На месте SIMS и ИК спектроскопии Ну определенных поверхность, подготовленную мягкой посадки Масса выбранных ионов
18.0K Views
•
10:22 min
•
June 16th, 2014
DOI :
June 16th, 2014
•Смотреть дополнительные видео
Главы в этом видео
0:05
Title
2:13
Mounting of COOH-SAM Surfaces on Gold for Soft Landing of Mass-selected Ions
3:07
Soft Landing of Mass-selected Ru(bpy)32+ onto COOH-SAM Surfaces
4:17
Analysis by In Situ TOF-SIMS Before and After Exposure to Reactive Gases
5:59
Analysis by In Situ FT-ICR-SIMS and IRRAS During and After Soft Landing
7:28
Results: Characterization of Organometallic Ions Soft Landed onto COOH-SAMs by In Situ SIMS and IR Spectroscopy
9:39
Conclusion
Похожие видео
Динамический Электрохимический Измерение ионы хлора
11.3K Views
Непосредственное определение характеристик гидратированных белков в воде SALVI и TOF-SIMS
8.2K Views
TiO
9.9K Views
На месте Характеристика Shewanella oneidensis MR1 биоплёнки Сальви и ToF-SIMS
8.9K Views
Изготовление и испытания каталитического аэрогели, подготовлен через быстрое сверхкритической экстракции
7.2K Views
Быстрый Nanoprobe сигнала повышение синтеза наночастиц золота в Situ
7.5K Views
В Situ электрод Lithiated сравнения: Дизайн четыре электрода для-operando импедансной спектроскопии
8.6K Views
Элементаль чувствительных обнаружение химии в батареи через мягкие рентгеновской спектроскопии поглощения и резонансных неупругого рентгеновского рассеяния
12.5K Views
Накопление и анализ ионов меди в медный купорос, покрытие решение
14.7K Views
Анализ сложных молекул и их реакций на поверхности с помощью кластерной индуцированной дезорпации/ионизации масс-спектрометрии
7.0K Views
Авторские права © 2025 MyJoVE Corporation. Все права защищены