Todo-eletrônico nanossegundo-resolvido encapsulamento microscopia: Facilitar a investigação do Dopant única carga dinâmica
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11:33 min
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January 19th, 2018
DOI :
January 19th, 2018
•Mohammad Rashidi1,2, Wyatt Vine1, Jacob A.J. Burgess3,4,5, Marco Taucer1,2,6, Roshan Achal1, Jason L. Pitters2, Sebastian Loth3,4, Robert A. Wolkow1,2
1Department of Physics, University of Alberta, 2National Institute for Nanotechnology, National Research Council of Canada, Edmonton, 3Max Planck Institute for the Structure and Dynamics of Matter, 4Max Planck Institute for Solid State Research, 5Department of Physics and Astronomy, University of Manitoba, 6Joint Attosecond Science Laboratory, University of Ottawa
Capítulos neste vídeo
0:05
Title
0:52
Initial Setup of Microscope and Experiments
2:05
Preparation of the H-Si(100)-(2x1) Reconstruction
4:20
Assessing the Quality of the Pump-probe Pulses at the Tunnel Junction
6:32
Experiment 1: Time-resolved Scanning Tunneling Spectroscopy
7:55
Experiment 2: Time-resolved STM Measurements of Relaxation Dynamics
8:47
Experiment 3: Time-resolved STM Measurements of Excitation Dynamics
9:27
Results: Investigation of Single Dopant Change Dynamics
10:43
Conclusion
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