In-situ-SIMS und IR-Spektroskopie von gut definierten Oberflächen durch weiche Landung der Messe-Ionen ausgewählt Vorbereitet
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10:22 min
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June 16th, 2014
DOI :
June 16th, 2014
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0:05
Title
2:13
Mounting of COOH-SAM Surfaces on Gold for Soft Landing of Mass-selected Ions
3:07
Soft Landing of Mass-selected Ru(bpy)32+ onto COOH-SAM Surfaces
4:17
Analysis by In Situ TOF-SIMS Before and After Exposure to Reactive Gases
5:59
Analysis by In Situ FT-ICR-SIMS and IRRAS During and After Soft Landing
7:28
Results: Characterization of Organometallic Ions Soft Landed onto COOH-SAMs by In Situ SIMS and IR Spectroscopy
9:39
Conclusion
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