della granulometria media in un secondo materiale.
La preparazione materica del campione qui descritta è il primo passo necessario verso l'analisi della microstruttura interna di materiali tridimensionali utilizzando informazioni bidimensionali. Ad esempio, s.
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