光学材料学第2部分:图像分析

资料来源:佐治亚州佐治亚州理工学院材料科学与工程学院费萨尔·阿拉姆吉尔，佐治亚州亚特兰大

固体材料微观结构的成像和成像的结构成分的分析称为材料学。通常，我们希望仅使用暴露的二维表面所证明的结构特征来量化材料的内部三维微观结构。虽然基于 X 射线的地形图方法可以揭示埋藏的微观结构（例如，我们在医学环境中熟悉的 CT 扫描），但由于相关仪器的成本，对这些技术的访问相当有限。基于光学显微镜的材料成像为 X 射线断层扫描提供了一种更容易访问和常规的替代方法。

在材料学系列的第 1 部分中，我们介绍了样品制备背后的基本原则。在第 2 部分中，我们将介绍图像分析背后的原则，包括允许我们定量测量微观结构特征并将信息从二维横截面转换为三维的统计方法。材料样品的结构。