Tutto-elettronico nanosecondo-risolto scansione microscopio a effetto tunnel: Agevolare le indagini di drogante singola carica dinamica

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11:33 min

•

January 19th, 2018

DOI :

10.3791/56861-v

January 19th, 2018

•

Mohammad Rashidi¹^,², Wyatt Vine¹, Jacob A.J. Burgess³^,⁴^,⁵, Marco Taucer¹^,²^,⁶, Roshan Achal¹, Jason L. Pitters², Sebastian Loth³^,⁴, Robert A. Wolkow¹^,²

¹Department of Physics, University of Alberta, ²National Institute for Nanotechnology, National Research Council of Canada, Edmonton, ³Max Planck Institute for the Structure and Dynamics of Matter, ⁴Max Planck Institute for Solid State Research, ⁵Department of Physics and Astronomy, University of Manitoba, ⁶Joint Attosecond Science Laboratory, University of Ottawa

Riepilogo

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Ingegneria

problema 131

tutto elettronico risolta in tempo scansione microscopio a effetto tunnel

scanning tunneling spectroscopy

dinamiche di drogante

legami pendenti silicio

spettroscopia di pump probe tutto elettronico

singolo atomo carica dinamica risolta nel tempo

Capitoli in questo video

0:05

Title

0:52

Initial Setup of Microscope and Experiments

2:05

Preparation of the H-Si(100)-(2x1) Reconstruction

4:20

Assessing the Quality of the Pump-probe Pulses at the Tunnel Junction

6:32

Experiment 1: Time-resolved Scanning Tunneling Spectroscopy

7:55

Experiment 2: Time-resolved STM Measurements of Relaxation Dynamics

8:47

Experiment 3: Time-resolved STM Measurements of Excitation Dynamics

9:27

Results: Investigation of Single Dopant Change Dynamics

10:43

Conclusion

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