Skontaktuj Się z Nami

Zaloguj się

Deepak Goyal

Assembly Test and Technology Development Failure Analysis Labs

Intel Corporation

BIOGRAPHY

Deepak Goyal has not added Biography.

If you are Deepak Goyal and would like to personalize this page please email our Author Liaison for assistance.

INSTITUTIONS

Intel Corporation

JOVE ARTICLES

Using Synchrotron Radiation Microtomography to Investigate Multi-scale Three-dimensional Microelectronic Packages

Holly D. Carlton¹,

John W. Elmer¹,

Yan Li²,

Mario Pacheco²,

Deepak Goyal²,

Dilworth Y. Parkinson³,

Alastair A. MacDowell³

¹Materials Engineering Division, Lawrence Livermore National Laboratory,

²Assembly Test and Technology Development Failure Analysis Labs, Intel Corporation,

³Advanced Light Source, Lawrence Berkeley National Laboratory

Engineering

Prywatność

Warunki Korzystania

Zasady

Skontaktuj Się z Nami

Poleć Bibliotece

BIULETYNY JoVE

Badania

JoVE Journal
Methods Collections
JoVE Encyclopedia of Experiments
Archiwum

Edukacja

JoVE Core
JoVE Science Education
JoVE Lab Manual
JoVE Business
JoVE Quiz
JoVE Playlist
Strona Wydziału

Autorzy

Przegląd
Proces Publikacji
Rada Redakcyjna
Zakres i Zasady
Recenzja ekspercka
FAQ
Prześlij

Bibliotekarze

Przegląd
Referencje
Subskrypcje
Dostęp
Zasoby
Biblioteczna Rada Doradcza
FAQ

O JoVE

Przegląd
Kierownictwo
Blog
JoVE Help Center
JoVE Sitemap

Copyright © 2025 MyJoVE Corporation. Wszelkie prawa zastrzeżone