Neem contact met ons op.

Meld u aan

Deepak Goyal

Assembly Test and Technology Development Failure Analysis Labs

Intel Corporation

BIOGRAPHY

Deepak Goyal has not added Biography.

If you are Deepak Goyal and would like to personalize this page please email our Author Liaison for assistance.

INSTITUTIONS

Intel Corporation

JOVE ARTICLES

Using Synchrotron Radiation Microtomography to Investigate Multi-scale Three-dimensional Microelectronic Packages

Holly D. Carlton¹,

John W. Elmer¹,

Yan Li²,

Mario Pacheco²,

Deepak Goyal²,

Dilworth Y. Parkinson³,

Alastair A. MacDowell³

¹Materials Engineering Division, Lawrence Livermore National Laboratory,

²Assembly Test and Technology Development Failure Analysis Labs, Intel Corporation,

³Advanced Light Source, Lawrence Berkeley National Laboratory

Engineering

Privacy

Gebruiksvoorwaarden

Beleid

Neem contact met ons op.

Aanbevelen aan bibliotheek

JoVE Nieuwsbrieven

Onderzoek

JoVE Journal
Methoden Collecties
JoVE Encyclopedia of Experiments
Archiveren

Onderwijs

JoVE Core
JoVE Science Education
JoVE Lab Manual
JoVE Quiz
JoVE Playlist
Faculteitssite

Auteurs

Overzicht
Publicatieproces
Redactieraad
Omvang en beleid
Collegiale beoordeling
VEELGESTELDE VRAGEN
Verzenden

Bibliothecarissen

Overzicht
Getuigenissen
Abonnementen
Toegang
Middelen
Bibliotheek Adviesraad
VEELGESTELDE VRAGEN

Over JoVE

Overzicht
Leiderschap
Blog
JoVE Help Center
JoVE Sitemap

Auteursrecht © 2025 MyJoVE Corporation. Alle rechten voorbehouden