На месте SIMS и ИК спектроскопии Ну определенных поверхность, подготовленную мягкой посадки Масса выбранных ионов

18.0K Views

10:22 min

June 16th, 2014

DOI :

10.3791/51344-v

June 16th, 2014


Смотреть дополнительные видео

88

Главы в этом видео

0:05

Title

2:13

Mounting of COOH-SAM Surfaces on Gold for Soft Landing of Mass-selected Ions

3:07

Soft Landing of Mass-selected Ru(bpy)32+ onto COOH-SAM Surfaces

4:17

Analysis by In Situ TOF-SIMS Before and After Exposure to Reactive Gases

5:59

Analysis by In Situ FT-ICR-SIMS and IRRAS During and After Soft Landing

7:28

Results: Characterization of Organometallic Ions Soft Landed onto COOH-SAMs by In Situ SIMS and IR Spectroscopy

9:39

Conclusion

Похожие видео

article

07:32

Динамический Электрохимический Измерение ионы хлора

11.3K Views

article

09:48

Непосредственное определение характеристик гидратированных белков в воде SALVI и TOF-SIMS

8.2K Views

article

07:37

TiO

9.9K Views

article

09:56

На месте Характеристика Shewanella oneidensis MR1 биоплёнки Сальви и ToF-SIMS

8.9K Views

article

09:28

Изготовление и испытания каталитического аэрогели, подготовлен через быстрое сверхкритической экстракции

7.2K Views

article

07:30

Быстрый Nanoprobe сигнала повышение синтеза наночастиц золота в Situ

7.5K Views

article

09:36

В Situ электрод Lithiated сравнения: Дизайн четыре электрода для-operando импедансной спектроскопии

8.6K Views

article

07:55

Элементаль чувствительных обнаружение химии в батареи через мягкие рентгеновской спектроскопии поглощения и резонансных неупругого рентгеновского рассеяния

12.5K Views

article

07:00

Накопление и анализ ионов меди в медный купорос, покрытие решение

14.7K Views

article

07:53

Анализ сложных молекул и их реакций на поверхности с помощью кластерной индуцированной дезорпации/ионизации масс-спектрометрии

7.0K Views

JoVE Logo

Исследования

Образование

О JoVE

Авторские права © 2025 MyJoVE Corporation. Все права защищены