科学者は常に、最高の精度と精度で測定値を記録するために最善を尽くしています。ただし、エラーが発生する場合があります。これらのエラーは、ランダムまたは体系的な場合があります。ランダムエラーは、測定プロセスの不一致や変動、または測定されている量自体の変動によって観察されます。このような誤差は、繰り返し測定で真の値より大きいか小さいかによって変動します。定規を使用してミミズの長さを測定する科学者を考えてみましょう。この測定プロセスにおけるランダムエラーは、科学者がスケールを読み取る方法に一貫性がない場合、またはミミズが動いている場合の結果である可能性があります。ランダムエラーは避けられません。ただし、試行を繰り返すことで平均化できます。
系統誤差は、持続的な問題から発生し、測定に一貫した不一致をもたらします。これらの誤差は、常に真の値より大きいか小さい傾向があります。これらは予測可能であり、主に本質的に役立ちます。たとえば、計量天びんが不適切に校正されていると、物体の重量が実際の値よりも一貫して重くなることがあります。ランダム誤差とは異なり、システム誤差は繰り返し測定して平均化することはできません。
このテキストは、Openstax, Chemistry 2e, Section 1.5: Measurement Uncertainty, Accuracy, and Precisionから抜粋したものです。
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