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その場 SIMSおよび質量選択されたイオンのソフトランディングで調製し明確に定義された表面の赤外分光法における

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June 16th, 2014

DOI :

10.3791/51344-v

June 16th, 2014


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Title

2:13

Mounting of COOH-SAM Surfaces on Gold for Soft Landing of Mass-selected Ions

3:07

Soft Landing of Mass-selected Ru(bpy)32+ onto COOH-SAM Surfaces

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Analysis by In Situ FT-ICR-SIMS and IRRAS During and After Soft Landing

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Results: Characterization of Organometallic Ions Soft Landed onto COOH-SAMs by In Situ SIMS and IR Spectroscopy

9:39

Conclusion

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